灵活的相控阵配置

TomoView高级计算器是TomoView软件包中的一个必不可少的强大组件。这个计算器可利用预先编程的楔块、探头及材料数据库，为1-D线性阵列、1-D环形阵列及2-D矩形阵列探头，轻松、精确地编制角度声束和聚焦点。

高级计算器可用于为平面和圆形几何体编制扇形、线性和深度扫查聚焦法则，可支持动态深度聚焦（DDF），还可用于生成与OmniScan兼容的聚焦法则文件（.law）。

此外，所获得声束和角度声束的图像显示为您提供了一个重要的验证工具。“声场模拟”模块是一个可选项，可提供2D或3D视图中空间散射场的模拟。

左图为动态深度聚焦（DDF），右图为标准聚焦。

动态深度聚焦（DDF）技术可在接收信号时动态改变声束的形成情况，以获得更高的分辨率，从而可在保持优化检测速度的同时，提高探测缺陷的分辨率。

启动了条件A扫描，就仅在报警触发时，才会记录A扫描。A扫描仅包含信息重要的区域，从而可在一次检测中扫查更大的区域。

TomoView 2.10软件新添了很多功能，是一款可将分析水平提升到新高度的优质工具。

数据文件容量可达2 GB，还可将多个文件的数据融合到一起，更高效地分析更大表面的数据。

对组合显示中的多个体积视图进行体积融合处理，可改善数据显示效果，并提高分析效率。

TomoView 2.10软件提供高级分析算法，可以对采集的数据进行更深入的分析。

强大的噪声分析：量化信噪比，并获取有关检测条件的更多信息

综合矩阵滤波器可在噪声环境中更好地显示C扫描数据。

利用TomoView的数据文件融合功能，可以将多个数据文件合并为一个文件，然后同时进行分析，使分析过程更加高效。TomoView软件可使每个数据文件的存储容量达到2 GB，从而可将更多数据文件合并为一个文件。

TomoView 2.10软件可使每个数据文件的存储容量达到2 GB，从而可在单个文件中融合比以往更多的数据文件。

C扫描融合功能可在单个C扫描中融合来自不同C扫描的数据，并保留不同C扫描中探测到的最大、最小波幅或位置。

使用TomoView体积融合功能可将不同的声束合并到一个组中。这种融合视图可清晰呈现整个被检部件，使缺陷指示分析更加容易。

出现空间重叠时，最大波幅被保留。因此，融合视图会显示所有被探测到的缺陷指示，而不考虑缺陷指示的原始方向。需要注意的是，由于使用的融合分辨率不同，指示信号也会有所不同。

需要注意的是，由于使用的融合分辨率不同，指示信号也会有所不同。

强大的噪声分析

TomoView软件包含信噪比（SNR）功能。可使用信噪比（SNR）分析工具，评价C扫描视图上参考区域中的噪声水平，然后再对噪声以上的缺陷指示表面区域进行计算。

在分析模式和Lite Aero版本中可以使用信噪比（SNR）功能。 SNR功能用于零度检测，通常用于检测航空航天工业部件。可在顶视图（C）、波幅和位置C扫描视图中使用这个功能。

便捷的报告制作工具

在TomoView软件中创建报告非常简单。使用区域工具，可添加缺陷指示。选择您希望使用的缺陷报表模板（可通过添加读数和注释的方式轻松定制），然后点击“添加”。为所有相关缺陷指示重复这个步骤。

根据需要更改报告，如添加公司徽标或某些特定的检测信息（操作员姓名、站点、工件等）。在几秒钟内即可生成完整的HTML报告，包括所有相关的检测设置。

完成后，缺陷报表会自动保存为.R01文件格式，以便稍后上传到TomoView软件中。