奥林巴斯NDT新近为航空航天领域的用户推出了一种用于探测蒙皮叠边中裂纹的新型检测方案。这种方案利用先进的ECA技术探测材料表面以下的缺陷。这项OmniScan技术具有很多优势特性。大幅降低了检测时间,C扫描成像、探头可覆盖宽泛的区域,编码扫查,以及记录数据/设置的性能只是其中的几项。C扫描直观的成像特性不仅保证了更高的探出率及更好的再现性,而且可使用户在屏幕上更容易地辨别成排的铆钉及蒙皮叠边。因其覆盖宽泛的特性,探头的定位就显得不那么重要。而且,这个特性还可使用户在同一次扫查中检测到叠边两个侧棱的情况。相较使用常规方法进行同样的检测,这种检测方案在减少检测时间方面可谓是一个巨大的进步。
利用涡流阵列(ECA)技术检测蒙皮叠边中裂纹的优势特点
屏幕上清晰显示的叠边和铆钉可优化探头的定位。使用绿色/红色彩色调色板,有助于用户对数据进行判读。
视图中显示有C扫描、阻抗图及带状图。请注意叠边和铆钉在视图中清晰可见。
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