概述
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提供高级功能的OmniScan X3 64相控阵和TFM探伤仪
威力强大,小巧便携
OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。 |
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提供创新型TFM功能的OmniScan X3相控阵探伤仪
信心满满,昭然可见
OmniScan X3相控阵探伤仪是一个完备的相控阵工具箱。 其性能强大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和高级可视化能力,在其高质量成像功能的支持下,可使您更加充满信心地完成检测。 |
创新、高效的TFM(全聚焦方式)
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虚拟协作,几乎无处不在X3远程协作服务(X3 RCS)使您能够共享屏幕,允许远程协作者控制装置,并与几乎位于世界任何地方的参与者主持视频会议。 校准更完善、更迅速OmniScan X3校准器可以高速跟踪信号。 在几分钟内完成多组校准。 看似熟悉、实有提升的OmniScan操作体验拥有OmniScan或接受过OmniScan培训的用户将很容易过渡到OmniScan X3相控阵探伤仪,而新用户会发现很容易学会如何操作OmniScan X3。 |
了解更详细信息
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实现速度高达4倍的TFM(全聚焦方式)使用64晶片探头时,TFM(全聚焦方式)的采集速度可最多提高到4倍。 与拥有32个脉冲发生器的型号相比,OmniScan X3 64探伤仪得益于其更大的孔径能力,使检测效率有了显著的提高。 |
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OmniScan X3系列
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为您的NDT工作流程提供完整的解决方案
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应用
HTHA检测解决方案利用我们配备高灵敏度探头和OmniScan X3 64探伤仪先进成像功能的完整且易于使用的解决方案,更早地检测高温氢致(HTHA)。我们专为HTHA设计的一系列线性和双晶线阵探头可广泛覆盖焊缝、热影响区和母体材料。它们与各种扫描仪和编码器兼容,可进行全面、高效的HTHA检测。 |
机载软件
MXU ![]()
PAUT、TOFD和TFM检测和分析软件
OmniScan X3探伤仪的机载MXU软件提供了简化的菜单和先进而直观的工具,可以指导您使用UT、PA、TOFD和TFM方法完成从设置到报告的整个检测工作流程。 |
使用内置工具简化您的NDT(无损检测)工作流程 | ||
1. 扫查计划执行步骤 1、2、3,在仪器上设置您的检测 2. 校准使用内置工具进行完全合规的校准 | 3. 采集在检测过程中查看实时扫查结果 4. 分析快速而自信地解读您的数据 |
实时TFM(全聚焦方式)包络处理简化了缺陷的表征和定量仪器独特的包络处理功能可以生成高分辨率的TFM(全聚焦方式)图像。图中的信号指示干净、清晰,在背景噪声的衬托下,显得更加鲜明突出。最多可显示4种TFM(全聚焦方式)图像,有助于缺陷的解读和定量。 |
拓展您的PA和TFM检测能力提升了您的潜力,助力您迎接客户的挑战,为更广泛的应用开发出新程序。让您获得驱动高级PA探头的能力,如奥林巴斯的双晶线阵、双晶矩阵探头或定制探头,以便在检测具有声学挑战性的材料时,获得质量更佳的成像效果。 |
![]() Slide to compare these OmniScan models | 当精确度至关重要时在更低的频率和更宽的带宽上清晰地观察
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在错误发生之前修复错误,提高了PAUT和TOFD的数据质量和可靠性OmniScan X3探伤仪的耦合核查通道功能与ScanDeck模块的实时耦合和扫查速度指示器配合使用,有助于检测人员在保存文件之前监控数据质量。* 有关耦合质量的数据被记录下来,以备日后查阅。 * 自2020年7月起,ScanDeck模块被装配在某些扫查器上,如AxSEAM扫查器。 |
避免在大型缺陷指示上出现信号饱和提供800%波幅范围,可以轻松调整增益通过避免进行不必要的重新扫查,提高了检测效率。800%的高波幅范围可使您在后处理中将较大缺陷指示(例如未融合)的增益调整到参考水平,从而可避免进行重新扫查。 |
提前确认TFM声波覆盖范围声学影响图(AIM)可以基于TFM(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反射体,提供灵敏度的机载可视化模型。声学影响图(AIM)工具使您在创建扫查计划时不再进行猜测,而是可以根据AIM进行相应的调整。
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与之前的OmniScan文件完全兼容,为您的检测工作提供了方便您可以重新使用以前版本的OmniPC软件中的数据文件,以及OmniScan MX2、SX和MX探伤仪的设置文件。为了使您轻松过渡,OmniScan .ops设置文件与OmniScan X3探伤仪相兼容,.opd数据文件与OmniPC 5和WeldSight软件相兼容。 |
TOFD直通波处理直通波同步提高了衍射时差(TOFD)数据的可读性。
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OmniPC 5软件
OmniPC ![]()
相控阵和超声检测数据分析PC软件
OmniPC分析软件是OmniScan X3探伤仪的基于计算机的配套软件。OmniPC软件是一种由检测人员创建的检测工具,提供了可以进行所有基本数据分析和报告制作的强大的功能和性能。 |
为什么要选择OmniPC?
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熟悉的OmniScan用户界面OmniPC软件的用户界面类似于OmniScan X3的机载软件,可优化您的学习曲线。 | ![]() |
可简化PAUT和TOFD数据分析的灵活的工具修正采集过程中出现的疏漏OmniPC软件在检测后分析的过程中可以更改夹角、扫查偏移和步进偏移,以提高数据的准确性,并避免重复采集。 可调整的闸门和动态读数闸门A、闸门B和闸门I可提供各种读数列表(用于腐蚀检测)。 重播采集可随时调整增益,应用自动80%,并滑动数据光标。
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技术规格
OmniScan X3系列的技术规格以下技术规格适用于所有OmniScan X3和OmniScan X3 64型号。 • 数据技术规格 • 声学技术规格 • TFM/FMC • 操作环境
数据技术规格
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TFM/FMC
操作环境
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