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Garantierte Messgenauigkeit

Messung der Basisstationsantenne

5G-Antennen haben viele integrierte Sende- und Empfangselemente, um Funkwellen in einer bestimmten Richtung zu verstärken und die Empfangsempfindlichkeit zu erhöhen. Die Antenne sendet Strahlen aus vielen Elementen. Damit sie sich nicht gegenseitig stören, müssen die Elemente und Schaltkreise präzise Formen haben.

Messung der Basisstationsantenne

Herausforderungen bei der Elementmessung

Ein herkömmliches Digitalmikroskop bietet möglicherweise keine garantierte Messgenauigkeit, sodass die Daten weniger zuverlässig sind.

Garantierte Genauigkeit mit dem DSX1000

Die Messgenauigkeit und Wiederholbarkeit des DSX1000 Digitalmikroskops ist garantiert, sodass sich Prüfer auf die Daten verlassen können.

Messung der Form von Antennenschaltkreisen

Messung der Form von Antennenschaltkreisen

DSX1000 Digitalmikroskop

DSX1000 Digitalmikroskop

Messen von Leiterplatten (PCBs)

5G-Geräte bestehen aus vielen Komponenten und müssen klein und dünn genug sein, um in moderne Smartphones zu passen. Außerdem müssen sie hervorragende Hochfrequenzeigenschaften aufweisen und einem großen Temperatur- und Feuchtigkeitsbereich standhalten. Damit die Leiterplatten diese strengen Anforderungen sicher erfüllen, werden sie sorgfältig mit einem Mikroskop geprüft.

Messen von Leiterplatten (PCBs)

Herausforderungen bei der Messung von Leiterplatten

Die Bildgebung von Leiterplatten kann schwierig sein, da der Reflexionsgrad je nach Material stark variiert. Ohne gleichmäßige Helligkeit sind die Messdaten möglicherweise nicht zuverlässig.

Messung von Durchgangslöchern

Die Messung von Durchgangslöchern gehört zu den Standardprüfungen von Leiterplatten, um die Herstellung des Bauteils entsprechend der Spezifikation sicherzustellen. Der Durchmesser des Durchgangslochs kann mit der Streufeldmessung der OLYMPUS Stream Software und dem BX53M oder MX63 Mikroskop leicht ermittelt werden.

BX53M

MX63

Messung des Durchgangslochdurchmessers

Messung des Durchgangslochdurchmessers

Bei Verwendung eines BX53M oder MX63/MX63L Mikroskops ist die Messung der Streulichtleistung mit der OLYMPUS Stream Software möglich.

Messung von Leiterplattenmustern

Sowohl das DSX1000 Digitalmikroskop als auch das STM7 Messmikroskop eignen sich für hochpräzise Messungen der Breite und Höhe von Durchkontaktierungen und Lötaugen in Leiterplatten.

DSX1000 Digitalmikroskop

DSX1000 Digitalmikroskop

Bildschirm zur Messung der Musterform mit dem DSX1000 Digitalmikroskop

Bildschirm zur Messung der Musterform mit dem DSX1000

STM7 Messmikroskop

STM7 Messmikroskop

Messung der Durchkontaktierung (Durchmesser) mit dem STM7 Messmikroskop

Messung der Durchkontaktierung (Durchmesser) mit dem STM7

Durchkontaktierung von oben

Durchkontaktierung von unten

Messung von Rauschfiltern

Die 5G-Technologie verwendet miniaturisierte Rauschfilter, deren Elektroden extrem klein sind. Aufgrund ihrer geringen Größe sind für die Messung von Größe und Form der Elektroden moderne Prüfgeräte erforderlich.

Messung von Rauschfiltern

Messung von Rauschfiltern

Herausforderungen bei der Messung von Rauschfilterelektroden

Metallurgische oder digitale Mikroskope können diese Elektroden aufgrund ihrer geringen Größe möglicherweise nicht zuverlässig vermessen.

Genaue Elektrodenmessungen

Das OLS5100 Laser-Mikroskop ermöglicht hochpräzise Messungen von feinen Elektroden mit garantierter Genauigkeit und Wiederholbarkeit.

Die Eingangswelle durchläuft die auf dem Substrat ausgebildeten Elektroden, und die gewünschte Frequenz wird ausgewählt und ausgegeben.

Genaue Elektrodenmessungen

Messung der Abmessungen der SAW-Filterelektrode

Messung der Abmessungen der SAW-Filterelektrode

Genaue Elektrodenmessungen

OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen

Messung von Mehrschicht-Keramikkondensatoren

Mehrschicht-Keramikkondensatoren werden zur Rauschunterdrückung und zur Einstellung von Schaltkreiskonstanten in elektronischen Geräten verwendet. In 5G-Basisstationen und mobilen Endgeräten wird eine große Anzahl von Kondensatoren benötigt. Aufgrund der immer kleiner werdenden Bauteile werden die Schichten immer dünner, was eine sorgfältige Qualitätskontrolle erfordert.

Messung von Mehrschicht-Keramikkondensatoren

Messung von Mehrschicht-Keramikkondensatoren

Herausforderungen bei der Messung von Mehrschichtkondensatoren

In der Regel werden metallurgische Mikroskope, Stereomikroskope und herkömmliche Digitalmikroskope zur Prüfung von Keramikkondensatoren verwendet. Allerdings ist die Reflexion der Elektroden und des Dielektrikums so unterschiedlich, dass es unmöglich ist, den gesamten Kondensator gleichzeitig zu betrachten.

Präzise Messungen von Mehrschicht-Keramikkondensatoren

Die Funktionen des DSX1000 Digitalmikroskop ermöglichen die Betrachtung der Form von winzigen Elektroden und der Dielektrika mit gleichmäßiger Helligkeit. Dank des telezentrischen optischen Systems des Mikroskops können wir die Messgenauigkeit aller DSX-Objektive bei allen Vergrößerungen garantieren.

Kontrolle auf Kratzer und Absplitterungen auf der Außenfläche

Kontrolle auf Kratzer und Absplitterungen auf der Außenfläche

Kontrolle auf Kratzer und Absplitterungen auf der Außenfläche

Untersuchung des Zustands und Dickenmessung von Elektroden und Dielektrikumschichten mit dem DSX1000 Digitalmikroskop

Untersuchung des Zustands und Dickenmessung von Elektroden und Dielektrikumschichten mit dem DSX1000 Digitalmikroskop

DSX1000 Digitalmikroskop

DSX1000 Digitalmikroskop

Messen von Gehäusen für elektronische Bauteile

Das Harz, das elektronische Bauteile umhüllt, wird als Gehäuse bezeichnet. Es schützt die Bauteile und Anschlussklemmen und muss auch Signale und Strom übertragen. Es gibt eine Vielzahl von Formen, die zu den Bauplänen der verschiedenen Komponenten passen. Da ihre Passung ein entscheidender Faktor ist, muss ihre Form sorgfältig geprüft und gemessen werden.

Probe bereitgestellt von KOSTECSYS CO., LTD.

Probe bereitgestellt von KOSTECSYS CO., LTD.

Herausforderungen bei der Messung von Gehäusen

Die Gehäuse von elektronischen Bauteilen sind extrem klein geworden (Submikrometerbereich), sodass sie nicht mehr mit einem Standard-Messmikroskop gemessen werden können.

Gehäusemessung im Submikrometerbereich

Die fortschrittlichen Messfunktionen des OLS5100 Laser-Mikroskops ermöglichen hochpräzise 3D-Messungen von feinen Elektroden mit garantierter Genauigkeit und Wiederholbarkeit.

Gehäusemessung im Submikrometerbereich

Gemessen wird die Fläche, die von der roten Linie umgeben ist. Die Querschnittsform jeder im Profil gemessenen Position kann sofort gemessen werden.

Gemessen wird die Fläche, die von der roten Linie umgeben ist. Die Querschnittsform jeder im Profil gemessenen Position kann sofort gemessen werden.

OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen

OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen

Messung des Kerndurchmessers von Glasfaserleitern

Glasfaserleiter werden als Übertragungsleiter verwendet, da sie nicht so leicht durch elektromagnetisches Rauschen beeinträchtigt werden. Für 5G werden Multicore-Glasfasern verwendet, um die Übertragungskapazität zu erhöhen. Der Abstand zwischen den einzelnen Kernen sowie ihr Durchmesser müssen hierfür sorgfältig kontrolliert werden.

Messung des Kerndurchmessers von Glasfaserleitern

Schwierigkeiten bei der Messung von Glasfaserleitern

Bei der Verwendung eines metallurgischen oder Stereomikroskops ist es oft nicht möglich, Untersuchungen mit gleichmäßiger Helligkeit durchzuführen, was zu unzuverlässigen Messdaten führt.

Genaue Messung des Faserkerns

Das DSX1000 Digitalmikroskop ermöglicht eine einfache Messung des Kerndurchmessers und des Kernabstands von Glasfasern mit garantierter Genauigkeit und Wiederholbarkeit.

Genaue Messung des Faserkerns

DSX1000 Digitalmikroskop

DSX1000 Digitalmikroskop

Messung der Stirnflächen von Glasfaserleitern

Glasfaserleiter werden oft so miteinander verbunden, dass eine Abschwächung des Lichts aufgrund von Verbindungsverlusten (Fresnel-Reflexion) vermieden wird. Dazu sind die Stirnflächen der Glasfaserleiter kugelförmig oder geneigt. Allerdings kann es schwierig sein, diesen Prozess zu steuern.

Messung der Stirnflächen von Glasfaserleitern

Herausforderungen bei der Messung der Stirnflächen von Glasfaserleitern

Messmikroskope und herkömmliche Digitalmikroskope können die sphärische Form oder die schräge Form der Stirnfläche nicht genau messen.

Präzise Daten zur Form der Stirnflächen von Glasfaserleitern

Das OLS5100 Laser-Mikroskop nutzt die 4K-Scanning-Technologie, um genaue Daten von sphärischen Formen und steilen, nahezu vertikalen Schrägen zu erfassen.

Beispiel für ein sphärisches Bild

Konventionelles Gerät

Konventionelles Gerät

OLS5100

OLS5100

OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen

OLS5100 Laser-Mikroskop für 3D-Messungen

Messen von Glasfaser-Steckverbindern

Glasfasern werden mit Koaxialsteckern an Basisstationen angeschlossen, die Wärme effizient ableiten, nur minimales Rauschen aufweisen und strenge Größenvorgaben erfüllen. Im Rahmen des QA/QC-Prozesses werden die Steckverbinder gemessen, um die Erfüllung der Anforderungen sicherzustellen.

Messen von Glasfaser-Steckverbindern

Herausforderungen der konventionellen Messung

Im Laufe der Zeit sind Koaxialstecker so klein geworden, dass sie nicht mehr mit Lupen oder Messschiebern vermessen werden können.

Präzise Messung von Koaxialsteckern

Mit dem STM7 Messmikroskop können Anwender die Länge und Höhe von Glasfaser-Steckverbindern im Millimeter- bis Nanometerbereich messen.

Bildschirm zur Messung des Durchmessers der Steckerspitze

Bildschirm zur Messung des Durchmessers der Steckerspitze:
Bei Bestrahlung des gemessenen Teils mit Durchlicht wird die Form deutlich projiziert, und der richtige Wert kann gemessen werden.

Bildschirm zur Prüfung des Aussehens des Einführungsschlitzes für Glasfaserleiter

Bildschirm zur Prüfung des Aussehens des Einführungsschlitzes für Glasfaserleiter:
Durch Erhöhung der Vergrößerung kann das Produkt auf Kratzer, Grate usw. genau überprüft werden.

STM7 Messmikroskop

STM7 Messmikroskop

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