Evident LogoOlympus Logo

Zaručená přesnost měření rozměrů

Měření antény základnové stanice

5G anténa má mnoho integrovaných vysílacích a přijímacích prvků, které slouží k posílení rádiových vln v určitém směru a zvýšení citlivosti příjmu. Anténa vysílá paprsky z mnoha prvků. Aby nedocházelo ke vzájemnému rušení, musí mít prvky a obvody přesné tvary.

Měření antény základní stanice

Výzvy při měření prvků

Běžný digitální mikroskop nemusí nabízet zaručenou přesnost měření a jím naměřená data jsou tedy méně spolehlivá.

Garantovaná přesnost DSX1000

Při použití digitálního mikroskopu DSX1000 je zaručena přesnost a opakovatelnost měření, díky čemuž můžete získat spolehlivá data.

Měření tvaru obvodu antény

Měření tvaru obvodu antény

Digitální mikroskop DSX1000

Digitální mikroskop DSX1000

Měření desek plošných spojů (DPS)

Zařízení podporující 5G mají spoustu součástí, které musí být dostatečně malé a tenké, aby se vešly do moderních smartphonů. Potřebují také vynikající charakteristiky při vysoké frekvenci a schopnost odolat širokému rozsahu teplot a vlhkosti. Aby bylo zajištěno, že PCB tyto přísné požadavky splňují, jsou pečlivě kontrolovány pomocí mikroskopu.

Měření desky plošných spojů (PCB – Printed Circuit Boards)

Výzvy při měření PCB

PCB může být obtížné zobrazit, protože odrazivost desky se velmi liší v závislosti na materiálu. Bez jednotného jasu nemusí být naměřená data spolehlivá.

Měření průchozích via otvorů

Měření průchozích otvorů je standardní položkou kontroly PCB, která má zajistit, že je součástka vyrobena podle specifikace. Průměr průchozího otvoru lze snadno změřit pomocí hloubkové účinnosti softwaru OLYMPUS Stream™ a mikroskopu BX53M nebo MX63.

BX53M

MX63

Měření průměru průchozího via otvoru

Měření průměru průchozího via otvoru

Při použití mikroskopu BX53M nebo MX63/MX63L je dostupné měření hloubkové účinnosti v softwaru OLYMPUS Stream™.

Měření vzoru PCB

Jak digitální mikroskop DSX1000, tak měřicí mikroskop STM7 lze použít k vysoce přesnému měření šířky a výšky via otvorů a ploch v deskách plošných spojů.

Digitální mikroskop DSX1000

Digitální mikroskop DSX1000

Obrazovka měření tvaru vzoru pomocí mikroskopu DSX1000

Obrazovka měření tvaru vzoru pomocí DSX1000

Měřicí mikroskop STM7

Měřicí mikroskop STM7

Měření via (průměru) pomocí mikroskopu STM7

Měření via (průměru) pomocí STM7

Pohled na via shora

Pohled na via zdola

Měření filtrů šumu

Technologie 5G využívá miniaturizované filtry šumu, jejichž elektrody jsou extrémně malé. Vzhledem k jejich malým rozměrům vyžaduje měření velikosti a tvaru elektrody pokročilé kontrolní zařízení.

Měření filtrů šumu

Měření filtrů šumu

Výzvy při měření elektrod filtrů šumu

Metalurgické nebo digitální mikroskopy nemusí být schopny tyto elektrody spolehlivě změřit z důvodu jejich malých rozměrů.

Přesné měření elektrod

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 poskytuje vysoce přesná měření drobných elektrod se zaručenou přesností a opakovatelností.

Vstupní rádiová vlna prochází elektrodami vytvořenými na substrátu, volí se požadovaná frekvence, která pak ze zařízení vystupuje.

Přesné měření elektrod

Měření rozměrů elektrody filtru SAW

Měření rozměrů elektrody filtru SAW

Přesné měření elektrod

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 3D

Měření vícevrstvých keramických kondenzátorů

Vícevrstvé keramické kondenzátory se používají k potlačení šumu a nastavení obvodových konstant v elektronických zařízeních. V základnových stanicích a mobilních terminálech technologie 5G je vyžadován velký počet kondenzátorů. Rostoucí požadavky na miniaturizaci vyžadují, aby vrstvy byly stále tenčí, což vyžaduje pečlivou kontrolu kvality.

Měření vícevrstvých keramických kondenzátorů

Měření vícevrstvých keramických kondenzátorů

Výzvy měření vícevrstvých kondenzátorů

Ke kontrole keramických kondenzátorů se obvykle využívají metalurgické mikroskopy, stereomikroskopy a konvenční digitální mikroskopy, nicméně odrazivost od elektrod a dielektrika jsou tak odlišné, že je nemožné zobrazit celý kondenzátor najednou.

Přesné měření vícevrstvého keramického kondenzátoru

Díky funkcím digitálního mikroskopu DSX1000 můžete pozorovat tvar drobných elektrod a dielektrik s rovnoměrným jasem. A díky telecentrickému optickému systému mikroskopu můžeme zaručit přesnost měření všech objektivů DSX při všech zvětšeních.

Kontrola vnějších rýh a odštípnutí

Kontrola vnějších rýh a odštípnutí

Kontrola vnějších rýh a odštípnutí

Pozorování stavu a měření tloušťky elektrodových a dielektrických vrstev digitálním mikroskopem DSX1000

Pozorování stavu a měření tloušťky elektrodových a dielektrických vrstev digitálním mikroskopem DSX1000

Digitální mikroskop DSX1000

Digitální mikroskop DSX1000

Měření obalu elektronických součástek

Pryskyřice, která obaluje elektronické součástky, se nazývá obal. Chrání prvky a připojovací svorky a zároveň musí také přenášet signály a elektrickou energii. Obaly se vyrábí ve všech možných tvarech, aby vyhovovaly různým konstrukčním plánům. Kritickým faktorem je, aby na sebe správně nasedaly, jejich tvar je tedy nutné pečlivě zkontrolovat a změřit.

Vzorek poskytla společnost KOTECSYS CO., LTD.

Vzorek poskytla společnost KOTECSYS CO., LTD.

Výzvy při měření obalů

Obaly elektronických součástek jsou extrémně malé (µm a méně) a není již možné je měřit pomocí standardního měřicího mikroskopu.

Měření obalů menších než jeden mikrometr

Pokročilé možnosti měření laserového mikroskopu OLS5100 umožňují vysoce přesné 3D měření jemných elektrod se zaručenou přesností a opakovatelností.

Měření obalů menších než jeden mikrometr

Změřte oblast ohraničenou červenou čárou. Je možné okamžitě změřit tvar profilu příčného řezu v jakékoli poloze.

Změřte oblast ohraničenou červenou čárou. Je možné okamžitě změřit tvar profilu příčného řezu v jakékoli poloze.

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 3D

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 3D

Měření průměru jádra optického vlákna

Optická vlákna se používají při přenosu informací, protože jsou odstíněna od okolního elektromagnetického šumu. V technologii 5G se k rozšíření přenosové kapacity používá vícejádrové vlákno a je nutné pečlivě kontrolovat jak vzdálenost mezi jednotlivými jádry, tak i jejich průměr.

Měření průměru jádra optického vlákna

Potíže s měřením optických vláken

Při použití metalurgického mikroskopu nebo stereomikroskopu často není možné provádět pozorování s jednotným jasem, což vede k nespolehlivému měření.

Přesné měření jádra vlákna

Digitální mikroskop DSX1000 usnadňuje přesné měření průměrů jádra optického vlákna a vzdálenosti mezi jádry se zaručenou přesností a opakovatelností.

Přesné měření jádra vlákna

Digitální mikroskop DSX1000

Digitální mikroskop DSX1000

Měření koncových ploch optických vláken

Optická vlákna jsou často vzájemně propojena takovým způsobem, aby se zabránilo útlumu světelného paprsku způsobeného ztrátou spojení (Fresnelův odraz). Z tohoto důvodu jsou koncové plochy vláken zaoblené nebo zešikmené, nicméně řízení tohoto procesu však může být obtížné.

Měření koncových ploch optických vláken

Výzvy při měření koncových ploch optických vláken

Měřicí mikroskopy a běžné digitální mikroskopy nedokážou zaoblení či zešikmení koncové plochy přesně změřit.

Přesné údaje z měření koncových ploch optických vláken

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 využívá technologii skenování 4K, pomocí které zaznamenává přesné údaje o zaoblení či zešikmení blízkých vertikále.

Příklad sférického obrazu

Konvenční

Konvenční

OLS5100

OLS5100

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 3D

Měřicí laserový mikroskop OLS5100 3D

Měření konektorů optických vláken

Optická vlákna se připojují k základnovým stanicím pomocí koaxiálních konektorů, které efektivně odvádějí teplo, mají minimální šum a splňují přísné standardy velikosti. Tyto konektory jsou v rámci procesu zajištění a kontroly kvality měřeny, aby se zajistilo splnění požadavků.

Měření konektorů optických vláken

Výzvy při konvenčním ručním měření

Postupem času se koaxiální konektory tak zmenšily, že je již nelze měřit s použitím zvětšovacích čoček nebo posuvných měřítek.

Přesné měření koaxiálního konektoru

Měřicí mikroskop STM7 umožňuje uživatelům měřit délku a výšku konektorů optických vláken v rozsahu milimetrů až nanometrů.

Obrazovka měření průměru hrotu konektoru

Obrazovka měření průměru hrotu konektoru:
Když je měřený díl nasvícen, jeho tvar se zřetelně promítne a jeho průměr lze správně změřit.

Obrazovka kontroly vzhledu štěrbiny pro vložení optického vlákna

Obrazovka kontroly vzhledu štěrbiny pro vložení optického vlákna:
Zvýšením pozorovacího zvětšení je možné přesně zkoumat vzhled škrábanců, drsností atd. na produktu.

Měřicí mikroskop STM7

Měřicí mikroskop STM7

Potřebujete pomoc?

Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country