Evident LogoOlympus Logo

Гарантированная точность измерения размеров

Измерения антенны базовой станции

Антенна 5G имеет множество встроенных передающих и приемных элементов для усиления радиоволн в определенном направлении и повышения чувствительности приема. Сигналы излучают многие элементы антенны. Во избежание создания перекрестных помех элементы и контуры должны иметь максимально точную форму.

Измерения антенны базовой станции

Сложности при измерении элементов

Стандартный цифровой микроскоп не может гарантировать точности измерений, что ставит под сомнение достоверность данных.

Гарантированная точность микроскопа DSX1000

Точность и воспроизводимость измерений, выполняемых с помощью цифрового микроскопа DSX1000, гарантированы, так что вы можете всецело полагаться на полученные данные.

Измерение формы антенного контура

Измерение формы антенного контура

Цифровой микроскоп DSX1000

Цифровой микроскоп DSX1000

Измерение печатных плат

5G устройства состоят из множества компонентов, которые должны быть достаточно маленькими, чтобы уместиться в корпусе современного смартфона. Они также должны обладать исключительными высокочастотными характеристиками и способностью выдерживать перепады температуры и влажности в широком диапазоне. Для обеспечения соответствия печатных плат этим строгим требованиям они подвергаются строгому контролю с помощью микроскопов.

Измерение печатных плат

Сложности при измерении печатных плат

Печатные платы сложно визуализировать ввиду большого разнообразия отражающих характеристик в зависимости от материала, из которого изготовлена плата. В условиях неравномерной яркости данные измерений могут быть недостоверными.

Измерение сквозного отверстия

Измерение сквозного отверстия — это стандартный этап процедуры контроля печатной платы, который помогает убедиться, что компонент изготовлен в соответствии с установленными нормами.Диаметр сквозного отверстия можно легко измерить с помощью функции измерения рассеивающей способности в ПО OLYMPUS Stream™и микроскопа BX53M или MX63.

BX53M

MX63

Измерение диаметра сквозного отверстия

Измерение диаметра сквозного отверстия

При использовании в комбинации с микроскопом BX53M или MX63/MX63L в программном обеспечении OLYMPUS Stream™ доступна функция измерения рассеивающей способности.

Измерение рельефа печатной платы

Цифровой микроскоп DSX1000 и измерительный микроскоп STM7 могут одинаково эффективно использоваться для выполнения высокоточных измерений ширины и высоты сквозных соединений и контактных площадок на печатных платах.

Цифровой микроскоп DSX1000

Цифровой микроскоп DSX1000

Экран измерения форм рельефа с помощью микроскопа DSX1000

Экран измерения форм рельефа с помощью DSX1000

Измерительный микроскоп STM7

Измерительный микроскоп STM7

Измерение (диаметра) сквозного соединения с помощью микроскопа STM7

Измерение (диаметра) сквозного соединения с помощью STM7

Изображение сквозного соединения сверху

Изображение сквозного соединения снизу

Измерение шумовых фильтров

В 5G технологиях используются миниатюрные шумовые фильтры, электроды которых имеют очень маленький размер. Ввиду их небольшого размера для измерения размера и формы электродов требуется высокотехнологичное контрольное оборудование.

Измерение шумовых фильтров

Измерение шумовых фильтров

Сложности при измерении электродов шумовых фильтров

Металлургические или цифровые микроскопы могут не обеспечивать надежных измерений этих электродов из-за их маленького размера.

Точные измерения электродов

Лазерный измерительный микроскоп OLS5100 предоставляет возможность выполнять высокоточные измерения миниатюрных электродов с гарантированной достоверностью и воспроизводимостью данных.

Входящая радиоволна проходит через электроды, припаянные к подложке, после чего происходит выбор требуемой частоты и ее излучение.

Точные измерения электродов

Линейное измерение электрода ПАВ-фильтра

Линейное измерение электрода ПАВ-фильтра

Точные измерения электродов

Измерительный лазерный 3D-микроскоп OLS5100

Измерение многослойных керамических конденсаторов

Многослойные керамические конденсаторы используются для подавления шума и установки параметров цепей в электронных устройствах. В базовых станциях 5G и мобильных терминалах используется большое количество конденсаторов. В условиях повышенного спроса на миниатюрные элементы слои конденсаторов должны быть крайне тонкими, что требует особенно тщательного контроля качества.

Измерение многослойных керамических конденсаторов

Измерение многослойных керамических конденсаторов

Сложности при измерении многослойных конденсаторов

Для контроля керамических конденсаторов как правило используются металлургические микроскопы, стереомикроскопы и стандартные цифровые микроскопы, однако характер отражения света от электродов и диэлектриков настолько разный, что невозможно одновременно анализировать всю поверхность конденсатора.

Точные измерения многослойного керамического конденсатора

Цифровой микроскоп DSX1000 оснащен функциями, которые позволяют анализировать форму мельчайших электродов и диэлектриков при равномерной яркости. Телецентрическая оптическая система микроскопа гарантирует точность измерений при использовании любого объектива серии DSX и любого коэффициента увеличения.

Контроль внешних царапин и сколов

Контроль внешних царапин и сколов

Контроль внешних царапин и сколов

Контроль состояния и измерение толщины слоев электрода и диэлектрика с помощью цифрового микроскопа DSX1000

Контроль состояния и измерение толщины слоев электрода и диэлектрика с помощью цифрового микроскопа DSX1000

Цифровой микроскоп DSX1000

Цифровой микроскоп DSX1000

Измерение корпусов электронных компонентов

Полимер, в который заключены электронные компоненты, называется корпусом. Он защищает элементы и выводы и также должен пропускать сигналы и напряжение. Полимерные корпусы изготавливаются в разных формах для соответствия разным макетам компонентов. Поскольку их соответствие играет критическую роль, важно тщательно контролировать и измерять их форму.

Образец предоставлен компанией KOSTECSYS CO.,LTD.

Образец предоставлен компанией KOSTECSYS CO.,LTD.

Сложности при измерении корпусов

Корпусы электронных компонентов стали чрезвычайно маленькими (менее мкм), и их стало невозможно измерить с помощью стандартного измерительного микроскопа.

Измерение корпусов на субмикронном уровне

Расширенные измерительные функции лазерного микроскопа OLS5100 позволяют выполнять высокоточные 3D измерения мельчайших электродов с гарантированной достоверностью и воспроизводимостью.

Измерение корпусов на субмикронном уровне

Измерение области, обведенной красной линией. Возможно мгновенное измерение формы поперечного сечения, измеренной по профилю.

Измерение области, обведенной красной линией. Возможно мгновенное измерение формы поперечного сечения, измеренной по профилю.

Измерительный лазерный 3D-микроскоп OLS5100

Измерительный лазерный 3D-микроскоп OLS5100

Измерение диаметра оптоволоконных жил

Оптические волокна используются в качестве линий передачи, поскольку они почти не поддаются воздействию электромагнитных помех. В 5G технологиях многожильные волокна используются для увеличения пропускной способности, и необходим строгий контроль расстояния между жилами и диаметра каждой жилы.

Измерение диаметра оптоволоконных жил

Сложности при измерении оптических волокон

Металлургические или стереомикроскопы зачастую не обеспечивает возможность проведения наблюдений в условиях равномерной яркости, из-за чего получаемые данные нельзя назвать полностью достоверными.

Точные измерение волоконных жил

Цифровой микроскоп DSX1000 значительно упрощает процесс точных измерений диаметра оптоволоконных жил и расстояния между жилами, позволяя получать гарантированно достоверные и воспроизводимые данные.

Точные измерение волоконных жил

Цифровой микроскоп DSX1000

Цифровой микроскоп DSX1000

Измерение торцевых граней оптических волокон

Оптические волокна, как правило, соединены друг с другом таким образом, чтобы не допускать затухания света ввиду разрыва соединения (френелевское отражение). Из тех же соображений торцевые грани волокон имеют сферическую или скошенную форму, однако процесс контроля их формы может быть сложным.

Измерение торцевых граней оптических волокон

Сложности при измерении торцевых граней оптического волокна

Измерительные и стандартные цифровые микроскопы не способны точно измерять сферические и скошенные формы торцевых граней.

Достоверные данные о форме торца оптического волокна

Измерительный лазерный микроскоп OLS5100 оснащен технологией 4K-сканирования для получения точных данных измерения сферических форм и крутых уклонов, близких к вертикальным.

Пример изображения сферического объекта

Стандартный

Стандартный

OLS5100

OLS5100

Измерительный лазерный 3D-микроскоп OLS5100

Измерительный лазерный 3D-микроскоп OLS5100

Измерение оптоволоконных разъемов

Оптические волокна соединяются с базовыми станциями с помощью коаксиальных соединителей, которые эффективно рассеивают тепло, имеют минимальный уровень шума и соответствуют строгим размерным стандартам. В рамках процессов КК/ОК выполняется измерение соединителей для обеспечения их соответствия требованиям.

Измерение оптоволоконных разъемов

Сложности при выполнении стандартных измерений

Со временем коаксиальные разъемы стали настолько маленькими, что больше не поддаются измерению с помощью увеличительных линз или толщиномеров.

Точное измерение коаксиальных соединителей

Измерительный микроскоп STM7 позволяет измерять длину и высоту оптоволоконных разъемов в миллиметровом и нанометровом диапазоне.

Экран измерения диаметра конца разъема

Экран измерения диаметра конца разъема:
Когда на измеряемую область попадает проходящий свет, формируется четкая проекция формы, что дает возможность выполнить необходимые измерения.

Экран контроля внешнего вида гнезда для ввода оптического волокна

Экран контроля внешнего вида гнезда для ввода оптического волокна:
Повышая коэффициент увеличения при наблюдении можно выполнить точный контроль внешних поверхностей изделия на предмет наличия царапин, заусенцев и т.д.

Измерительный микроскоп STM7

Измерительный микроскоп STM7

Нужна помощь?

Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country