Evident LogoOlympus Logo
资源库
应用说明
返回到资源库

エッジに近い領域の探傷


エッジに近い領域の探傷

エッジやネジ部に近い領域の探傷に影響を与え、探傷の妨害となるエッジ効果を除去または低減するためにいくつかの手法を適用することが可能です。低周波数では、渦電流が遮蔽の径の外へ僅かに伝播します。

1. 遮蔽

遮蔽は、エッジ効果を避けるために最も多く使用される手法です。フェライトは、使用される材質の中で最も良い材質で、遮蔽する内径の特定領域のエッジ効果を減少させます。

2. 差動コイル

差動コイルを使用することは、エッジ効果などの外部干渉の回避に役立ちます。コイルをエッジに対して同じ距離を保つ事で、オーバーラップしていても探傷ことが可能です。

3. 一定の距離の維持

ガイドを使用して、エッジやネジ部との距離を一定に保つことが可能です(図1及び図2参照)。

図1

図1

図2

図2

図3

図3

4. 指向性プローブの使用

指向性プローブは、その感度が90度では極めて低いため、エッジ効果を受けやすい探傷に有用です。透明なレンズ付のプローブをスライドさせる反射は、この事の好例です(図3参照)。90度方向の感度が低いため、エッジと二枚の板やシート間の継ぎ目が無視されます。真っ直ぐなエッジがガイドとして有用となります(図4参照)。

図4

図4

5. エッジまたは継ぎ目での指向性プローブの使用

継ぎ目またはエッジで発生する信号は、多くの場合、欠陥とは区別可能です(図5参照)。

図5

図5

6. 試験材料に類似した材料をプローブに設置

プローブに試験材料に類似した材質の一片を当てることで渦電流の通路を与え、ガイドとしても使用可能です(図6参照)。

図6

図6

Olympus IMS

应用所使用的产品
スライドプローブは、複数並んで列を成しているファスナー群の探傷用のプローブです。 リフレクションモードで使用し、表面および近表面の欠陥を検出します。 スライドプローブには、多様なファスナーサイズに対応することができる調整可能タイプ、特定の検査手順に使用する固定タイプの2つのタイプを用意しています。
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country