QuickScan iX ECA采集仪器专为在材料生产环境中进行表面检测而设计。与经过现场验证的QuickScan iX PA仪器一样,QuickScan iX ECA仪器的设计也符合可靠的24 V I/O工业标准。每个单元最多可连接8个探头。可将多个采集单元组合在一起,构建对探头或速度要求更严格的配置。 | ![]() |
为满足工业要求而打造QuickScan iX ECA仪器是我们用于工业检测系统的新一代涡流采集单元。这款采集单元符合IP55评级标准,可以方便地集成到工业环境中。 | 自动提离补偿 | 每台仪器有多达 8个输入 |
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高达 40 kHZ的采集速率 | 频率范围从 50 kHz至2 MHz |