解决方案 | Olympus IMS

Odpowiedź na wyzwania związane z inspekcjami

Obowiązujące w laboratoriach przemysłowych standardowe procedury operacyjne wymagają otrzymywania powtarzalnych i odtwarzalnych wyników. Oprogramowanie OLYMPUS Stream oferuje proste i niezawodne procedury postępowania, które usprawniają inspekcje, pomiary i analizy. Oprogramowanie to oferuje rozmaite narzędzia do analiz badawczych różnych materiałów, sprzyjając wiarygodności uzyskiwanych wyników.

Mikroskopy przemysłowe firmy Olympus usprawniają analizy metalurgiczne

Rozwiązanie Count and Measure (Zliczanie i pomiar)

Rozwiązanie Count and Measure (Zliczanie i pomiar) oferowane przez oprogramowanie korzysta z zaawansowanych metod progowych do niezawodnego wyodrębniania obiektów, takich jak cząstki i rysy, z tła. Dostępnych jest ponad 50 parametrów pomiaru i klasyfikacji obiektów, w tym kształt, rozmiar, położenie i cechy pikseli.


Konwencjonalne oprogramowanie Nieostre granice ziaren		Mikrostruktura stali trawionej (oryginalny obraz)		OLYMPUS Stream Wyraźnie uwidocznione granice ziaren

Wyniki klasyfikacji ziaren

Efektywna analiza

Przykład konfiguracji okna Macro Manager dla funkcji Count and Measure (Zliczanie i pomiar)

Za pomocą okna Macro Manager można wstępnie skonfigurować złożone zadania z zakresu obrazowania i pomiarów, a następnie wykonać je jednym kliknięciem.

Zaawansowane filtry obrazów

Kontrast wzmocniony przy użyciu filtra DCE (dendryt w odlewie aluminiowym)

Oprogramowanie oferuje wiele użytecznych filtrów do wykrywania krawędzi, wygładzania i innych zastosowań.

Pomiary trójwymiarowe i profile liniowe

Rozwiązanie OLYMPUS Stream 3D umożliwia sterowanie osią Z instrumentów kodowanych i zmotoryzowanych oraz błyskawiczną regulację ogniskowej (EFI), tworząc mapy wysokości służące do pomiarów próbek trójwymiarowych.

Widok powierzchni 3D (przykład testu chropowatości)

Jeden widok i pomiar profilu 3D

Rozwiązania dla metalografii (branży metalurgicznej)

Techniki metalograficzne stosuje się przy opracowywaniu nowych materiałów, do inspekcji przyjmowanych materiałów, do kontroli produkcji i analizy pęknięć.

Określanie wielkości ziaren metodą siecznych
Określanie wielkości ziaren metodą planimetryczną
Ocena sferoidalności grafitu
Ocena ilości wtrąceń niemetalicznych w stali o wysokiej czystości
Porównywanie obrazów próbek z wzorcami referencyjnymi
Automatyczny lub ręczny pomiar odstępu między ramionami dendrytów

Rozwiązania do obróbki maszynowej (dla przemysłu motoryzacyjnego / części obrabianych)

Dla zapewnienia wysokiej jakości produkowanych części niezbędne jest ścisłe monitorowanie zarysowań, pęknięć, wielkości porów i zanieczyszczeń podczas procesu produkcyjnego.

Zniekształcenie obszaru spawu
Pomiary faz i obszarów zainteresowania
Rozkład cząstek

Rozwiązania dla przemysłu elektronicznego (branży urządzeń elektronicznych i półprzewodników)

Na płytki drukowane nanoszone są bardzo cienkie powłoki. Weryfikacja ich jednorodności ma zasadnicze znaczenie dla zapewnienia jakości produktów.

Pomiar wgłębności
Automatyczny pomiar newralgicznych wymiarów

Rozwiązania do kontroli powłok powierzchniowych i osadów cienkowarstwowych (branża lakiernicza i pokrewne)

Powłoki powierzchniowe są mieszaninami substancji tworzących cienkie warstwy, zawierającymi pigmenty, rozpuszczalniki i inne dodatki, które po nałożeniu na powierzchnię i utwardzeniu lub wysuszeniu tworzą funkcjonalne, a często także ozdobne pokrycie.

Ocena grubości cienkich powłok (metoda Calotest)
Pomiary grubości warstw
Pomiary ułamka pola powierzchni porów i gęstości

Rozwiązania materiałowe do wszelkich zastosowań

Rozwiązania	Opisy
Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych)	Producenci stali używają tego rozwiązania do pomiaru i kontroli rozmiaru ziaren po przecięciu, wypolerowaniu lub wytrawieniu próbek stali. Działanie funkcji polega na nakładaniu linii testowych i zliczaniu liczby przecięć tych linii z granicami ziaren.
Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną)	Producenci stali używają tego rozwiązania do pomiaru i kontroli rozmiaru ziaren po przecięciu, wypolerowaniu lub wytrawieniu próbek stali. Metoda ta polega na rekonstrukcji granic każdego ziarna z osobna i określeniu wielkości ziarna na podstawie udziału procentowego pola powierzchni fazy wtórnej.
Non-Metallic Inclusions (Wtrącenia niemetaliczne)	Producenci stali używają tego rozwiązania do pomiaru i kontroli kształtów oraz rozmiarów wtrąceń niemetalicznych (tlenków, glinianów, siarczków i krzemianów) w stali.
Cast Iron (Żeliwo)	Z rozwiązania tego korzystają producenci odlewów, którzy muszą mierzyć i kontrolować sferoidalność grafitu oraz weryfikować właściwości mechaniczne swoich wyrobów.
Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem)	Obrazy pozyskiwane na żywo lub zarejestrowane można nakładać na standardowe wzorce celem porównania. Dostępny jest podgląd funkcji.
Dendrite Arm Spacing (Odstęp między ramionami dendrytów)	To rozwiązanie służy do ręcznego lub automatycznego określenia średniego odstępu między ramionami dendrytów w aluminium odlewniczym.
Layer Thickness (Grubość warstwy)	Rozwiązanie to umożliwia pomiar jednej lub wielu warstw przekroju próbki. Automatycznie odnajduje kształty warstw i wykonuje pomiar.
Coating Thickness (Grubość powłoki)	To rozwiązanie umożliwia pomiar grubości powłoki na podstawie obrazów widoku z góry przy użyciu metody Calotest.
Automatic Measurements (Pomiary automatyczne)	To rozwiązanie służy do wykonywania pomiarów na podstawie krawędzi wykrytych w obrazie pozyskiwanym na żywo, przy użyciu techniki wykrywania wzorców.
Throwing Power (Wgłębność)	To rozwiązanie mierzy rozkład grubości powłoki miedzianej w otworach przelotowych i mikroprzelotkach (micro-vias).
Porosity (Porowatość)	To rozwiązanie umożliwia pomiar porów w kategoriach ułamków powierzchni lub liczby, przy wykorzystaniu obszarów zainteresowania (okrągłych, trójkątnych, prostokątnych i wielokątnych) oraz progów.
Particle Distribution (Rozkład cząstek)	To rozwiązanie służy do generowania histogramów i tabel rozkładu rozmiarów cząstek na podstawie obrazów lub serii obrazów.
Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz)	Jest to nowe, zintegrowane rozwiązanie do analizy faz w wybranych obszarach zainteresowania o kształcie trójkątnym, okrągłym, prostokątnym lub wielokątnym.

Rozwiązania	Metalurgia	Przemysł motoryzacyjny	Szkło/ceramika	Powłoki	Towary konsumpcyjne	Urządzenia elektroniczne
Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych)	■	■		■
Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną)	■	■		■
Inclusion Worst Field (Wtrącenia metodą najgorszego pola)	■	■		■
Cast Iron (Żeliwo)	■	■		■
Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem)	■	■		■
Layer Thickness (Grubość warstwy)		■
Coating Thickness (Grubość powłoki)		■
Automatic Measurements (Pomiary automatyczne)					■	■
Throwing Power (Wgłębność)					■	■
Porosity (Porowatość)	■	■	■	■	■	■
Particle Distribution (Rozkład cząstek)	■	■	■	■	■	■
Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz)	■	■	■	■	■	■

Rozwiązania	Półprzewodniki	Płyny i oleje	Obrabiane części	Włókna węglowe/ kompozyty	Chemikalia/ tworzywa sztuczne/ przemysł gumowy	Naukowe badania przemysłowe
Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych)		■			■	■
Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną)		■			■	■
Inclusion Worst Field (Wtrącenia metodą najgorszego pola)		■			■	■
Cast Iron (Żeliwo)		■			■	■
Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem)		■			■	■
Layer Thickness (Grubość warstwy)					■	■
Coating Thickness (Grubość powłoki)						■
Automatic Measurements (Pomiary automatyczne)
Throwing Power (Wgłębność)
Porosity (Porowatość)	■	■	■	■	■	■
Particle Distribution (Rozkład cząstek)	■	■	■	■	■	■
Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz)	■	■	■	■	■	■

Sorry, this page is not available in your country

显微镜解决方案
解决方案

Odpowiedź na wyzwania związane z inspekcjami