Evident LogoEvident Logo

显微镜解决方案
快速

实时金属和非金属颗粒分析

快速实时分析与审查

借助创新偏振技术,CIX100 可对反光(金属)和不反光(非金属)颗粒(粒径范围从 2.5 µm 到 42 mm)进行图像采集和精准实时分析,而且只需扫描一次即可。

计数和分类颗粒在扫描过程中实时显示,并按尺寸类别进行分组,支持测试失败时的快速决策。

一站式扫描实现高通量检测

基于波长分离和颜色的创新偏振技术通过一次扫描即可检测反射(金属)和不反射(非金属)颗粒,为高通量实验室检测带来多重优势。

  • 检测反射(金属)和不反射(非金属)颗粒的速度是传统方法(需分别获取两张图像)的两倍。
  • 消除了光路中的活动部件(例如偏振器),从而避免影响系统稳定性并导致错误的结果。
  • 提高检测颗粒数量,降低每次检测的成本
CIX100 的照明系统可分离反射(金属)颗粒和不反射(非金属)颗粒,只需一次扫描即可。

创新的照明系统通过一次扫描即可分离反射(金属)颗粒和不反射(非金属)颗粒。

以真实色彩查看颗粒

启动真实颜色模式以查看颗粒的原始颜色,从而获得更多信息以识别颗粒类型(金属或非金属)。

一站式扫描可在偏振光下将所有反射颗粒显示为蓝色,以表明它们是金属。 在真实色彩模式下,反射颗粒的蓝色被忽略,从而在明场图像中显示所有颗粒的真实颜色。 原本蓝色的材料会保持蓝色,而金属则会展现出金属光泽和该材料特有的反射效果。

这些有用的视觉图像可以帮助您更好地了解每种颗粒的性质,并快速确认颗粒类型。

左图: CIX100 系统在检测和分析过程中观察到的颗粒。 右图: 相同颗粒在真实颜色下的显示效果。

系统在检测和分析过程中观测到的颗粒。 蓝色表明该颗粒为金属。 在审查模式下,使用 U-ANT 滤光片和色彩校正模式以真实颜色观察到的同一颗粒。 该颗粒被确认为金属。

自动合并和分析大颗粒。

自动合并和分析大颗粒。

智能颗粒处理

CIX100 可对大小颗粒(2.5 μm 至 42 mm)进行实时处理和分类,符合国际标准,并能自动重建大颗粒的图像。 可以分析明亮背景的暗颗粒和深色背景的亮颗粒。

识别过滤器覆盖范围

在样品检测开始阶段创建样品概览图像,并以低倍显示整个过滤器,使用户能够在检测开始前识别过滤器覆盖范围或颗粒聚集。 当过滤器分配高于预期时,系统会自动通知用户,以便他们可以快速应对。

概览图像可识别过滤器覆盖率和颗粒聚集。

概览图像可识别过滤器覆盖率和颗粒聚集。

CIX100 检测系统的直接反馈结果

直接结果反馈

自动分析污染物,并根据所选标准分成不同的尺寸等级,超过预设限值的等级会用颜色标识。 显示每个尺寸等级的可接受颗粒计数,即使在扫描整个膜之前,也能提前进行样品验证 (OK) 或拒绝 (NOK)。

PRECiV CIX 软件可根据电动汽车和医疗器械行业的要求支持评估各种颗粒的批准限值。 可以打开声音提示,以便当批准结果为 NOK 或检查完成时通知用户。

超越传统算法的分析

CIX100 集成 TruAI 深度学习技术,能够实现超越传统算法的图像分析。 将经过训练的神经网络应用到样品上,以获得可再现性更高、更稳健的分析。 TruAI 解决方案能够区分不同类型的颗粒,例如反射颗粒和非反射颗粒。

CIX100 检测系统的 TruAI 解决方案
 CIX100 系统采用直观的工具,可以修改清洁度检测数据

提供数据洞察,加快决策速度

CIX100 结合了用于修订检测数据的直观工具与快速、引导式的颗粒审查功能。 一键式重新分类确保灵活性并支持国际标准。 检测污染物的缩略图可直接链接到尺寸测量数据,便于进行数据审查。

在审查过程中,会自动更新所有视图和尺寸类别中的污染物检测结果。 由于能够清晰呈现所有相关的检测结果,从而节省了时间。

趋势分析

可以随时间进行数据统计分析,并图形化显示。

CIX100 检测系统的趋势分析
CIX100 检测系统的检测数据一览表

检测数据概览

  • 清楚地呈现图像、数据和结果,便于立即判断是否需要再处理。
  • 提供共多种可选择视图,检测数据一目了然
  • 按从大到小的顺序排列所有类型的颗粒图像(包括反射性和非反射性颗粒)。

审查、修正和重新计算

通常建议在技术清洁度检测过程中对结果进行手动检查和审查,操作界面使颗粒数据的交互式校正变得轻松快捷。

CIX100 检测系统的交互式粒子数据修正
CIX100 技术清洁度检测系统的高度测量解决方案

高度测量解决方案

CIX100 提供扩展聚焦成像 (EFI) 功能,可捕捉高度超出物镜景深的污染物和颗粒的图像,并将这些图像叠加在一起,从而创建全聚焦图像。

我们的高度测量解决方案进一步增强了 CIX100,包括 20X 物镜* 和专用软件,以满足 VDA 19 的高度测量要求。 对于选定的颗粒,既可自动测量,也可手动测量。 计算值作为附加数据字段列在结果表中。

*必须与高度测量解决方案许可证分开订购。

Sorry, this page is not available in your country

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Sorry, this page is not available in your country