半导体与平板显示器检测显微镜
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Evident半导体晶圆和平板显示器检测显微镜可提升效率水平，从而确保用户可以缩短启动时间、轻松操作、进行故障分析以及实现扩展性。 我们的系列半导体检测显微镜专为安全转移晶圆而设计，非常适合于半导体缺陷检测。 除自动晶圆处理系统外，还可使用数码显微镜对半导体内部的微小缺陷进行详细分析。 请通过下文了解我们的全系列平板显示器和半导体检测显微镜。 |
MX63和MX63L显微镜系统经过优化，适用于最大300 mm晶圆的高质量检测。 它们的模块化设计兼容平板显示器、电路板和其他大型样品，让您可以选择所需的组件，根据自己的应用量身定制系统。
优化您的晶圆检测显微镜和工作流程了解半导体晶圆制造商如何通过优化设备和工作流程来改进晶圆检测质量控制。 |  |
近红外成像在电子设备和半导体检测中的功能了解Evident检测显微镜如何为半导体检测强化近红外成像。 | |
晶圆样品上的电路图案检测了解用于半导体/FPD检测的Evident MX63/MX63L工业显微镜如何有效替代传统的晶圆样品观察方法。 |
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