电子工业

オリンパスの電子製品ソリューション

電子製品は小型化の一途にあり、コンポーネントも同様です。 超小型回路、半導体ウェハなどの電子製品は、微小なごみが混入しても故障の原因となるため、検査は困難を極めます。

製造現場では、回路の半田付け箇所、プリント基板のワイヤの状態を点検したり汚染を見つけたりするために、高品質の光学系を搭載した顕微鏡が用いられます。 非接触レーザー共焦点顕微鏡を用いて、デバイスで使用されるコンポーネントの堅牢性を測定し、厳しい基準に確実に適合させるアプリケーションもあります。

5G機器の測定および検査ソリューション

半導体製造向け顕微鏡ソリューション

プリント基板製造向け顕微鏡ソリューション

リチウムイオン電池製造向け顕微鏡ソリューション

その他の資料

博客

组合使用不同观察方法，可以在晶圆缺陷检测中看到更多细节

薄膜中的静电和表面粗糙度：一项实验

面向5G时代，激光共聚焦显微镜在铜箔粗糙度测量中的应用

使用PRECiV工业显微镜软件实现电子产品制造中的质量控制

高通量计量和检测的污染控制智慧之道

DSX1000数码显微镜的5大优势特性

什么是数码显微镜？

ASNT 2018 Wrap Up

从宏观到微观：数码显微镜如何改变工业检验

玩具制造的麻烦：探测流行玩具中的有害物质

硅片获取高质量图像不会损坏成品

利用图像分析软件自动探测碲锌镉中的颗粒

使用Vanta手持式光谱分析仪检测消费产品

LED照明在显微镜检查应用中的发展趋势

体视显微镜的应用

全电动显微镜系统的好处

充分利用科勒照明

图像数据库能为您做些什么？

观看新发布的教学视频，充分利用您的测厚仪

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アプリケーションノート

プリント基板（PCB）における不良解析の課題と解析事例紹介

Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser

High-precision three-dimensional measurement : Measuring the shape of microchannels with a 3D laser microscope (Japanese only)

使用数码显微镜测量印制电路板的线路形状

清晰的图像是成功完成质量控制的关键：检测印制电路板玻璃环氧基板中玻璃纤维的剥落情况

使用数字式显微镜检测半导体晶圆上的制造缺陷

使用数字显微镜获取层叠陶瓷电容器的清晰图像和精确尺寸测量

在划片过程完成后使用数码显微镜测量集成电路碎屑的体积

数码显微镜的深景深如何能够实现连接器针脚的全面检验

使用数码显微镜检验接合线

Inspecting the Cavity Profile of Xenon Difluoride (XeF2) Etched Silicon (Si) Wafers for Suspended Antenna-Coupled Nanothermocouples

测量键合引线球状端部的轮廓

测量感光耐蚀膜的厚度

集成电路微型凸块高度的测量

Measuring the shape of scratches on vehicle-mounted camera lenses

Measuring the shape of an automotive millimeter-wave radar’s circuit board

Measuring the Layer Profiles of Thin-Film Solid-State Lithium-Ion Batteries Manufactured Using the Inkjet Technique

测量引线框晶片垫的表面粗糙度

Measuring the Roughness of Lithium-Ion Battery Electrodes Using a Laser Microscope

测量锂离子电池电极集电器的表面粗糙度

Using a microscope to inspect the solder wettability of mounting components

Observing the Surface Condition of Separators in Lithium-Ion Batteries Using a Scanning Probe Microscope (SPM) Combined with a Laser Microscope

评估存储卡的表面粗糙度

晶圆样品上的电路图案检测

Using Image Analysis Software to Measure Throwing Power or PCB Copper Plating Thickness Uniformity

Wiring Inspections for Flexible Printed Circuit Boards (PCBs)

凸点分离后键合面的金面积比测量

印刷电路板（PCB）通孔中的污染物

电容器压纹载带尺寸测量

Step measurement of transparent film applied to a glass surface

Evaluating the Coating on a Smartphone Housing / Film thickness measurement and 3D surface profile measurement using a laser microscope

Roughness Evaluation of the Inner Lead of a Lead Frame / Surface roughness measurement of a micro area using a laser microscope

LCD扩散板的表面轮廓评估/使用激光显微镜进行非接触式三维形状测量

Evaluating the Shape of the Landing Zone Pattern and Contaminants on a Hard Disk / All-in-one system of optical, laser, and probe microscope capabilities provides seamless measurement from the millimeter to nanometer level.

LCD导光板的表面轮廓/使用激光显微镜进行非接触式三维形状测量

Quantitative Investigations of the Interconnect

Looking towards a Future of Affordable Solar Energy

Studying the Electro-mechanical Behavior of Thin Films

使用奥林巴斯OLS4100激光扫描共聚焦显微镜进行柔性印制基板的表面粗糙度测量

Evaluating the Contacting Terminals of Wafer Level Chip Size Packages (CSPs) using the Olympus OLS4100 Laser Confocal Microscope

使用奥林巴斯OLS5000激光共聚焦显微镜测量印制电路板的表面粗糙度

Sectioning Analysis for Ball Grid Array (BGA) Surface Mounting of Semiconductor Package using the Olympus OLS5000 Laser Confocal Microscope

Setting standards in optical metrology at the PTB

Inspection of PGA packaging

BGA横截面分析

Semiconductor Bear Wafer Lasermark

用于替代能源的替代材料

Maximizing Data Recovery: Utilizing 3D Digital Laser Microscopy to Image Damaged Optical Media

The Benefits of Handheld XRF for Medical Device RoHS Compliance

The future of industrial quality control

Quilt Packaging: Lining Up an Array of Opportunities

HHXRF Analyzers for Screening Consumer Goods for Lead (Pb), Cadmium (Cd) and Other Metals

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ビデオ

RVI Tutorial Video Series—Inspection Management with the IPLEX™ NX Videoscope

IE Japan Seminar: DSX1000 Solution

IE Japan Seminar: Microscope Solution

IE Japan Seminar: Stereo Microscope and Digital Camera Solution

DSX1000: Demonstration Guaranteed The Accuracy and Repeatability

DSX1000: Demonstration Stiching Function

DSX1000: Demonstration Reproduction Function of Observation Conditions

DSX1000: Demonstration Various Observation Method With One Touch

DSX1000: Demonstration Best Image Function

DSX1000: Demonstration Free Angle Observation System

DSX1000: Demonstration Wide Field Range Observation from Macro to Micro

DSX1000: Demonstration Digest

OLS5000: Demonstration (Japanese only)

奥林巴斯用于电子行业的解决方案

DSX1000：演示视频

Vanta技术辅导视频：Vanta PC机软件的入门指导

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

基本体视显微镜的正确设置

BX3M产品概述

体视显微镜符合人体工程学的要求

STM7测量显微镜

EPOCH 650产品介绍

27MG超声测厚仪介绍视频

科技之旅 - 奥林巴斯工业显微镜

OLYMPUS Stream：材料解决方案模块

OLYMPUS Inspector系列：产品概述

45MG产品介绍视频

OLYMPUS Stream：层厚测量解决方案

OLYMPUS Stream：夹杂物评定最恶劣视场法分析（非铁夹杂物）

GoldXpert - 介绍GoldXpert

OLYMPUS Stream - 3D成像和测量

LEXT - 共焦图像采集（2/2）

LEXT - 共焦图像采集（1/2）

38DLP/39DLP 产品概述

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信息图表

Vanta Infographic

SZX符合人体工程学要求的指导说明

ソリューション

用于制造业质量保证/质量控制的Vanta分析仪

用于检测合金与金属的DELTA手持式X射线荧光分析仪

オンラインセミナー

Webinar - XRF as Part of a Reasonable Testing Program for Consumer Products Regulations

カタログ

用于材料成分辨别 （PMI）的VANTA分析仪

VANTA的技术规格

显微镜/光学计量概述

远程视觉检测解决方案

MX63/MX63L产品信息说明册

LC30显微镜数码摄像头

Vanta手持式X射线荧光分析仪

BX61电动显微镜系统

BX53M/BXFM系统显微镜

相控阵探头和楔块

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論文・技術資料

在为具体应用选择高频超声探头时要考虑的因素

使用LEXT激光扫描显微镜完成粗糙度测量

激光扫描显微镜的基本原理

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解説資料

缺陷检测辅导

相控阵辅导

涡流阵列辅导

辅导项目

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FAQ

超声检测常见问题

学习工业显微镜

有关探头的常见问题

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マニュアル

Vanta系列X射线荧光分析仪简易入门说明书

书籍

LEXT粗糙度测量指南