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Von Makro bis Mikro: Wie Digitalmikroskope die Materialprüfung in der Industrie verändern

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Digitalmikroskope mit einem Sichtfeld von 22 mm bis 42 µm

Platz ist knapp im Labor, daher kann ein System, das die Funktion mehrerer Mikroskope erfüllt, entscheidende Vorteile haben. Moderne Digitalmikroskope machen genau das: Sie bieten einen Vergrößerungsbereich, mit dem sich Sichtfelder von 22 mm bis hinunter zu 42 µm abbilden lassen. Diese Makro-bis-Mikro-Funktionalität erlaubt die Beobachtung von Proben zunächst bei geringer Vergrößerung, die die fraglichen Merkmale im Kontext zeigt, um anschließend bei starker Vergrößerung Details zu untersuchen. In Kombination mit einer benutzerfreundlichen Schnittstelle kann selbst ein wenig erfahrener Anwender mit nur einem Gerät schnell und einfach gute Ergebnisse erhalten.

Makro

Digitalmikroskope bieten mehr als nur einen breiten Vergrößerungsbereich – mit motorgesteuerten Komponenten kann eine noch umfassendere Erweiterung der Funktionalität des Systems erreicht werden. Bei größeren Proben, die größer als das Sichtfeld des Systems sind, lassen sich Bilder der ganzen Probe schnell und einfach mit der Stitching- Funktion und einem motorgesteuerten XYZ-Tisch aufnehmen. Das Ergebnis ist ein vollständig fokussiertes, hochaufgelöstes Bild, das sowohl größere Merkmale von besonderem Interesse zeigen als auch Kontext für die weitere Analyse liefern kann.

Mikro

Mit demselben Mikroskopsystem ist es nach Umstellung auf eine stärkere Vergrößerung möglich, jeden beliebigen Punkt der Probe einfach durch Anklicken des Makro-Bildes zu finden. So entfällt das mühsame Wiederfinden von Defekten nach dem Wechsel zu einem anderen System oder die Anwendung komplizierter Koordinatenverfahren. Ob es um die Untersuchung der Oberflächenrauheit, von Defekten in Mikrometergröße, von Strukturmerkmalen usw. geht – unsere Digitalmikroskope nutzen eine Reihe konventioneller optischer Techniken und fortgeschrittener Bildverarbeitungsmöglichkeiten, z. B. einen hohen Dynamikbereich (HDR), zur Optimierung der Oberflächendarstellung und des Kontrasts.

Eine Prüfung, die für konventionelle Mikroskope häufig eine Herausforderung darstellt, von Digitalmikroskopen jedoch hervorragend bewältigt wird, ist die Arbeit mit polierten Proben. Bei solchen Proben werden aufrechte Mikroskope meist nicht eingesetzt. Diese Proben sind in der Regel nicht vollständig plan und horizontal, weshalb es schwierig ist, sie so zu nivellieren, dass sich die Oberfläche im rechten Winkel zur optischen Achse des Mikroskops befindet. Folglich werden invertierte Mikroskope bevorzugt, bei denen die Probe ohnehin senkrecht zur Mikroskopachse positioniert ist. Durch Verwendung von Digitaltechnologie und motorgesteuerten Komponenten können die Einschränkungen aufrechter Mikroskope jedoch kompensiert werden, wodurch sich Möglichkeiten für zusätzliche Analysefelder eröffnen.

Erweiterte Analyse

Die Integration von Digitalmikroskopen und modernster Bildanalyse-Software erlaubt eine noch weitergehende Benutzeranpassung des Geräts. Mit Standardarbeitsanweisungen und den bei den Digitalmikroskopen der Serie DSX verfügbaren geführten Bedienungsfunktionen ist Ihre Arbeit leichter als je zuvor. Jetzt können Anwender selbst nach vergleichsweise kurzer Einarbeitung eine Vielzahl von Analysen durchführen, von der Korngrößenanalyse bis zu anspruchsvoller Partikelklassifizierung.

Sehen Sie sich die folgenden Beispiele an, die zeigen, was ein einziges digitales Mikroskopsystem leisten kann.

Makrobild einer Automobilplakette. Die runden Gebilde sind Beulen.
Makrobild einer Aluminiumplakette. Die runden Gebilde sind Beulen.
Eine der Beulen aus größerer Nähe betrachtet.
Eine der Beulen aus größerer Nähe betrachtet.

Ein Bild der Oberfläche der Beulen in 5000x Vergrößerung.
Ein Bild der Oberfläche der Beulen in 5000x Vergrößerung.
Eine 3D-Karte von einer der Beulen.
Eine 3D-Karte von einer der Beulen.

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Product Applications Manager, Olympus Corporation of the Americas, Scientific Solutions Group

A member of the Olympus team since 2016, Hamish provides product and application support for Olympus industrial microscope systems throughout the Americas. He is an expert in inspection applications, image analysis, measurement, and reporting, as well as custom optical solutions, with an emphasis on technical cleanliness and semiconductor equipment.

十月 2, 2018
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