概述
Das CIX100 Prüfsystem ist eine schlüsselfertige Lösung speziell für Hersteller, die für die Sauberkeit der hergestellten Komponenten einen hohen Qualitätsstandard fordern. Schnelle Erfassung, Verarbeitung und Dokumentation der Daten zur Prüfung der technischen Sauberkeit gemäß den firmeneigenen und internationalen Normen. Die intuitive Software des Systems führt den Benutzer durch jeden Schritt des Prozesses, sodass auch Anfänger schnell und einfach Sauberkeitsdaten erfassen können. |
CIX100 Prüfsystem: Prüfung der technischen Sauberkeit einfach gemachtDie technische Sauberkeit von Komponenten, Teilen und Flüssigkeiten ist ein zentrales Anliegen bei allen Herstellungsverfahren. Die Einhaltung hoher Standards beim Zählen, Analysieren und Klassifizieren der oft mikrometergroßen Verunreinigungen und Fremdpartikel ist wichtig für:
| Standardverfahren für die Sauberkeitsprüfung: Vorbereitung (Schritt 1–3) und Untersuchung (Schritt 4–6). Schritt 1: Extrahieren, Schritt 2: Filtern, Schritt 3: Gewichten, Schritt 4: Prüfen, Schritt 5: Kontrollieren, Schritt 6: Ergebnisse. |
Internationale und nationale Richtlinien beschreiben die Verfahren und Dokumentationsanforderungen zur Bestimmung der Partikelkontamination an wichtigen maschinell hergestellten Teilen, da diese Partikel die Lebensdauer von Teilen und Komponenten direkt beeinflussen. Die geltenden Normen verlangen detaillierte Informationen über die Art der Verunreinigung, z. B. Partikelanzahl, die Partikelgrößenverteilung und Partikeleigenschaften. Das CIX100 Sauberkeitsprüfsystem ist auf die Sauberkeitsanforderungen moderner industrieller sowie nationaler und internationaler Richtlinien ausgelegt und erweitert die Möglichkeiten der Partikeltypisierung mittels Deep Learning KI-Technologie. |
Einfach und zuverlässigDie nahtlos integrierte Hard- und Software ergibt ein langlebiges System mit hohem Durchsatz, das zuverlässige und genaue Daten liefert.
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Maximale Produktivität dank intuitiver Steuerung
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Schnelle Live-AnalyseDie innovative All-in-One-Scan-Lösung erkennt reflektierende (metallische) und nicht reflektierende Partikel doppelt so schnell wie herkömmliche Methoden, die zwei separate Aufnahmen erfordern. Die sofortige Rückmeldung der gezählten und sortierten Partikel hilft, schnell Entscheidungen zu treffen.
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Effiziente DatenbeurteilungLeistungsstarke und einfach zu bedienende Tools zur Unterstützung bei der Überarbeitung der Prüfdaten. Hohe Flexibilität wird durch die Unterstützung aller internationalen Normen und Standards gewährleistet. Die übersichtliche Darstellung aller relevanten Prüfergebnisse spart Zeit.
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Konformität bei der BerichtserstellungDie Berichterstellung mit einem Klick erfüllt die Anforderungen und Methoden der internationalen Normen und Standards. Die Anpassung der Berichte (z. B. durch Aufnahme der Partikelmorphologie) erleichtert die Einhaltung von Unternehmensstandards.
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可靠
Zuverlässige, schlüsselfertige Systemlösung:
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Probenhalterungen sorgen für eine größere Vielseitigkeit des SystemsDas CIX100 System unterstützt verschiedene Probenhalterungen mit kreisförmigen oder rechteckigen Prüfbereichen. Dazu gehören Halterungen mit weißem oder schwarzem Hintergrund für eine Filtermembran mit einem Durchmesser von 25 mm, 47 mm und 55 mm, Halterungen für Klebestreifen-Proben, Halterungen mit ebener Oberfläche für metallurgische Anwendungen und Halterungen für Partikelfallen. | ||
Runde Probenhalterung mit weißem und schwarzem Hintergrund für Filtermembran mit einem Durchmesser von 25 mm (links), 47 mm (mittig) und 55 mm (rechts). | Probenhalterung für Partikelfallen | Probenhalterung für Klebestreifen-Probe |
Direkte Überprüfung mehrerer Proben nach einem StapelscanDas CIX100 System bietet einen Stapel-Modus zur gleichzeitigen Prüfung mehrerer Proben. Die Scans können ähnliche Prüfkonfigurationen oder individuelle Einstellungen für jede Probe haben. Nach der Prüfung kann das Ergebnis jeder Probe separat überprüft und ein Bericht erstellt werden. Reproduzierbarkeit und Wiederholbarkeit
Hervorragende optische Qualität
Optimierte Reproduzierbarkeit
Stabiles Messsystem
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简单直观
Maximale Produktivität dank intuitiver Steuerung
Schritt-für-Schritt-Arbeitsablauf
Vorkonfiguriertes und vorkalibriertes System
Moderne Mikroskopie
Bildanalyse basierend auf Deep Learning Technologie
Speicherung und gemeinsame Nutzung
Management-Tools
Touchscreen
Prüfkonfigurationen
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快速
Schnelle Live-Analyse und Überprüfung
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Das CIX100 System bietet dank einer patentierten* Polarisationsmethode eine leistungsstarke Bildaufnahme und eine präzise Live-Analyse von reflektierenden und nicht reflektierenden Partikeln im Bereich von 2,5 µm bis 42 mm in einem einzigen Durchlauf. Mit dieser All-in-one-Scan-Lösung können Scans doppelt so schnell durchgeführt werden wie mit der klassischen Methode (Inspector Serie). Gezählte und sortierte Partikel werden während der Erfassung live angezeigt und in Größenklassen unterteilt, was die direkte Entscheidungsfindung unterstützt und im Falle eines fehlgeschlagenen Tests eine schnelle Reaktionszeit gewährleistet. Alle relevanten Daten werden während der Prüfung live auf einem Bildschirm angezeigt, sodass der Prüfer die Prüfung stoppen oder unterbrechen kann, wenn eine Prüfung fehlschlägt. |
Datenerfassung in einem einzigen Scan
Ein innovatives Polarisationsverfahren, das auf Wellenlängentrennung und Farberkennung basiert, erfasst sowohl reflektierende (metallische) als auch nicht reflektierende Partikel in einem einzigen Durchlauf. Diese Auslegung für hohen Durchsatz, im Mikroskopstativ integriert, ermöglicht doppelt so schnelle Scans wie die klassische Methode (Inspector Serie) und eliminiert bewegliche Komponenten aus dem optischen Strahlengang (wie z. B. den Polarisator, der die Systemstabilität beeinträchtigen und zu falschen Ergebnissen führen könnte). Diese All-in-one-Scan-Technik erhöht die Anzahl geprüfter Partikel, reduziert die Kosten pro Test und verkürzt die Reaktionszeit im Falle eines fehlgeschlagenen Tests.
1: Klassisches Verfahren, 2: Single-Scan-Verfahren
(1-1: Erstes Bild von nicht reflektierenden Partikeln, 1-2: Zweites Bild von reflektierenden Partikeln, 2: Single-Scan-Lösung: kombiniert)
Ein innovatives Polarisationsverfahren erfasst sowohl reflektierende (metallische) als auch nicht reflektierende Partikel in einem einzigen Scan. 53
Überprüfung von Partikeln in Echtfarben
Durch die Aktivierung des Echtfarbenmodus können Benutzer Partikel in ihren tatsächlichen Farben anzeigen und zusätzliche Informationen erhalten, um den Partikeltyp als metallisch oder nichtmetallisch zu identifizieren.
Der All-in-One-Scan zeigt alle reflektierenden Partikel in polarisiertem Licht blau an, was darauf hinweist, dass diese Partikel metallisch sind. In diesem Modus wird die blaue Farbe der reflektierenden Partikel unterdrückt und die echten Farben aller Partikel werden im Hellfeldbild angezeigt. Tatsächlich blaue Materialien bleiben blau, während Metalle ihren metallischen Glanz und die materialtypischen Reflexionen zeigen.
Mit diesen hilfreichen Darstellungen können Prüfer die Art der einzelnen Partikel besser erkennen und den Partikeltyp schnell bestätigen.
Partikel, wie sie durch das System während der Erkennung und Analyse angezeigt werden. Die blaue Farbe zeigt, dass diese Partikel metallisch sind. | |
Dieselben Partikel wie im Überprüfungsmodus in tatsächlicher Farbe mit dem U-ANT-Filter und dem Farbkorrekturmodus. Der Partikel wird als metallisch bestätigt. |
Identifizierung der Flächendeckung des Filters
Das Probenübersichtsbild wird zu Beginn der Probenprüfung erstellt und zeigt den gesamten Filter bei niedriger Vergrößerung an. Das Übersichtsbild hilft vor dem Beginn der Prüfung die Flächendeckung des Filters oder Partikelhäufungen zu identifizieren. Ist die Filterzuweisung höher als gewünscht, wird der Bediener automatisch informiert und kann entsprechend reagieren. |
Überblick über die Probenangaben
Mit der Prüfkonfiguration werden alle Parameter der Untersuchung eingestellt. Der Abschnitt mit den Probenangaben listet die wichtigsten Daten auf. |
Live-Analyse für direkte Rückmeldung der Ergebnisse
Verunreinigungen werden automatisch analysiert und nach Größenklassen entsprechend der gewählten Norm bzw. dem gewählten Standard sortiert und farblich markiert, um deutlich anzuzeigen, welche Größenklasse einen vordefinierten Grenzwert überschreitet. Zur Erhöhung der Zuverlässkeit wird die Einordnung in die verschiedenen Partikelklassen in einem statistischen Kontrolldiagramm visuell dargestellt. Es werden vordefinierte akzeptable Partikelzahlen pro Größenklasse angezeigt, und die Probe kann noch vor der vollständigen Erfassung der Membran validiert (OK) oder abgelehnt (NOK) werden. Die Software CIX100 v. 1.6 ist in den Bereichen der Elektromobilität und der Medizintechnik erforderlich und ermöglicht Bedienern, Genehmigungsgrenzen für einzelne Partikeltypen festzulegen. Ein akustisches Signal kann eingeschaltet werden, wenn die Genehmigung NOK lautet oder die Prüfung abgeschlossen ist. |
Erkennung von dunklen, hellen, kleinen und großen Partikeln
Live-Verarbeitung und Klassifizierung von kleinen und großen Partikeln nach internationalen Normen und Standards (2,5 µm bis 42 mm). Die Aufnahme von Mosaikbildern („Stitching“) rekonstruiert automatisch Bilder von großen Partikeln. Erfassung dunkler Partikel auf hellem Hintergrund oder umgekehrt. |
Zeitinformation
Die zur Probenerfassung noch erforderliche Restzeit wird klar angezeigt. |
信息丰富
Flexibel für Auswertung und Überarbeitung |
Alle Partikel- und Klassifizierungstabellen, der Gesamtsauberkeitscode, die Partikelposition und die verwendete Norm werden in einer Ansicht angezeigt. | Das OLYMPUS CIX100 System kombiniert leistungsstarke, einfach zu bedienende Werkzeuge zur Überarbeitung von Prüfdaten mit einer schnellen, geführten Partikelprüfung. Die benutzerfreundliche Reklassifizierungsfunktion bietet Flexibilität und unterstützt internationale Normen und Standards. Miniaturansichten aller vom System erkannten Verunreinigungen sind mit Maßangaben verknüpft, sodass sich die Daten leicht überprüfen lassen. Die Angaben über eine Verunreinigung sind leicht zu finden. Während des Überprüfungsverfahrens werden die Ergebnisse aktualisiert und automatisch in allen Ansichten und Größenklassen angezeigt. Das spart Zeit durch die übersichtliche Darstellung aller relevanten Prüfergebnisse. |
Direkte Identifizierung dank detaillierter Dateneinblicke |
Visualisierung verschiedener Partikelansichten, z. B. der größten reflektierenden oder nichtreflektierenden Partikel | Klare Anordnung von Bildern, Daten und Ergebnissen zur sofortigen Entscheidungsfindung für die Weiterverarbeitung. Übersichtliche Anzeige der kompletten Prüfdaten in verschiedenen wählbaren Ansichten. Anzeige von Partikelbildern, geordnet nach Größe, aller Partikeltypen (reflektierend oder nichtreflektierend). |
Überarbeitung von Prüfdaten |
Basierend auf den gespeicherten Informationen zur Partikelposition positioniert sich der Objekttisch direkt an einer ausgewählten Partikelposition zur weiteren Untersuchung und Überarbeitung, beispielsweise mit einem erweiterten Fokusbild (All-in-Focus-Bild, EFI) oder einer maßgeschneiderten Lösung für eine Höhenmessung. |
Trendanalyse |
Die statistische Datenanalyse kann über die Zeit durchgeführt und grafisch dargestellt werden. |
Dokumentation von Partikel-Momentaufnahmen |
Einzelne Bilder von Verunreinigungen können aufgenommen und zur manuellen Messwertbestätigung und verbesserten Dokumentation verarbeitet werden. |
Einfache Datenüberprüfung |
Anzeige von Partikelbildern, geordnet nach Größe, aller Partikeltypen (reflektierend oder nichtreflektierend). | Miniaturansichten der Verunreinigungen sind zudem mit ihren Positionen und Abmessungen verknüpft. Mit der Auswahl einer Miniaturansicht wird das System automatisch zu der Verunreinigung geführt. |
Zuverlässige Ergebnisse |
Sortier- und Partikeltabellen zeigen die Ergebnisse entsprechend der ausgewählten Norm an. | Die Sortier- und Partikeltabellen zeigen die Ergebnisse entsprechend der ausgewählten Normen bzw. Partikeldaten an. |
Unterstützte StandardsDie Prüfung wird entsprechend allen wichtigen internationalen Normen der Automobil-, Luft- und Raumfahrtindustrie durchgeführt:
ASTM E1216-11:2016
CIX Erläuterung der Normen und Standards als Download (PDF) Es besteht aber auch die Möglichkeit, kunden- oder anwendungsspezifische Standards einzurichten. Berichte können einfach an die Anforderungen jedes Unternehmens angepasst werden. |
Direktes Feedback |
| Sofortige Berechnung und Darstellung der Vorschriften der Gesamtklassifizierung der Kontaminationsklasse (CCC) gemäß der gewählten Norm. |
Präzise konform |
Verschiedene Normen für die Technische Sauberkeit | Ergebnisse können mit einem Klick auf alle Normen und Standards umgerechnet werden. |
Schnell und einfach: Prüfdaten überprüfen, überarbeiten und neu berechnenDer Prüfer kann die Daten sehr einfach überprüfen. Leistungsstarke Software-Tools, wie zum Löschen, Teilen und Zusammenlegen vereinfachen das Überprüfen der Daten. |
Lösung zur HöhenmessungDie Extended Focus Imaging Funktion (EFI) des CIX100 Systems erfasst Bilder von Proben, deren Höhe über die Schärfentiefe des Objektivs hinausgeht, und stapelt diese, um ein vollständig fokussiertes Bild zu erstellen. Das System kann außerdem durch eine Lösung zur Höhenmessung bestehend aus einem 20X-Objektiv und einer speziellen Software zur Erfüllung der Anforderungen nach VDA 19 für Höhenmessungen ergänzt werden. Für ausgewählte Partikel wird die Höhenmessung entweder automatisch oder manuell durchgeführt. Der berechnete Höhenwert wird als zusätzliches Datenfeld im Ergebnisblatt aufgeführt. |
Unternehmensstandards definieren
Die Prüfung wird entsprechend allen hauptsächlichen internationalen Normen der Automobil-, Luft- und Raumfahrtindustrie durchgeführt. Es besteht aber auch die Möglichkeit, kunden- oder anwendungsspezifische Standards einzurichten.
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合规性
Effiziente Berichterstellung
Einfach zu verwendende vordefinierte Vorlagen
Effizient und einfach
Einfacher Datenexport
Langfristige Datenspeicherung
Probenangabenbereich
Klassifizierungstabelle
Bilder der größten Partikel
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技术参数
Hardware
Einschränkungen für die Betriebsumgebung des Systems
Software
Optionale Lösung CIX-S-HM
Umweltgesetze und -bestimmungen
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