Projetado para uso na indústria siderúrgica, automotiva, eletrônica e outras indústrias de fabricação, o microscópio GX53 fornece imagens nítidas que podem ser difíceis de capturar usando métodos convencionais de observação por microscópio. Quando combinado com o software de análise de imagem PRECiV, o microscópio simplifica o processo de inspeção desde a observação até a análise e documentação das imagens.
Observe, meça e analise rapidamente as estruturas metalúrgicas.
1. Métodos de observação combinados produzem imagens excepcionais 2. Criação fácil de imagens panorâmicas 3. Criação de imagens totalmente em foco 4. Captura de áreas claras e escuras |
1. Software projetado para ciência de materiais 2. Análise metalúrgica em conformidade com as normas industriais |
Mesmo os operadores iniciantes podem realizar observações, analisar resultados e criar relatórios de forma confortável.
1. Restaure facilmente as configurações do microscópio 2. As orientações ao usuário ajudam a simplificar análises avançadas 3. Geração de relatórios eficiente |
A nossa tecnologia de formação de imagem e óptica comprovada proporciona imagens claras e resultados confiáveis.
1. Desempenho óptico confiável: controle de aberração de ondas 2. Imagens claras: correção de sombreado da imagem 3. Temperatura de cor consistente: iluminação de LED branco de alta intensidade 4. Medições precisas: calibração automática |
Escolha os componentes que você precisa para sua aplicação.
1. Construa seu sistema à sua maneira: sistema totalmente personalizável com uma variedade de componentes opcionais |
As diversas capacidades de observação do microscópio GX53 proporcionam imagens claras e nítidas para que você possa detectar defeitos nas suas amostras de forma confiável. As novas técnicas de iluminação e opções de aquisição de imagens do software de análise de imagens PRECiV oferecem mais opções para avaliar suas amostras e documentar seus resultados.
As lentes objetivas são essenciais para o desempenho de um microscópio. As novas objetivas MXPLFLN adicionam profundidade à série MPLFLN para formação de imagens de epi-iluminação, maximizando a abertura numérica e a distância de trabalho ao mesmo tempo. Resoluções mais altas em aumentos de 20X e 50X normalmente significam distâncias de trabalho mais curtas, o que obriga que a amostra ou a objetiva seja retraída durante a troca da objetiva. Em muitos casos, a distância de trabalho de 3 mm da série MXPLFLN elimina esse problema, possibilitando inspeções mais rápidas com menor chance da objetiva bater na amostra.
Saiba mais sobre as objetivas MXPLFLN>>
A tecnologia MIX combina campo escuro com outro método de observação, como campo claro ou polarização, para permitir a visualização de amostras que são difíceis de ver com microscópios convencionais. O iluminador de LED circular tem uma função de campo escuro direcional onde um ou mais quadrantes são iluminados por vez, reduzindo o halo de uma amostra para visualizar melhor a textura da superfície.
Corte transversal de uma placa de circuito impresso
Campo claro | Campo escuro | MIX: campo claro + campo escuro |
Aço inoxidável
Campo claro | Quadrante de campo escuro | MIX: quadrante de campo claro + campo escuro |
Com o alinhamento de múltiplas imagens (MIA), você pode unir imagens simplesmente movendo os botões XY na platina manual; uma platina motorizada é opcional. O software PRECiV usa o reconhecimento de padrão para gerar uma imagem panorâmica, tornando-o ideal para inspecionar as condições de cementação e fluxo de metal.
Fluxo de metal de um parafuso
Ajuste a posição da platina usando o botão XY. | É possível observar a condição completa do fluxo de metal. |
A função de imagem focal estendida (EFI) do software PRECiV captura imagens de amostras cuja altura ultrapassa a profundidade de foco. A EFI empilha essas imagens para criar uma única imagem totalmente em foco da amostra. Mesmo quando analisa uma amostra em corte transversal com uma superfície irregular, a EFI cria imagens totalmente focadas.
A EFI funciona com um eixo Z manual ou motorizado e cria um mapa de altura para visualizar as estruturas.
Peças de resina
Ajuste a altura da objetiva com o controle de focagem. | A EFI captura e empilha automaticamente múltiplas imagens para criar uma única imagem em foco da amostra. | É criada uma imagem totalmente focada. |
Ao usar o processamento de imagem avançado, a alta variação dinâmica (HDR) se ajusta às diferenças na claridade de uma imagem para reduzir o brilho. Também ajuda a melhorar o contraste em imagens de baixo contraste. A HDR pode ser usada para observar estruturas muito pequenas em dispositivos elétricos e para identificar limites de grãos metálicos.
Placa dourada
Algumas áreas apresentam brilho. | As áreas claras e escuras são claramente expostas usando HDR. |
Revestimento de difusão de cromo
Contraste baixo e não claro. | Contraste melhorado com HDR. |
Estes são apenas alguns exemplos do que pode ser alcançado usando métodos de observação diferentes.
Campo claro | Campo escuro |
Campo claro: um método de observação comum para observar a luz refletida de uma amostra iluminando-a diretamente. Campo escuro: observe a luz dispersa ou difratada de uma amostra de modo que imperfeições, tais como arranhões ou defeitos minúsculos, se destaquem claramente.
Campo claro | Observação DIC |
Contraste de interferência diferencial (DIC): uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado; é ideal para inspecionar amostras que possuem diferenças de altura muito pequenas, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais.
Campo claro | Observação de luz polarizada |
Luz polarizada: uma técnica que realça a textura e o estado dos cristais de um material para visualizar estruturas metalúrgicas, como o padrão de crescimento de grafite em ferro fundido nodular e em minerais.
Campo claro | MIX: campo claro + campo escuro |
Observação MIX: combina campo claro e campo escuro para exibir a cor e a estrutura de uma amostra.
A imagem de observação MIX acima reproduz claramente a cor e a textura do dispositivo, assim como o estado da camada adesiva.
Juntos, o microscópio GX53 e o software PRECiV são compatíveis com métodos de análise metalúrgica que estão em conformidade com diferentes normas industriais. Com as orientações passo a passo ao operador, os usuários podem analisar as suas amostras de forma rápida e fácil.
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A solução de contagem e medição usa métodos avançados de valor limite para separar objetos, como partículas e arranhões, do fundo. Mais de 50 parâmetros de medição e classificação de objetos diferentes estão disponíveis, incluindo formato, tamanho, posição e propriedades de píxeis.
Software convencional | Microestrutura de aço gravado | PRECiV |
Resultados de classificação de grãos
Meça o tamanho de grãos e analise a microestrutura de estruturas de alumínio e de cristais de aço, tal como ferrita e austenita, e de outros metais.
Normas compatíveis: ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T
Microestrutura de grãos ferríticos
Solução de intercepção de dimensionamento de grãos | Solução planimétrica de dimensionamento de grãos com fase secundária |
Avalie a nodularidade e o conteúdo do grafite em amostras de ferro fundido (nodular e vermicular). Classifique a forma, distribuição e o tamanho de nódulos de grafite.
Normas compatíveis: ISO, NF, ASTM, KS, JIS, GB/T
Ferro fundido dúctil exibindo grafite nodular
Solução de ferro fundido
Classifique as inclusões não metálicas usando uma imagem do pior campo ou da pior inclusão encontrada manualmente na amostra.
Normas compatíveis: ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI
Aço com inclusões não metálicas
Solução para inclusão do pior campo
Compare facilmente imagens reais ou estáticas com imagens de referência em escala automática. Esta solução inclui imagens de referência em conformidade com diversas normas (imagens de referência adicionais podem ser compradas separadamente). Diversos modos são compatíveis, incluindo a exibição de superposição em tempo real e comparação lado a lado.
Normas compatíveis: ISO, EN, ASTM, DIN, SEP
Aço com inclusões não metálicas | Microestrutura com grãos ferríticos | ||
Soluções | Normas compatíveis |
Intercepção de grãos | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
Planimetria de grãos | ISO 643: 2012, JIS G 0551: 2013, JIS G 0552: 1998, ASTM E112: 2013, DIN 50601: 1985, GOST 5639: 1982, GB/T 6394: 2002 |
Ferro fundido | ISO 945-1: 2010, ISO 16112: 2017, JIS G 5502: 2001, JIS G 5505: 2013, ASTM A247: 16a, ASTM E2567: 16a, NF A04-197: 2004, GB/T 9441: 2009, KS D 4302: 2006 |
Inclusão do pior campo | ISO 4967 (método A): 2013, JIS G 0555 (método A): 2003, ASTM E45 (método A): 2013, EN 10247 (métodos P e M): 2007, DIN 50602 (método M): 1985, GB/T 10561 (método A): 2005, UNI 3244 (método M): 1980 |
Tabela comparativa | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2004, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, ISO 4505: 1978, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998 |
Espessura do revestimento | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001 |
Use o microscópio GX53 e o software PRECiV para adquirir imagens de diversas amostras, realizar uma variedade de análises e gerar relatórios profissionais.
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As funções codificadas integram as configurações do hardware do microscópio com o software de análise de imagem PRECiV. O método de observação, a intensidade de iluminação e o aumento podem ser gravados e armazenados com as imagens associadas. As configurações são reproduzidas facilmente para que diferentes operadores possam realizar as mesmas inspeções de qualidade com treinamento limitado.
Operadores diferentes usam configurações diferentes. | Recupere as configurações do dispositivo com o software PRECiV. | Todos os operadores podem usar as mesmas configurações. |
O software orienta os usuários passo a passo por um processo de inspeção que está em conformidade com a norma industrial escolhida. Os operadores podem realizar análises avançadas de forma simples seguindo as orientações na tela.
Criar um relatório muitas vezes pode demorar mais do que capturar a imagem e realizar as medições. O software PRECiV oferece uma criação de relatórios intuitiva para produzir relatórios sofisticados repetidamente com base em modelos predefinidos.
Sistema óptico Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (corrigido ao infinito) | |
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Estativa do microscópio | Iluminação de luz refletida |
Seleção de campo claro/campo escuro manual através da unidade de espelho
Comutador manual do diafragma de campo/diafragma de abertura com centralização Fonte de luz: LED branco (com Gerenciador da intensidade de luz)/12 V, lâmpada de halogênio de 100 W/lâmpada de mercúrio de 100 W/fonte da orientação de luz Modo de observação: campo claro, campo escuro, contraste de interferência diferencial (DIC)*1, polarização simples*1, observação MIX (campo escuro direcional 4)*2 *1 É necessário o deslizador para uso exclusivo nesta observação. *2 É necessária a configuração de observação MIX. |
Estativa do microscópio | Impressão da escala | Todas as posições reversas das portas (em cima/em baixo) a partir das posições de observação vistas através da ocular |
Estativa do microscópio | Porta frontal de saída (opcional) | Câmera e sistema DP (imagem reversa, adaptador especial para câmera GX) |
Estativa do microscópio | Porta lateral de saída (opcional) | Câmera, sistema DP (imagem vertical) |
Estativa do microscópio | Sistema elétrico |
Iluminação de luz refletida
Fonte de energia de LED integrada para iluminação de luz refletida Indicador da intensidade de luz continuamente variável Capacidade nominal de 5 V CC, 2,5 A (adaptador CA de 100–240 V, CA de 0,4 A, 50 Hz/60 Hz) Iluminação de luz transmitida (requer a fonte de energia opcional BX3M-PSLED) Indicador da intensidade de luz continuamente variável por tensão Capacidade nominal de 5 V CC, 2,5 A (adaptador CA de 100–240 V, CA de 0,4 A, 50 Hz/60 Hz) Interface externa (requer a caixa de controle BX3M-CBFM opcional) Conector do porta-objetivas codificado × 1 Conector do controle deslizante MIX (U-MIXR-2) × 1 Conector do teclado manual (BX3M-HS) × 1 Conector do teclado manual (U-HSEXP) × 1 Conector RS-232C × 1, conector USB 2.0 × 1 |
Estativa do microscópio | Foco |
Rack e pinhão com guia de rolo
Pega coaxial com foco fino e grosso, manual; curso de foco de 9 mm (2 mm acima e 7 mm abaixo da superfície da platina) Traço por rotação da pega com foco fino: 100 μm (escala mínima: 1 μm) Traço por rotação da pega com foco grosso: 7 mm Com anel de ajuste de torque para focagem grossa Com limite macrométrico superior para focagem grossa |
Tubos | Campo amplo (FN 22) | Invertido: binocular (U-BI90, U-BI90CT), binocular com inclinação (U-TBI90) |
Porta-objetivas |
Orifícios de campo claro: 4 a 7 peças, tipo: manual/codificado, centralização: habilitada/desabilitada
Orifício de campo claro/campo escuro: 5 a 6 peças, tipo: manual/codificado, centralização: habilitada/desabilitada | |
Platina |
Platina com pega direita para GX (percurso X/Y: 50 × 50 mm, carga máxima de 5 kg)
Platina com pega direita flexível, platina com pega esquerda pequena (cada percurso X/Y: 50 × 50 mm, carga máxima de 1 kg) Platina deslizante (carga máxima de 1 kg) Um conjunto de orifícios tipo gota e longos | |
Peso | Aprox. 25 kg (estativa do microscópio, 20 kg) | |
Ambiente |
・Uso interno
・Temperatura ambiente: 5 a 40 °C (45 a 100 °F) ・Umidade relativa máxima: 80% para temperaturas de até 31 °C (88 °F) (sem condensação) Caso esteja acima de 31 °C (88 °F), a umidade relativa diminui linearmente até 70% a 34 °C (93 °F), 60% a 37 °C (99 °F) e 50% a 40 °C (104 °F). ・Grau de poluição: 2 (de acordo com a IEC60664-1) ・Instalação/categoria de sobretensão: II (de acordo com a IEC60664-1) ・Flutuação da tensão de alimentação: ±10% |
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