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显微镜解决方案
图像清晰

历史悠久的尖端光学技术

高数值孔径和长工作距离相结合

物镜对显微镜的性能至关重要。
MXPLFLN物镜通过同时最大化数值孔径和工作距离,为MPLFLN系列的落射照明成像增加了深度。在20X和50X倍率下,更高的分辨率通常意味着更短的工作距离,这就迫使在更换物镜过程中取出样品或回缩物镜。在许多情况下,MXPLFLN系列的3 mm工作距离解决了这一问题,可以避免物镜碰到样品,从而实现了更快的检查。

传统50倍物镜:NA 0.8,WD 1 mm/MXPLFLN50X:NA 0.8,WD 3 mm

表

了解有关MXPLFLN物镜的更多信息

出色的光学性能:
波前像差控制

物镜的光学性能直接影响观察图像的质量和分析结果。奥林巴斯UIS2高倍率物镜可很大限度减小波前像差,实现可靠的光学性能。

了解有关UIS2物镜的更多信息
波前效果不佳

波前效果不佳

波前效果良好(UIS2物镜)

波前效果良好(UIS2物镜)

卤素灯:颜色随光强变化而变化。

卤素灯:颜色随光强变化而变化。

LED:颜色与光强度一致,比卤素灯更清晰。

LED:颜色与光强保持一致,并且比卤素灯更清晰。
* 所有图像均使用自动曝光拍摄

稳定的色温:
高强度白光LED照明

BX53M将高强度白色LED光源用于反射光和透射光。无论强度如何,LED均保持稳定的色温。LED可提供高效、长寿命的照明,是材料学检测应用的理想选择。

品质优秀,性能卓越

支持精确测量:
自动校准

与数字显微镜类似,使用PRECiV时可以进行自动校准。自动校准消除了校准过程中的人为变化,从而实现更可靠的测量。自动校准使用的算法可根据多个测量点的平均值自动计算正确的校准值。这样就大幅减少了因不同人员操作所产生的差异,保持了稳定的准确性,提高了定期验证的可靠性。

支持精确测量:自动校准
半导体晶圆(二值化图像):阴影校正可使整个视场的照明均匀。

半导体晶圆(二值化图像):
阴影校正可使整个视场的照明均匀。

无缝拼接:
图像阴影校正

PRECiV软件具有阴影校正功能,可校正图像角落四周的阴影。使用光强阈值设置时,阴影校正有助于更准确的分析。

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