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De macro a micro: como os microscópios digitais estão mudando as inspeções industriais

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Microscópios digitais com campo de visão de 22 mm até 42 µm

O espaço é fundamental no laboratório e, por isso, um sistema que pode atuar como vários microscópios é essencial. Os microscópios digitais de hoje conseguem exatamente isso, proporcionando um alcance de ampliação capaz de produzir um campo de visão de 22 mm até 42 µm. Essa capacidade de macro a micro facilita a observação de amostras a uma baixa ampliação para visualizar elementos em contexto antes da inspeção de uma área pequena com alta ampliação para visualização de detalhes. Juntamente com uma interface intuitiva, até mesmo um iniciante pode conseguir resultados de forma rápida e fácil usando apenas um instrumento.

Macro

Os recursos dos microscópios digitais não se limitam apenas ao amplo alcance de ampliação: a adição de componentes motorizados ao microscópio aumenta ainda mais a funcionalidade do sistema. Para amostras de grandes dimensões que ultrapassem o campo de visão do sistema, você pode capturar de forma fácil e rápida imagens de toda a amostra usando a função de união de imagens e uma platina motorizada X, Y, Z. O resultado é uma imagem de alta resolução totalmente focada que você pode usar para ver elementos de interesse de grandes dimensões ou para fornecer contexto para análises posteriores.

Micro

Ao permanecer no mesmo sistema de microscópio e mudar para uma ampliação mais alta, é possível passar por qualquer ponto da amostra clicando apenas na imagem macro, eliminando a necessidade de voltar a procurar defeitos, como aconteceria se você tivesse de mudar de um sistema para outro ou de confiar em métodos complicados de coordenadas. Quer esteja interessado em examinar a rugosidade de uma superfície, defeitos de tamanho mínimo, elementos estruturais ou algo mais, os nossos microscópios digitais estão equipados com uma gama de técnicas ópticas convencionais e capacidades de processamento de imagem avançadas, como a alta faixa dinâmica (HDR), para melhorar as superfícies e o contraste.

Um exemplo de um tipo de inspeção normalmente difícil para os microscópios convencionais, mas no qual os microscópios digitais se destacam, é o trabalho com amostras polidas. Em microscópios verticais, as amostras polidas são frequentemente ignoradas, uma vez que, normalmente, não estão perfeitamente situadas no plano e em posição horizontal, o que dificulta a nivelação da amostra para que a sua superfície se encontre em um ângulo reto para o acesso óptico do microscópio. Consequentemente, os microscópios invertidos, nos quais a amostra se encontra naturalmente em um ângulo reto em relação ao eixo do microscópio, são preferíveis. Contudo, ao usar tecnologia digital e componentes motorizados, é possível compensar as limitações dos microscópios verticais, abrindo possibilidades para campos adicionais de análise.

Análise avançada

A integração de microscópios digitais com um avançado software de análise de imagem permite ainda que você personalize o instrumento. Com o uso dos procedimentos operacionais padrão e as funções de operações orientadas disponíveis nos nossos microscópios digitais da série DSX, realizar o seu trabalho nunca foi tão fácil. Agora, até mesmo os usuários com pouca experiência podem atuar em vários tipos de análises, desde análises de elementos ferríticos até a classificação sofisticada de partículas.

Verifique estes exemplos que demonstram como um único sistema de microscópio digital pode contar toda a história.

Uma imagem macro de um emblema automóvel. Os elementos redondos são saliências.
Uma imagem macro de um emblema de alumínio. Os elementos redondos são saliências.
Observando de perto uma das saliências.
Observando de perto uma das saliências.

Uma imagem da superfície das saliências obtida a uma ampliação de 5000x.
Uma imagem da superfície das saliências obtida a uma ampliação de 5000x.
Um mapa 3D de uma das saliências.
Um mapa 3D de uma das saliências.

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Product Applications Manager, Olympus Corporation of the Americas, Scientific Solutions Group

A member of the Olympus team since 2016, Hamish provides product and application support for Olympus industrial microscope systems throughout the Americas. He is an expert in inspection applications, image analysis, measurement, and reporting, as well as custom optical solutions, with an emphasis on technical cleanliness and semiconductor equipment.

十月 2, 2018
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