概述
简化技术清洁度各类组件、液体及零部件的清洁度对于制造的每一个环节至关重要，即便微米大小的颗粒也可能缩短零部件寿命或影响其性能。 严格的国际和国家规范明确了污染物的测量和记录方式，并要求详细的了解颗粒数量、尺寸分布和特征。 CIX100 检测系统为此过程带来了保障——它是一个一站式、高效的解决方案，可以轻松满足现代清洁度标准。 借助先进的深度学习人工智能技术，CIX100 检测系统将颗粒识别提升到了一个全新水平，提供洞察，帮助团队从源头保护质量。 |
 清洁度检测标准流程： 准备（第 1–3 步）和检查（第 4–6 步） |
| 可靠的一站式技术清洁度检测解决方案CIX100 是一款一站式解决方案，专为满足自动化技术清洁度检测的需求而设计。 每个组件都经过优化，以确保在高通量系统中实现准确性、可再现性、可重复性和无缝集成，从而获得可靠的数据。 自动化处理关键任务，有助于加快检测速度，同时最大限度地减少人为错误和污染样品的风险。 |
卓越的光学质量我们的 UIS2 物镜具有优异的光学性能，可实现卓越的测量和分析精度。 系统配备专用光源，能够保持一致的色温，适用于清洁度检测。 该功能支持对圆形和矩形样品区域进行快速检测。 |
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| 机械稳定性光路校准、电动物镜转换器和相机配备防护罩，以防止意外改动。 为了提高稳定性，剔除了光路中的所有活动部件。 |
定期系统验证预配置且预校准的系统配备系统自检自动提醒功能，并结合集成的校准滑片，有助于进行定期系统验证。 |
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可再现性和可重复性预配置和预校准的系统、用户权限管理以及定期系统自检，有助于确保设置正确，从而获得不受操作员或仪器影响的可再现性检测数据。 因此，多个部门和站点可以在不同地点采用相同的质量标准。 |
适用于多种常用采样方法CIX100 支持适用于圆形或矩形采样区域的采样技术。 可选择适用于直径 25 mm、47 mm 和 55 mm 滤膜的白色或黑色背景支架；胶带提升采样支架；适用于冶金应用的平面支架；以及适用于颗粒捕集的支架。 |  顶图和中图： 白色和黑色背景的圆形样品架，可使用直径为 25 mm、47 mm、和 55 mm 的滤膜。左下图： 用于颗粒捕集器的圆形样品架。 右下图： 矩形样品架，用于胶带剥离取样。* |
简单直观
 | 操作轻松，适合各种经验的用户PRECiV™ CIX 软件提供操作步骤指导，各种经验的用户都能轻松进行技术清洁度检测。 直观的工作流程和用户权限管理有助提高对检测结果的把握度，同时减少周期时间、每次测试的成本和用户错误。 从而提供针对生产力和高质量标准进行优化的系统。 |
引导式工作流程直观的工作流程引导用户完成以下三个步骤： 检测样品，审核结果，生成报告。 从扫描样品到生成合规报告，极高的自动化程度提高了易用性，使各种经验的用户都能高效地进行检测并生成可靠的数据。 |
 直观的工作流程，配备大尺寸按钮，使用鼠标或触摸屏可以轻松点击。 工作流程步骤（从左到右）： 安装样品、调整参数、开始检测、查看结果、创建报告。 |
用户权限管理工具管理员可以控制哪些用户可以访问系统的不同部分，帮助新手用户专注于当前任务。 它还可以防止意外修改关键参数，例如校准和用于自动生成报告的数据。 |
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| 高级显微镜PRECiV CIX 显微镜模式* 支持由专用的清洁度检查工作流程切换为执行显微成像，包括扩展聚焦成像 (EFI) 和二维测量。 提供可选的材料分析解决方案（如晶粒度分析、铸铁分析和相分析），以扩展显微镜模式的功能。 这些解决方案可以根据需要针对个人用户或具体应用定制特殊功能。 *显微镜模式是 PRECiV CIX 的一项可选配解决方案。 |
快速
 | 快速实时分析与审查借助创新偏振技术，CIX100 可对反光（金属）和不反光（非金属）颗粒（粒径范围从 2.5 µm 到 42 mm）进行图像采集和精准实时分析，而且只需扫描一次即可。 计数和分类颗粒在扫描过程中实时显示，并按尺寸类别进行分组，支持测试失败时的快速决策。 |
一站式扫描实现高通量检测基于波长分离和颜色的创新偏振技术通过一次扫描即可检测反射（金属）和不反射（非金属）颗粒，为高通量实验室检测带来多重优势。
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 创新的照明系统通过一次扫描即可分离反射（金属）颗粒和不反射（非金属）颗粒。 |
以真实色彩查看颗粒启动真实颜色模式以查看颗粒的原始颜色，从而获得更多信息以识别颗粒类型（金属或非金属）。 一站式扫描可在偏振光下将所有反射颗粒显示为蓝色，以表明它们是金属。 在真实色彩模式下，反射颗粒的蓝色被忽略，从而在明场图像中显示所有颗粒的真实颜色。 原本蓝色的材料会保持蓝色，而金属则会展现出金属光泽和该材料特有的反射效果。 这些有用的视觉图像可以帮助您更好地了解每种颗粒的性质，并快速确认颗粒类型。 |  系统在检测和分析过程中观测到的颗粒。 蓝色表明该颗粒为金属。 在审查模式下，使用 U-ANT 滤光片和色彩校正模式以真实颜色观察到的同一颗粒。 该颗粒被确认为金属。 |
 自动合并和分析大颗粒。 | 智能颗粒处理CIX100 可对大小颗粒（2.5 μm 至 42 mm）进行实时处理和分类，符合国际标准，并能自动重建大颗粒的图像。 可以分析明亮背景的暗颗粒和深色背景的亮颗粒。 |
识别过滤器覆盖范围在样品检测开始阶段创建样品概览图像，并以低倍显示整个过滤器，使用户能够在检测开始前识别过滤器覆盖范围或颗粒聚集。 当过滤器分配高于预期时，系统会自动通知用户，以便他们可以快速应对。 |  概览图像可识别过滤器覆盖率和颗粒聚集。 |
 | 直接结果反馈自动分析污染物，并根据所选标准分成不同的尺寸等级，超过预设限值的等级会用颜色标识。 显示每个尺寸等级的可接受颗粒计数，即使在扫描整个膜之前，也能提前进行样品验证 (OK) 或拒绝 (NOK)。 PRECiV CIX 软件可根据电动汽车和医疗器械行业的要求支持评估各种颗粒的批准限值。 可以打开声音提示，以便当批准结果为 NOK 或检查完成时通知用户。 |
超越传统算法的分析CIX100 集成 TruAI 深度学习技术，能够实现超越传统算法的图像分析。 将经过训练的神经网络应用到样品上，以获得可再现性更高、更稳健的分析。 TruAI 解决方案能够区分不同类型的颗粒，例如反射颗粒和非反射颗粒。 |  |
 | 提供数据洞察，加快决策速度CIX100 结合了用于修订检测数据的直观工具与快速、引导式的颗粒审查功能。 一键式重新分类确保灵活性并支持国际标准。 检测污染物的缩略图可直接链接到尺寸测量数据，便于进行数据审查。 在审查过程中，会自动更新所有视图和尺寸类别中的污染物检测结果。 由于能够清晰呈现所有相关的检测结果，从而节省了时间。 |
趋势分析可以随时间进行数据统计分析，并图形化显示。 |  |
 | 检测数据概览
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审查、修正和重新计算通常建议在技术清洁度检测过程中对结果进行手动检查和审查，操作界面使颗粒数据的交互式校正变得轻松快捷。 |  |
 | 高度测量解决方案CIX100 提供扩展聚焦成像 (EFI) 功能，可捕捉高度超出物镜景深的污染物和颗粒的图像，并将这些图像叠加在一起，从而创建全聚焦图像。 我们的高度测量解决方案进一步增强了 CIX100，包括 20X 物镜* 和专用软件，以满足 VDA 19 的高度测量要求。 对于选定的颗粒，既可自动测量，也可手动测量。 计算值作为附加数据字段列在结果表中。 *必须与高度测量解决方案许可证分开订购。 |
合规性
 可以调整报告以满足个性化需求。 | 一键生成数字文档使用符合 ISO 和 VDA 等行业标准的预定义模板，一键生成专业报告，并可根据公司轻松调整模板和报告。 结果可导出到 Microsoft Word 文件中，也可直接导出为 PDF 文件，以便通过电子邮件轻松共享数据。 CIX100 还可以存档报告和数据，用于记录保存和趋势分析。 |
轻松导出数据您可以根据自己的偏好选择以 Microsoft Word 格式还是 PDF 格式中创建报告，并轻松将颗粒和分类结果及趋势分析导出到 Microsoft Excel。 经过优化的报告文件大小，支持高效数据共享。 | 可以拍摄并处理单张污染物图像，以进行手动测量确认和改善文档。 |
 | 长期数据存储快速访问所有存档样品及其相关数据和报告，以便进行修订或分发。 自动保存所有检测数据和报告，并存档一定时间。 |
技术参数
硬件
系统对环境的要求
软件
可选配解决方案CIX-S-HM
环境法律和法规
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