Desarrollado para su uso en los sectores industriales de acero, automoción, electrónica, entre otros, el microscopio GX53 ofrece imágenes nítidas que pueden ser difíciles de captar con los métodos de observación convencionales de microscopía. Cuando se combina con el software de análisis de imágenes PRECiV, el microscopio agiliza el proceso de inspección desde la observación hasta el análisis de imágenes y la elaboración de informes.
Observe, mida y analice rápidamente estructuras metalúrgicas
1. Métodos de observación combinados dedicados a proporcionar imágenes excepcionales 2. Fácil creación de imágenes panorámicas 3. Creación de imágenes de enfoque «todo en uno» 4. Captura de áreas tanto claras como oscuras |
1. Software desarrollado para la ciencia de los materiales 2. Análisis metalúrgicos que cumplen con los estándares industriales |
Es posible llevar a cabo sus observaciones, análisis de resultados e informes de forma cómoda incluso si es un operador principiante.
1. Fácil recuperación de parámetros para la configuración del microscopio 2. Guía del usuario que ayuda a simplificar análisis avanzados 3. Eficiente generación de informes |
La reconocida tecnología óptica y de procesamiento de imágenes brinda imágenes claras y resultados fiables.
1. Rendimiento óptico fiable: Control de la aberración de frente de onda 2. Imágenes claras: corrección de sombreado en la imagen 3. Temperatura de color uniforme: Iluminación con LED blanco de alta intensidad 4. Mediciones de precisión: Calibración automática | Tecnología avanzada para procesamiento de imágenes |
Seleccione los componentes que requiere para su aplicación.
1. Formar el sistema a su manera: Sistema completamente personalizable con una variedad de componentes opcionales |
Las diversas capacidades de observación del microscopio GX53 proporcionan imágenes claras y nítidas para que detecte con fiabilidad los defectos de sus muestras. Las nuevas técnicas de iluminación y opciones de adquisición de imágenes del software de análisis de imágenes PRECiV le ofrecen más opciones para evaluar sus muestras y documentar sus hallazgos.
Las lentes de objetivos son cruciales para el rendimiento de un microscopio. Los nuevos objetivos MXPLFLN añaden profundidad a la serie MPLFLN, ya que llevan un procesamiento de imágenes de iluminación episcópica mediante la maximización al mismo tiempo de la apertura numérica y la distancia de trabajo. Las resoluciones más altas con magnificaciones de 20X y 50X por lo general significan distancias de trabajo más cortas, lo que conlleva a que una muestra o un objetivo se retraiga durante el intercambio de objetivos. En muchos casos, la distancia de trabajo de 3 mm de la serie MXPLFLN elimina este problema, lo que permite inspecciones más rápidas con menos posibilidades de que el objetivo entre en contacto con la muestra.
Más información sobre los objetivos de la MXPLFLN>>
La tecnología MIX combina el campo oscuro con otro método de observación, como el campo luminoso o la polarización, para permitirle observar muestras que son difíciles de ver con los microscopios convencionales. El iluminador LED circular se dota de una función de campo oscuro direccional que lleva la iluminación a uno o más cuadrantes en un momento específico, lo que reduce el halo de una muestra para examinar mejor la textura superficial.
Corte transversal de una placa de circuito impreso
Campo luminoso | Campo oscuro | MIX: Campo luminoso + Campo oscuro |
Acero inoxidable
Campo luminoso | Cuadrante de campo oscuro | MIX: Cuadrante de campo luminoso + campo oscuro |
Mediante la alineación de múltiples imágenes (MIA), es posible unir imágenes con tan solo mover los tornillos XY de la platina manual (la platina motorizadas es opcional). El software PRECiV utiliza el reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica, por lo que es ideal para inspeccionar las condiciones de carburación y flujo del metal.
Flujo metálico de un perno
La posición de la platina se ajusta con el mando tornillo (perilla) XY. | Es posible observar la condición completa del flujo de metal. |
La función de imagen de enfoque extendido (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura se extiende más allá de la profundidad de enfoque. La función EFI permite apilar esta imágenes juntas para crear una imagen focal «todo en uno» de la muestra. Incluso al analizar una muestra transversal con una superficie irregular, la función EFI crea imágenes totalmente enfocadas.
La función EFI se ejecuta a través de un eje Z manual o motorizado y crea un mapa de alturas para visualizar las estructuras.
Piezas de resina
Se ajusta la altura del objetivo con el tornillo (perilla) de enfoque. | La función EFI captura y apila de forma automática múltiples imágenes para crear una sola imagen de la muestra enfocada totalmente. | Se crea una imagen completamente enfocada. |
Al usar el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, siglas en inglés) ajusta las diferencias en el brillo dentro de una imagen para reducir los destellos (o deslumbramiento). Además, ayuda a potenciar el contraste en imágenes de bajo contraste. El alto rango dinámico (HDR) puede ser usado para observar estructuras diminutas en dispositivos electrónicos y observar límites de grano metálico.
Lingote de oro
Algunas áreas presentan deslumbramiento. | Algunas áreas oscuras y brillantes están siendo expuestas de forma clara gracias al HDR. |
Recubrimiento de cromo por difusión
Presenta bajo contraste y desenfoque. | Contraste potenciado con el HDR. |
Estos son sólo algunos ejemplos de lo que puede obtener al utilizar los diferentes métodos de observación.
Campo luminoso | Campo oscuro |
Campo uminoso: método de observación común para observar la luz reflejada de una muestra iluminándola directamente. Campo oscuro: método usado para observar la luz dispersa o difractada de una muestra; de esta manera, las imperfecciones, como pequeños rasguños o defectos, destacan claramente.
Campo luminoso | Observación DIC |
Contraste de interferencia diferencial (DIC): método de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.
Campo luminoso | Observación de luz polarizada |
Luz polarizada: método de observación que resalta la textura y el estado de los cristales de un material para observar las estructuras metalúrgicas, como el patrón de crecimiento del grafito en la fundición nodular y los minerales.
Campo luminoso | MIX: Campo luminoso + Campo oscuro |
MIX: método de observación que combina las técnicas de campo luminoso y el campo oscuro para mostrar el color y la estructura de una muestra.
La imagen observada bajo el previo modo MIX reproduce de forma clara el color y la textura del dispositivo, así como el estado de la capa adhesiva.
Juntos, el microscopio GX53 y el software PRECiV admiten métodos de análisis metalúrgicos que cumplen con diferentes normas industriales. Gracias a la guía del usuario paso a paso, es posible analizar las muestras de forma rápida y sencilla.
> Haga clic aquí para obtener detalles sobre PRECiV
La solución Count and Measure (para recuento y medición) aplica métodos de umbral avanzados para clasificar objetos —como partículas y rasguños— a partir del fondo y de manera fiable. Existen más de 50 parámetros de medición y clasificación disponibles para diferentes objetos que envuelven propiedades de forma, tamaño, posición y píxeles.
Software convencional | Microestructuras de acero grabada | PRECiV |
Resultados de clasificación de granos
Mida la dimensión/tamaño de grano y analice la microestructura del aluminio, estructuras de cristal del acero —como la ferrita y la austenita— u otros metales.
Estándares soportados: ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T
Microestructura de granos ferríticos
Solución de intersección para el dimensionamiento de grano | Solución de planimetría para el dimensionamiento de granos |
El software evalúa la nodularidad y el contenido de grafito en muestras de hierro fundido (nodular y vermicular). A continuación, clasifica la forma, distribución y tamaño de los nodos de grafito.
Estándares soportados: ISO, NF, ASTM, KS, JIS, GB/T
Fundición dúctil de hierro que muestra grafito nodular
Solución para la fundición de hierro
Es posible clasificar las inclusiones no metálicas que han sido halladas manualmente en la muestra con una imagen del campo más dañado o de peor inclusión.
Estándares soportados: ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI
Acero con inclusiones no metálicas
Solución para el campo de peor inclusión
Es posible comparar fácilmente imágenes en vivo o fijas con imágenes de referencia a modo de escala automática. Esta solución comprende imágenes de referencia de conformidad con varios estándares; es posible adquirir imágenes de referencia adicionales por separado. Varios modos son soportados, como la superposición en vivo y la comparación lado a lado.
Estándares soportados: ISO, EN, ASTM, DIN, SEP
Acero con inclusiones no metálicas | Microestructura con granos ferríticos | ||
Soluciones | Normas soportadas |
Intersección de granos | ISO 643: 2012; JIS G 0551: 2013; JIS G 0552: 1998; ASTM E112: 2013; DIN 50601: 1985; GOST 5639: 1982; GB/T 6394: 2002 |
Planimetría de granos | ISO 643: 2012; JIS G 0551: 2013; JIS G 0552: 1998; ASTM E112: 2013; DIN 50601: 1985; GOST 5639: 1982; GB/T 6394: 2002 |
Hierro fundido (fundición gris) | ISO 945-1: 2008, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 2010, ASTM E2567: 16/2013, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
Campo de peor inclusión | ISO 4967 (método A):2013; JIS G 0555 (método A): 2003; ASTM E45 (método A): 2013; EN 10247 (métodos P y M): 2007; DIN 50602 (método M): 1985; GB/T 10561 (método A): 2005; UNI 3244 (método M): 1980 |
Comparación de diagramas | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, SEP 4505: 1978, SEP 1572: 1971, ISO 1520:1998 |
Espesor de revestimientos | EN 1071: 2002; VDI 3824: 2001 |
Utilice el microscopio GX53 y el software PRECiV para adquirir imágenes de diversas muestras, realizar diversos análisis y generar informes profesionales.
> Haga clic aquí para obtener detalles sobre PRECiV
Las funciones codificadas integran los ajustes de hardware del microscopio con el software de análisis de imágenes PRECiV. Tanto el método de observación, la intensidad de la iluminación como la magnificación pueden ser registrados y almacenados con las imágenes asociadas. Los parámetros se reproducen fácilmente para que diferentes operadores puedan llevar a cabo las mismas inspecciones de calidad mediante una pequeña capacitación.
Los operadores usan diferentes parámetros. | Recuperar la configuración del dispositivo con el software PRECiV. | Todos los operadores pueden usar y aplicar la misma configuración. |
El software guía a los usuarios paso a paso a través de un proceso de inspección que cumple con el estándar industrial seleccionado. Los operadores pueden llevar a cabo análisis avanzados con tan sólo seguir la guía proporcionada en la pantalla.
A menudo, la creación de un informe puede llevar más tiempo que capturar la imagen y adquirir las medidas. El software PRECiV proporciona una creación de informes intuitiva para producir repetidamente informes sofisticados basados en plantillas predefinidas.
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (con corrección infinita) | |
---|---|---|
Estativo del microscopio | Iluminación de luz reflejada |
Selección manual de campo luminoso/campo oscuro por espejo
Conmutador de parada de campo/apertura manual con centrado Fuente de luz: LED blanco (con Control de intensidad de luz [Light Intensity Manager]) / 12 V, lámpara halógena de 100 W/lámpara de mercurio de 100 W/fuente de guía de luz Modo de observación: campo luminoso, campo oscuro, contraste de interferencia diferencial (DIC)*1, polarización simple*1, observación MIX (campo oscuro de cuatro direcciones)*2 *1 Se requiere el deslizador para uso exclusivo en esta observación. *2 Se requiere la configuración de observación MIX. |
Estativo del microscopio | Impresión de escala | Todos los puertos en posición invertida (arriba/abajo) desde las posiciones de observación, visualizadas a través del ocular |
Estativo del microscopio | Puerto frontal de salida (opcional) | Cámara y sistema DP (imagen invertida, adaptador de cámara especial para GX) |
Estativo del microscopio | Puerto lateral de salida (opcional) | Cámara y sistema DP (imagen vertical) |
Estativo del microscopio | Sistema eléctrico |
Iluminación de luz reflejada
Fuente de alimentación LED integrada destinada a la iluminación de luz reflejada Disco de intensidad de luz continuamente variable Clasificación de entrada 5 V CC, 2,5 A (adaptador de CA de 100 a 240 V, CA de 0,4 A, 50 Hz / 60 Hz) Iluminación de luz transmitida (requiere la fuente de alimentación opcional BX3M-PSLED) Disco de intensidad de luz continuamente variable por voltaje Clasificación de entrada 5 V CC, 2,5 A (adaptador de CA de 100 a 240 V, CA de 0,4 A, 50 Hz / 60 Hz) Interfaz (comunicación) externa: requiere la caja de control opcional BX3M-CBFM. Conector de portaobjetivos codificado × 1 Conector MIX Slider (U-MIXR-2) × 1 Conector de auricular (BX3M-HS) × 1 Conector de auricular (U-HSEXP) × 1 Conector RS-232C × 1, conector USB 2.0 × 1 |
Estativo del microscopio | Enfoque |
Cremallera y piñón con guía de rodillo
Empuñadura de ajuste grueso (macrométrico) y fino (micrométrico); recorrido de enfoque de 9 mm (2 mm por encima y 7 mm por debajo de la superficie de la platina) Carrera de empuñadura fina por rotación: 100 μm (escala mínima: 1 μm) Recorrido de tornillo macrométrico (grueso) por rotación: 7 mm Con anillo de ajuste de torsión para enfoque grueso Con tope de límite superior para enfoque grueso |
Tubos | Campo amplio (FN 22) | Invertido: Binocular (U-BI90, U-BI90CT), binocular inclinable/basculante (U-TBI90) |
Portaobjetivos |
Muescas de campo luminoso: de 4 a 7 piezas; tipo: manual/codificado; centrado: activado/desactivado
Muesca de campo luminoso/campo oscuro: de 5 a 6 piezas; tipo: manual/codificado; centrado: activado/desactivado | |
Platina |
Platina con empuñadura derecha para GX (recorrido X/Y: 50 × 50 mm, carga máxima 5 kg)
Platina de empuñadura derecha flexible; platina de empuñadura corta izquierda (cada recorrido X/Y: 50 × 50 mm, carga máxima 1 kg) Platina deslizante (carga máx. 1 kg) Conjunto de muescas de lágrima y largas | |
Peso | Aproximadamente 25 kg (20 kg corresponden al estativo de microscopio) | |
Entorno ambiental |
・Uso externo
Temperatura ambiente: de 5 a 40 °C (de 45 a 100 °F) Humedad relativa máxima: 80 % para temperaturas de hasta 31 °C (88 °F) [sin condensación] En caso de más de 31 °C (88 °F), la humedad relativa disminuye de modo lineal a un 70 % con 34 °C (93 °F), 60 % con 37 °C (99 °F), y 50 % con 40 °C (104 °F). ・Nivel de contaminación: 2 (conforme a la normativa IEC60664-1) ・Categoría de instalación/sobretensión: II (conforme a la normativa IEC60664-1) ・Fluctuación del voltaje de suministro: ± 10 % |
您即将被转换到我们的本地网站。