Evident LogoOlympus Logo
洞见博客

От макро до микро: как цифровые микроскопы преображают процесс промышленного контроля

作者  -
Цифровые микроскопы имеют поле зрения от 22 мм до 42 мкм

Пространство в лаборатории ценится особенно высоко, поэтому наличие системы, объединяющей в себе функциональность сразу нескольких микроскопов — это абсолютная необходимость. А это как раз является отличительной характеристикой современных цифровых микроскопов: их диапазон увеличения обеспечивает возможность менять размер поля зрения от 22 мм до 42 мкм. Такая возможность «макро-микро» позволяет наблюдать образцы при небольшом увеличении, увидеть все особенности в контексте, прежде чем осматривать небольшую зону при большом увеличении для выявления деталей. Благодаря простому и понятному пользовательскому интерфейсу, даже новички смогут разобраться и быстро получать результаты с помощью всего одного инструмента.

Макро

Возможности цифровых микроскопов не ограничиваются лишь широким диапазоном увеличения: добавление моторизованных компонентов в микроскоп расширяет функциональные возможности системы. В случае работы с крупными образцами, которые не помещаются в поле обзора системы, вы можете быстро и беспрепятственно сформировать изображения всего образца, используя функцию сшивки и моторизованный предметный столик (X, Y, Z). В результате, получаем полностью сфокусированное изображение с высоким разрешением, которое отображает более широкую зону интереса и предоставляет контекст для дальнейшего анализа.

Микро

Используя ту же систему микроскопа и переключаясь на больший коэффициент увеличения можно перейти к любой области образца одним нажатием в нужной точке на макро изображении. Это исключает необходимость повторного поиска дефектов, которая возникает при переходе с одного микроскопа на другой, а также использования сложных методов координат. Является ли вашей задачей оценка шероховатости поверхности, поиск мельчайших дефектов, анализ структурных особенностей или что бы то ни было еще, наши цифровые микроскопы оснащены рядом стандартных оптических технологий, а также усовершенствованными функциями обработки изображений, например HDR (расширенный динамический диапазон), для усиления контрастности.

Одним из типов анализов, который зачастую сопряжен со сложностями при использовании стандартных микроскопов, но может быть беспрепятственно выполнен на цифровых микроскопах — это работа с образцами, имеющими глянцевые поверхности. Анализ таких образцов на прямых микроскопах зачастую невозможен, поскольку обычно глянцевые поверхности – не идеально плоские и горизонтальные, из-за чего их крайне сложно расположить под правильным углом для надлежащего оптического доступа. В связи с этим, для исследования таких образцов предпочтение отдается инвертированным микроскопам, в которых образец изначально располагается под правильным углом относительно оси микроскопа. Однако, при использовании цифровых технологий и моторизованных компонентов становится возможным компенсировать ограничения, характерные для прямых микроскопов, благодаря чему становятся доступны дополнительные области для анализа.

Расширенный анализ

Интегрирование в цифровые микроскопы передового программного обеспечения для анализа изображений позволяет более индивидуально настроить ваш прибор. Наши цифровые микроскопы серии DSX оснащены как стандартными рабочими режимами, так и функциями с пошаговыми подсказками, что делает ваш рабочий процесс максимально простым. Теперь даже пользователи, прошедшие минимальное обучение, могут самостоятельно выполнять множество типов анализов, от фракционного анализа до технически сложной классификации частиц.

Данные примеры показывают, как с помощью одного цифрового микроскопа можно получить исчерпывающую информацию об объекте.

Макро изображение автомобильного значка. Круглые элементы — это бугорки.
Макро изображение алюминиевого значка. Круглые элементы — это бугорки.
Рассмотрение одного бугорка с более близкого расстояния.
Рассмотрение одного бугорка с более близкого расстояния.

Изображение поверхности неровностей, полученное при увеличении 5000x.
Изображение поверхности неровностей, полученное при увеличении 5000x.
3D-карта одного из бугорков.
3D-карта одного из бугорков.

См. также

Цифровая микроскопия: Анализ краев полупроводниковых чипов

Цифровая микроскопия: Анализ поверхности излома

Цифровая микроскопия: Контроль скола зубчатого колеса

Product Applications Manager, Olympus Corporation of the Americas, Scientific Solutions Group

A member of the Olympus team since 2016, Hamish provides product and application support for Olympus industrial microscope systems throughout the Americas. He is an expert in inspection applications, image analysis, measurement, and reporting, as well as custom optical solutions, with an emphasis on technical cleanliness and semiconductor equipment.

十月 2, 2018
Sorry, this page is not available in your country
InSight Blog Sign-up
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country