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无损检测解决方案
概述

OmniScan X4多技术系列仪器是一种功能强大的便携式解决方案,其高速度和多功能性可提升您的工作效率,同时增强您对评估工作的信心。利用其高级相控阵功能、高效的全聚焦方式(TFM) 和创新型相位相干成像(PCI)技术,可以探测和解读具有挑战性的缺陷,并通过更早地识别损伤来确保资产的完整性。

欢迎下载OmniScan X4产品信息说明册

性能卓越,值得信赖

每台OmniScan X4仪器堪称一个无所不包的多技术检测工具箱,可使您利用多种超声检测技术。利用其检测和测量功能,可在损坏变得严重之前准确识别和评估损坏的严重程度,从而保护那些容易出现裂纹或腐蚀的焊缝、部件和资产。

使用PCI进行可靠评估

在探测和突出显示以往难以检测的缺陷时,如钩状裂纹和应力腐蚀开裂(SCC),相位相干成像技术有助于消除疑虑。使用PCI可以清楚地区分细小裂纹群中的单个缺陷,并可靠地进行表征。

了解PCI的优势

PCI的应用有哪些?

TFM采集率提高了3倍

由于OmniScan X4系列仪器处理能力的提升,获得清晰TFM图像的速度比上一代型号(X3 64)快了三倍*。OmniScan X4 64:128PR仪器拥有128个晶片能力,速度更快,可以利用其扩展的聚焦功能进行TFM检测。

了解有关TFM的常见问题解答

欢迎下载我们免费的TFM电子书

*达到这一速度取决于配置和稀疏发射的使用。详情请咨询。

获得即时洞察力,消除低效率问题

TFM和PCI双重技术让您信心倍增

采用具有不同特性的PCI和TFM两种技术,同时从焊缝两侧彻查整个焊缝体积。使用两个探头对焊缝进行一次性扫查,即可显示TFM和PCI结果,以便高效精确地比较、测量和确认缺陷特征。

设计宗旨是提高速度和简化操作

在OmniScan X4系列仪器上可以简单直观地进行相控阵、TOFD、TFM和PCI检测。任何经验水平的检测人员都可以利用这些技术,通过简单的逐步扫查计划和应用预设,提高效率,增强信心。

便捷的应用预设

OmniScan X4的应用预设,可以改善学习曲线,提高检测在不同操作员之间的可靠性和一致性。即使是低级别用户和新用户也可以在几分钟内完成优质的PA或PCI配置。

通过腐蚀和复合材料检测选项,这些预编程参数简化了使用HydroFORMFlexoFORMRollerFORM扫查器的扫查设置,而且您还可以根据需要调整设置。

简化了复杂配置

OmniScan X4扫查计划的直观分步3D图形可简化从基本到复杂的各种检测设置。

在设置光栅扫查计划时,可以自行命名扫查轴,还可以创建相对于资产的基准参考点。这些真实世界的参考以及真实方向的校正,大大地方便了为报告创建直观的检测数据示意图的操作。

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