应用

半导体晶圆上的光刻胶残留

荧光用于在使用专门设计的滤光立方体照明时发光的样品。这用于检测污染和光刻胶残留。

MIX照明可以观察光刻胶残留和IC图案。

LCD彩色滤光片

这种观察技术适用于透明样品，例如LCD、塑料和玻璃材料。

MIX照明可以观察滤光片颜色和电路图案。

球墨铸铁

DIC是一种观察技术，其中样品的高度以浮雕形式显现，类似于对比度提高的3D图像；这种技术非常适合检查高度差异非常小的样品，包括金相组织和矿物。

绢云母

微分干涉对比（DIC）是一种观察技术，使用这种技术时，通常无法在明场中检测到的样品高度会以浮雕形式显现，类似于对比度提高的3D图像。这种技术非常适合检查高度差异非常小的样品，包括金相组织和矿物。