Solutions de microscopie pour
la fabrication de circuits imprimés
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Fabrication du substrat
Fabriquer un substrat à l’aide de verre et d’époxy, puis le recouvrir d’un film de cuivre. La rugosité de la surface du film de cuivre doit faire l’objet d’une inspection attentive, car elle affecte la qualité du circuit imprimé.
Analyse de la surface du substrat de cuivre
D’infimes défauts de surface affecteront la qualité du substrat. Les opérateurs doivent détecter et mesurer la taille de ces défauts (échelle d’un micron) sur la surface du substrat de cuivre.
Notre solution
Le microscope numérique DSX1000 permet d’obtenir des images 3D, permettant de facilement analyser l’état de la surface du substrat. Le microscope peut également mesurer la largeur et la profondeur de ces défauts infimes.
 Microscope numérique, gamme DSX |  Analyse de la surface du substrat |
Notes d’application
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Analyse de la surface du substrat de cuivre
Une surface de substrat de cuivre rugueuse affectera la qualité de la stratification, il est donc essentiel de mesurer la rugosité de la surface du substrat de cuivre pour garantir la qualité des circuits imprimés. Il n’est pas possible d’utiliser un instrument de mesure de la rugosité par contact, car celui-ci créerait des défauts sur le substrat de cuivre.
Notre solution
Le microscope à balayage laser de la gamme OLS permet d’effectuer des mesures sans contact de la rugosité de la surface d’un substrat en cuivre. Il analyse sans endommager la surface et peut mesurer une surface rugueuse avec plus de précision qu’un interféromètre, grâce à sa résolution latérale élevée.
 Microscope à balayage laser, gamme OLS | Analyse de la surface du substrat |
Notes d’application
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