Mikroskop GX53, který je určen k použití v odvětvích výroby oceli, automobilů a elektroniky i v dalších výrobních odvětvích, poskytuje ostré snímky, jaké jsou konvenčními metodami mikroskopického pozorování pouze obtížně zaznamenatelné. V kombinaci s obrazovým analytickým softwarem PRECiV tento mikroskop zvyšuje efektivitu celého procesu kontroly, od pozorování přes provádění analýz až po sestavování protokolů.
Zvyšte rychlost pozorování, měření a analyzování metalurgických struktur.
1. Kombinované metody pozorování umožňují získávání výjimečně kvalitních snímků 2. Snadné vytváření panoramatických snímků 3. Vytváření proostřených snímků 4.Zaznamenávání světlých i tmavých oblastí |
1. Software určený pro materiálové vědy 2. Metalurgická analýza, která je prováděna ve shodě s průmyslovými normami |
Dokonce i začínající operátoři mohou pohodlně provádět pozorování, analyzovat výsledky a vytvářet zprávy.
1. Snadné obnovení nastavení mikroskopu 2. Průvodce pro uživatele usnadňuje pokročilou analýzu 3. Efektivní generování protokolů |
Naše osvědčená technologie optických zařízení a zpracování obrazových dat umožňuje získávání jasných snímků a spolehlivých výsledků.
1. Spolehlivý optický výkon: korekce aberace vlnoplochy 2. Zřetelné snímky: korekce stínování u snímků 3. Stálá barevná teplota: osvětlení bílou LED o vysoké intenzitě 4.Přesná měření: automatická kalibrace |
Zvolte komponenty, které potřebujete pro svoji aplikaci.
1. Sestavte si vlastní systém: získejte plně uživatelsky přizpůsobitelný systém s rozmanitými optickými komponentami |
Různé pozorovací schopnosti mikroskopu GX53 poskytují jasné a ostré snímky, jejichž prostřednictvím můžete spolehlivě detekovat defekty na vzorcích. Nové techniky osvětlení a možnosti pořizování snímků, které nabízí obrazový analytický software PRECiV, přinášejí více možností posouzení vašich vzorků a dokumentace získaných výsledků.
Z hlediska výkonnosti mikroskopu jsou naprosto klíčovým prvkem čočky objektivu. Nové objektivy MXPLFLN přidávají do řady objektivů MPLFLN pro zobrazování v episkopickém osvětlení hloubku, které je dosaženo současnou maximalizací numerické apertury a pracovní vzdálenosti. Při vyšším rozlišení při zvětšeních 20X a 50X je pracovní vzdálenost typicky kratší, proto bývá nutné při změně objektivu vysunout vzorek nebo objektiv. Pracovní vzdálenosti o délce 3 mm objektivu MXPLFLN tento problém v mnoha případech eliminuje a umožňuje tak rychlejší provedení kontroly s menším rizikem nárazu objektivu do vzorku.
Získejte další informace o cílech MXPLFLN>>
Technologie MIX kombinuje pozorování v temném poli s jinou metodou pozorování, jakou je například pozorování ve světlém poli nebo pozorování s polarizací, aby vám umožňila prohlížet i takové vzorky, které jsou pomocí běžných mikroskopů obtížně pozorovatelné. Kruhové LED osvětlovací zařízení je vybaveno funkcí směrového temného pole, kde je v daném čase osvětlen jeden nebo více kvadrantů, což snižuje halaci vzorku pro lepší vizualizaci povrchové textury.
Průřez desky s plošnými spoji
Světlé pole | Temné pole | MIX: světlé + temné pole |
Nerezová ocel
Světlé pole | Kvadrant v temném poli | MIX: světlé pole + kvadrant v temném poli |
Funkcí vícenásobného skládání obrazů (MIA) lze spojit snímky jednoduše manuálním pohybem otočných ovladačů pohybu stolku v rovině XY – pracovní stolek s motorickým pohonem se dodává jako volitelné příslušenství. Software PRECiV používá funkci rozpoznávání vzorů k vytváření panoramatických snímků, díky čemuž je ideální při kontrole stavů vznikajících při nauhličování a tečení kovů.
Tečení kovu šroubu
Upravte polohu stolku otočným ovladačem XY. | Stav vzniklý tečením materiálu je viditelný v celém rozsahu. |
Funkce EFI (Extended Focus Imaging) softwaru PRECiV dokáže na snímcích zachytit i vzorky s výškou přesahující hloubku ostrosti. Funkce EFI skládá snímky z různých rovin ostrosti na sebe a vytváří tak jeden zcela proostřený snímek I při analýze vzorku průřezu s nerovným povrchem lze pomocí funkce EFI vytvářet plně zaostřené snímky.
Funkce EFI je použitelná ve spojení buď s ručně ovládanou, nebo motoricky poháněnou osou Z a umožňuje vytváření výškové mapy usnadňující vizualizaci struktur.
Díly z pryskyřice
Upravte výšku objektivu pomocí ostřícího ovladače. | Funkce EFI automaticky pořizuje více snímků z různých poloh osy z, aby vytvořila jediný proostřený snímek | Vytvoří se plně zaostřený snímek. |
Pomocí pokročilého zpracování obrazu se vysoký dynamický rozsah (HDR) přizpůsobuje rozdílům v jasu obrazu, aby se omezilo možného vzniku světelné reflexe. Přispívá také ke zvyšení kontrastu u snímků s nízkým kontrastem. Funkci HDR lze používat k pozorování drobných struktur v elektrických zařízeních a k identifikaci hranic zrn kovových materiálů.
Zlatá destička
Některé oblasti způsobují odlesk. | Za použití funkce HDR jsou zřetelně viditelné tmavé i světlé oblasti. |
Difuzně chromovaný potah
Nezřetelný snímek s nízkým kontrastem. | Snímek se zvýšeným kontrastem pomocí funkce HDR. |
Toto je pouze několik z mnoha příkladů toho, čeho lze dosáhnout různými metodami pozorování.
Světlé pole | Temné pole |
Světlé pole: běžná metoda pozorování k pozorování odraženého světla ze vzorku jeho přímým osvětlením. Temné pole: pozorování rozptýleného nebo lomeného světla odrážejícího se od povrchu vzorku, které umožňuje vyniknutí nedokonalostí, jako například nepatrných rýh nebo vad.
Světlé pole | Pozorování pomocí technologie DIC |
Diferenciální interferenční kontrast (DIC): představuje způsob pozorování, kdy je výška vzorku viditelná jako reliéf (podobně jako 3D obraz s vylepšeným kontrastem); je ideální pro kontroly vzorků s velmi malými výškovými rozdíly, jako jsou metalurgické struktury a minerály.
Světlé pole | Pozorování v polarizovaném světle |
Pozorování v polarizovaném světle: způsob pozorování, při kterém jsou zvýrazňovány vlastnosti a krystalická mřížka materiálu tak, aby byly viditelné metalurgické struktury, jako například struktura růstu grafitu u tvárné litiny, nebo krystalické struktury minerálů.
Světlé pole | MIX: světlé + temné pole |
Pozorování metodou MIX: kombinuje pozorování ve světlém a temném poli, čímž zviditelňuje barvu i strukturu vzorku.
Výše uvedený snímek, který byl získán pozorováním za použití metody MIX, jasně reprodukuje barvu i texturu zařízení společně se stavem vrstvy lepidla.
Mikroskop GX53 a software PRECiV společně podporují metody metalurgické analýzy, které vyhovují různým průmyslovým standardům. Díky podrobnému průvodci pro obsluhu mohou uživatelé snadno a rychle analyzovat vzorky.
> Kliknutím sem získáte další informace o PRECiV
“Count and Measure” řešení využívá pokročilé prahové metody ke spolehlivému oddělení objektů, jako jsou částice a škrábance, od pozadí. K dispozici je více než 50 různých parametrů pro měření a klasifikaci objektů včetně tvaru, velikosti, polohy a vlastnosti pixelů.
Konvenční software | Naleptaná mikrostruktura oceli | PRECiV |
Výsledky klasifikace zrna
Měření velikosti zrn a analýza mikrostruktury hliníkových slitin, ocelových krystalických struktur, jako je ferit, austenit a další kovy.
Podporované standardy: ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T
Mikrostruktura feritických zrn
Průsečíkové řešení určení velikosti zrn | Řešení určování velikosti zrn pomocí planimetrické metody se sekundární fází |
Vyhodnocení nodularity grafitu a obsahu ve vzorcích litiny (nodulární a vermikulární). Klasifikace podle tvaru, rozložení a velikosti grafitových uzlů.
Podporované standardy: ISO, NF, ASTM, KS, JIS, GB/T
Tvárná litina s obsahem nodulárního grafitu
Řešení pro litinu
Klasifikace nekovových vměstků pomocí obrazu nejhoršího pole nebo nejhoršího vměstku manuálně nalezeného ve vzorku.
Podporované standardy: ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI
Ocel s nekovovými vměstky
Řešení nejhoršího pole vměstků
Můžete snadno srovnávat živé nebo statické obrazy s referenčními obrazy s automaticky přizpůsobeným měřítkem. Toto řešení zahrnuje referenční obrazy v souladu s různými standardy (další referenční obrazy lze zakoupit samostatně). Je podporováno několik režimů, včetně překryvného živého zobrazení a porovnání vedle sebe.
Podporované standardy: ISO, EN, ASTM, DIN, SEP
Ocel s nekovovými vměstky | Mikrostruktura s feritickými zrny | ||
Řešení | Podporované normy |
Určování velikosti zrn průsečíkovou metodou | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
Určování velikosti zrn planimetrickou metodou | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
Litina | ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
Nejhorší pole vměstků | ISO 4967 (metoda A): 2013, JIS G 0555 (metoda A): 2003, ASTM E45 (metoda A): 2013, EN 10247 (metody P a M): 2007, DIN 50602 (metoda M): 1985, GB/T 10561 (metoda A): 2005, UNI 3244 (metoda M): 1980 |
Srovnávací metody (grafy) | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998 |
Tloušťka povlaku | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001 |
Pomocí mikroskopu GX53 a softwaru PRECiV lze pořizovat obrázky různých vzorků, provádět různé analýzy a generovat profesionální protokoly.
> Kliknutím sem získáte další informace o PRECiV
Kódované funkce integrují nastavení hardwaru mikroskopu se softwarem pro analýzu obrazu PRECiV. Metody pozorování, intenzitu osvětlení a zvětšení lze zaznamenat a uložit společně se snímky. Nastavení lze snadno reprodukovat, takže různí operátoři mohou provádět stejné kontroly kvality s omezeným zaškolením.
Různí pracovníci obsluhy používají různá nastavení. | Načtěte nastavení zařízení softwarem PRECiV. | Všichni pracovníci obsluhy mohou používat stejná nastavení. |
Průvodce, který je součástí softwaru, provede uživatele krok za krokem procesem inspekce, která bude odpovídat vybranému průmyslovému standardu. Pracovníci obsluhy mohou provádět pokročilou analýzu podle pokynů na obrazovce.
Vytváření protokolu může častokrát trvat déle než samotné pořízení snímku a provedení měření. Software PRECiV disponuje funkcí efektivního vytváření protokolů k sestavování sofistikovaných protokolů na základě předdefinovaných šablon.
Optický systém Optický systém | Optický systém UIS2 (systém s korekcí nekonečna) | |
---|---|---|
Rám mikroskopu | Osvětlení odraženým světlem |
Manuální výběr světlého/temného pole
Manuální nastavení polní clony / apreturní clony s možností centrování Zdroj světla: bílá dioda LED (s funkcí Light Intensity Manager) / 12V, 100W halogenová lampa / 100W rtuťová výbojka / zdroj se světlovodem Režim pozorování: světlé pole, temné pole, diferenciální interferenční kontrast (DIC)*1, jednoduchá polarizace*1, pozorování metodou MIX (čtyřsměrné tmavé pole)*2 *1 Pro exkluzivní použití tohoto pozorování je vyžadován slider. *2 Je vyžadována konfigurace pozorování MIX. |
Rám mikroskopu | Znázornění stupnice | Reverzní polohy všech portů (nahoře/dole) z pozorovací pozice skrz okulár |
Rám mikroskopu | Výstupní přední port (volitelný) | Kamera a systém DP (reverzní obraz, speciální fotoaparátový adaptér pro GX) |
Rám mikroskopu | Výstupní boční port (volitelný) | Kamera, systém DP (vzpřímený obraz) |
Rám mikroskopu | Elektrický systém |
Osvětlení odraženým světlem
Vestavěný zdroj napájení pro LED osvětlení v odráženém světle Plynule nastavitelný ovladač intenzity světla Vstupní napájení 5 V ss., 2,5 A (adaptér střídavého proudu 100–240 V stř., 0,4 A, 50 Hz / 60 Hz) Osvětlení procházejícím světlem (vyžaduje volitelný zdroj napájení BX3M-PSLED) Otočný, plynule nastavitelný prvek intenzity světla Vstupní napájení 5 V ss., 2,5 A (adaptér střídavého proudu 100–240 V stř., 0,4 A, 50 Hz / 60 Hz) Externí rozhraní (vyžaduje volitelnou ovládací jednotku BX3M-CBFM) 1× kódovaný konektor držáku objektivů 1× konektor pro MIX kontrast (U-MIXR-2) 1× konektor ručního ovládání (BX3M-HS) 1× konektor ručního ovládání (U-HSEXP) 1× konektor RS-232C, 1× konektor USB 2.0 |
Rám mikroskopu | Ostření (Focus) |
Ozubnice s pastorkem a kluzná lišta
Manuální koaxiální hrubé a jemné ostření, zdvih ostření 9 mm (2 mm nad a 7 mm pod povrchem stolku) Zdvih jemného ostření na jednu otáčku: 100 μm (min. měřítko: 1 μm) Zdvih hrubého ostření na jednu otáčku: 7 mm S třecím mechanismem pro možnost nastavení točivého momentu hrubého ostření S možností nastavení dorazu pro hrubé ostření |
Tubus | Široké pole (FN 22) | Invertovaný: binokulární (U-BI90, U-BI90CT), naklápěcí binokulární (U-TBI90) |
Držák objektivů |
Otvory pro světlé pole: 4 až 7 ks, typ: manuální/kódovaný, centrovatelný: aktivováno/deaktivováno
Otvory pro světlé /temné pole: 5 až 6 ks, typ: manuální/kódovaný, centrovatelný: aktivováno/deaktivováno | |
Pracovní stolek |
Manuální stolek s ovládáním pro pravou ruku pro GX (pojezd X/Y: 50 × 50 mm, max. zatížení 5 kg)
Stolek s flexibilní rukojetí pro pravou ruku, s krátkou rukojetí pro levou ruku (oba s pojezdem X/Y: 50 × 50 mm, max. zatížení 1 kg) Kluzně posuvný pracovní stolek (max. zatížení 1 kg) Sada typů s otvorem ve tvaru kapky a podlouhlým otvorem | |
Hmotnost | Cca 25 kg (rám mikroskopu: 20 kg) | |
Prostředí |
・Použití v místnosti
・Okolní teplota: 5–40 °C (45–100 °F) ・Maximální relativní vlhkost: 80 % pro teploty do 31 °C (88 °F) (bez kondenzace) V případě teploty nad 31 °C (88 °F) se relativní vlhkost lineárně snižuje o 70 % při teplotě 34 °C (93 °F), 60 % při teplotě 37 °C (99 °F) a na 50 % při teplotě 40 °C (104 °F). ・Stupeň znečištění: 2 (v souladu s normou IEC60664-1) ・Instalace kategorie přepětí: II (v souladu s normou IEC60664-1) ・Kolísání napájecího napětí: ± 10 % |
您即将被转换到我们的本地网站。