显微镜解决方案
图像质量
为质量检验提供精细的光学和数字成像
奥林巴斯研发高质量光学器件和先进数字成像技术的悠久历史成就了具有卓越测量精度的一系列可靠光学器件和显微镜。
高数值孔径和长工作距离相结合
物镜对显微镜的性能至关重要。新的MXPLFLN物镜通过同时实现数值孔径和工作距离最大化，为MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍时，分辨率越高，通常意味着工作距离越短，这会迫使样品或物镜在物镜交换过程中缩回。在许多情况下，MXPLFLN系列的3 mm工作距离消除了这一问题，使检查速度更快，物镜碰到样品的可能性更小。
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出色的光学性能：波前像差控制
物镜的光学性能直接影响观察图像的质量和分析结果。奥林巴斯UIS2高倍率物镜可很大限度减小波前像差，实现可靠的光学性能。
不良波前 |
合格波前（UIS2物镜） |
一致的色温：高强度白光LED照明
MX63系列利用高强度白光LED光源进行反射和透射照明。无论光强度如何，LED光源均可保持始终如一的色温，从而实现可靠的图像质量和色彩再现。LED系统可提供非常适合材料科学应用的高效、耐用照明。
颜色随光强变化而变化。
颜色与光强保持一致，并且比卤素灯更清晰。
* 所有图像均采用自动曝光采集
精确测量：自动校准
与数字显微镜类似，使用PRECiV软件时可以进行自动校准。自动校准有助于消除校准过程中的人为偏差，从而实现更可靠的测量。自动校准使用的算法可以根据多个测量点的平均值自动计算正确的校准值。这很大限度减小了因不同操作员所导致的偏差，并保持一致的准确性，提高了常规验证的可靠性。
完全清晰的图像：图像阴影校正
PRECiV软件具有阴影校正功能，可解决图像角落周边阴影问题。当与强度阈值设置一起使用时，阴影校正可以提供更精确的分析。
半导体晶圆（二值化图像）
右图：阴影校正可在整个视野中产生均匀的照明效果。