4.4 一般双晶探头的设置程序

装有分开放置的发射晶片和接收晶片的双晶探头，通常用于腐蚀检测应用、探测铸件中多孔性的检测，以及涉及粗糙表面的检测或高温检测。双晶探头校准的一般程序基本上与接触式探头的校准程序相同，4.2小节中说明了两步校准程序，下面是相关的附加注释。

1. 在使用双晶探头时，要记住将探伤仪的脉冲发生器设置为“双晶”模式。

2. 在使用双晶探头进行厚度测量时，一般要将增益设置得非常高，以使屏幕上出现的底面回波的上升沿看起来几乎是垂直的线段。这是因为双晶探头生成的多个周期回波造成的。闸门的设置要能读出上升沿的数据，而不是回波峰值。

不太可靠的峰值测量	推荐使用的上升沿测量

3. 因为双晶探头的V形声程特色，也因为一般缺陷探伤仪中不包含V形声程校正软件，在测量薄材料的厚度时，会出现一些非线性现象。通过核查不同厚度的参考试块，可以确定在某个特定设置中发生这种现象的可能性程度。

4. 双晶探头的零位偏移值将随着探头温度的升高而增加。如果被测样件的温度比校准温度高出很多，则需要在较高温度的工作环境中重新进行零位校准。

一般延迟块和水浸探头的设置程序