相控阵检测

相控阵技术


相控阵技术可以生成超声声束，声束参数可以通过软件进行控制，如：角度、焦距和焦点大小。此外，这种声束可在较宽的晶片阵列上实现多路转换。这些性能为检测应用拓展了一系列新的可能性。例如，可以快速改变声束角度，以在无需移动探头的情况下对工件进行扫查。相控阵技术还允许更换多个探头和机械组件。使用角度可变化的声束对工件进行检测，无论缺陷方向如何，都能在优化信噪比的同时，提高探测性能。

相控阵技术的优点

相控阵技术具有以下优点：

• 使用软件控制声束角度、焦距和焦点大小
• 使用以电子方式控制的单个小巧的多晶片探头可以完成多角度检测
• 检测具有复杂几何形状工件的灵活性更高
• 无需移动部件而完成高速扫查

相控阵软件

功能齐全的A扫描，B扫描和C扫描


OmniScan PA的建立基于OmniScan UT功能集，并提供功能齐全的A扫描，B扫描和C扫描显示。

功能齐全的扇形扫查

• 实时体积校正视图
• 高于20 Hz的刷新率（最高40 Hz）

高级实时数据处理

• 采集数据时，实时数据插值改进了缺陷的空间显示
• 用户可选的高通、低通滤波器提高了A扫描和成像质量
• 投影功能可使操作人员查看垂直定位的图像
• 同时显示A扫描和扇形扫描图像

校准程序和参数

所有校准程序均由分步菜单指导完成；菜单使用“下一步”和“后退”按钮导航。

用于配置组和聚焦法则的向导

• 在配置组的向导中，您可以输入所有探头、工件和声束参数，并一步生成所有聚焦法则，而不是每更改一次参数就生成聚焦法则。
• 分步进行设置的方式会避免用户忘记对参数进行修改。
• 在线帮助提供有关要设置参数的一般信息。

多组选项

现在，可以使用两种不同的配置来管理一个以上的探头：不同的夹角，不同的扫查类型，不同的检测区域以及不同的其他参数。

用于多组检测的可行性配置

A. 使用一个含64个或更多晶片的相控阵探头，并创建2个不同的组：

• 45º线性扫查使用来自底面的反射声波覆盖上面部分
• 60º线性扫查覆盖下面部分

B. 使用一个含64个或128个晶片的相控阵探头，并创建2个不同的组：

• 在较低增益下进行0º线性扫查
• 在较高增益下进行0º线性扫查

C. 使用一个含64个或128个晶片的相控阵探头，并创建3个不同的组：

• 45º线性扫查使用来自底面的反射声波覆盖上面部分
• 60º线性扫查覆盖下面部分
• 从35º到70º的扇形扫查，可提高检出率

D. 使用两个含16个或64个晶片的相控阵探头，并创建2个不同的组：

• 从35º到70º的扇形扫查，使用来自底面的反射声波，从工件的左侧进行检测
• 从35º到70º的扇形扫查，使用来自底面的反射声波，从工件的右侧进行检测