涡流密度在材料的整个深度上并不是一成不变的。表面的密度最大,随着深度的增加,密度呈指数下降(“趋肤效应”)。标准穿透深度方程(如右图所示)用于解释涡流检测的穿透能力,即随着频率、电导率或渗透率的增加,穿透能力会下降。对于较厚的均质材料,标准的穿透深度是涡流密度为材料表面值的37%时的深度。为了检测材料中非常浅的缺陷,或为了测量薄板的厚度,需要使用非常高的频率。同样,为了探测到表面以下的缺陷,或检测高导电性、磁性或厚材料时,必须使用较低的频率。
其中:
d = 标准穿透深度(mm)
f = 检测频率(Hz)
mr = 相对磁导率(无量纲)
s = 电导率(% IACS)