我们使用新的制造技术生产物镜,同时改进了数值孔径、工作距离和像差校正。 其高数值孔径(NA)和3
mm工作距离改善了样品传输,使自动化半导体检测具有更大的通量。 有20倍和50倍物镜可供选择。
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MXPLFLN50XBD
MXPLFLN50XBD是我们推出的第一款50倍物镜,其数值孔径为0.8,工作距离为3
mm。与LMPLFLN100X物镜相比,由于在50倍放大倍率下的数值孔径为0.8,所以观察范围要大四倍。
MXPLFLN20XBD
MXPLFLN20XBD是我们推出的第一款20倍物镜,其数值孔径为0.55,工作距离为3 mm。 该物镜的高数值孔径和高图像平场性可产生非常适合拼接的同质图像。
放大倍率(X) | 20 |
---|---|
数值孔径(NA) | 0.55 |
工作距离(WD,mm) | 3 |
物镜视场数 | 26.5 |
浸泡介质 | 空气/干燥 |
受载弹簧 | N/A |
校正环 | N/A |
校正环的校正范围 | N/A |
光圈 | N/A |
色差的校正水平 | 半复消色差(FL) |
齐焦距离(mm) | 45 |
后焦面(BFP)位置 | -8.0 |
螺纹类型 | W26 × 0.706 |
明场(反射) | 良好 |
明场(透射) | 良好 |
暗场(反射) | 良好 |
暗场(透射) | N/A |
DIC(微分干涉)(反射) | 良好 |
DIC(微分干涉)(透射) | N/A |
相衬 | N/A |
浮雕相衬 | N/A |
偏光 | 不足 |
荧光(B,G激发) | 良好 |
UV荧光(365 nm处) | N/A |
多光子 | N/A |
TIRF(全内反射荧光) | N/A |
IR(红外) | N/A |
WLI(白光干涉) | N/A |
自动聚焦 | 良好 |
放大倍率(X) | 50 |
---|---|
数值孔径(NA) | 0.8 |
工作距离(WD,mm) | 3 |
物镜视场数 | 26.5 |
浸泡介质 | 空气/干燥 |
受载弹簧 | N/A |
校正环 | N/A |
校正环的校正范围 | N/A |
光圈 | N/A |
色差的校正水平 | 半复消色差(FL) |
齐焦距离(mm) | 45 |
后焦面(BFP)位置 | -8.0 |
螺纹类型 | W26 × 0.706 |
明场(反射) | 良好 |
明场(透射) | 良好 |
暗场(反射) | 良好 |
暗场(透射) | N/A |
DIC(微分干涉)(反射) | 良好 |
DIC(微分干涉)(透射) | N/A |
相衬 | N/A |
浮雕相衬 | N/A |
偏光 | 不足 |
荧光(B,G激发) | 良好 |
UV荧光(365 nm处) | 良好 |
多光子 | N/A |
TIRF(全内反射荧光) | N/A |
IR(红外) | N/A |
WLI(白光干涉) | N/A |
自动聚焦 | 良好 |
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