概述
Лазерный сканирующий микроскоп LEXT™ OLS5100 3D
Лазерный микроскоп для анализа материалов
Оптимизированный рабочий процесс, быстрые эксперименты
Созданный для анализа отказов и исследований в области материаловедения, лазерный микроскоп OLS5100 сочетает в себе исключительную точность измерений, превосходные оптические характеристики и «умные» функции, оптимизирующие рабочий процесс. Точное измерение формы и шероховатости поверхности на субмикронном уровне упрощает рабочий процесс и гарантирует достоверность данных.
Смотреть видеоЭксперименты в области материаловедения и анализа неисправностей«Smart Experiment Manager» упрощает рабочие процессы 3D-наблюдения и анализа отказов на субмикронном уровне, автоматизируя ранее трудоемкие задачи.
|
Гарантированная точность измерений
Объективы микроскопа LEXT обеспечивают высокое качество данных измерений. А благодаря инструменту «Smart Lens Advisor» вы можете быть уверены в достоверности полученных данных.
- Гарантированная точность измерений*
- Оптическая система Olympus уменьшает аберрацию для правильного захвата формы вашего образца по всему полю зрения
- «Smart Lens Advisor» поможет вам выбрать правильный объектив для измерения шероховатости поверхности
Лазерная сканирующая микроскопияМикроскоп прост в использовании как для начинающих так и опытных пользователей благодаря тщательно продуманному программному обеспечению.
|
优势特性
Laser Microscope Benefits | ||
1. Sub-micron 3D observation/measurement Observe steps in the nanometer range and measure height differences at the sub-micron level. | ||
2. ISO25178-compliant surface roughness measurement Measure surface roughness from linear to planar | ||
3. Non-contact, nondestructive, and fast No sample preparation required—simply place the sample on the stage and you're ready to measure. |
Reliable Data at the Push of a ButtonSmart Scan II Experienced and novice users alike can acquire data quickly and easily with the Smart Scan II feature. Place the sample on the stage, press the start button, and the microscope does the rest.
|
Measurement performance guarantee tailored to your operating environment | |
Accuracy and repeatability guaranteed | |
Surface metrology beyond the field of view *Only for OLS5100-SAF/EAF |
User-Friendly High-Resolution/High-Magnification Observation | ||
Continuous auto focus The microscope’s continuous autofocus keeps your images in focus when moving the stage or changing objectives, minimizing the need for manual adjustments. Permanent focus tracking enables you to perform observations quickly and easily. | ||
Dual DIC for nano-scale, real-time observation Detect minute damage in your sample with real-time, nanometerscale observation. Differential interference contrast (DIC) observation enables you to visualize nanometer-scale surface contours that are normally beyond the resolving power of a laser microscope. With DIC laser mode, the OLS5100 microscope can obtain live images comparable to those of an electron microscope, even when using a 5x or 10x low-power objective. | Back surface of wafer | Hard disk landing zone |
Comprehensive AnalysisMany analysis functions are available. The following is just an example, so please download the brochure or contact your Evident representative for details. | |
ISO25178 compliant areal roughness measurement The OLS5100 microscope scans the sample surface with a 0.4 μm diameter laser beam, enabling it to easily measure the surface roughness of samples that cannot be measured with contact surface roughness gauges. The ability to simultaneously acquire the color image, laser image, and 3D shape data of a surface that can't be measured with a contact surface roughness gauge expands the scope of analysis. | |
Measurement of the step between the highest and lowest points in a surface profile | Profile measurement/ Measurement assist tool The profile measurement function displays the surface profile by arbitrarily drawing a measurement line on the position to be measured on an image. It also measures the step between any two arbitrary points, width, cross-sectional area, and radius. Unlike contact-based measuring tools, setting the measured positions is easy. The measurement lines and points can be checked on the image, so even a very small site can be measured accurately. With the Measurement assist tool, the point to be measured can be correctly specified using the highest, lowest, middle, and/or mean points. When a site is specified in the acquired data, the feature points are automatically extracted according to specified conditions. |
软件
Эффективное управление экспериментом в области материаловедения и анализа отказов
Управление условиями эксперимента при измерении новых материалов — сложная задача; но «Smart Experiment Manager» лазерного микроскопа OLS5100 упрощает процесс путем автоматизации основных этапов, например, создания плана эксперимента.
- Выполнение измерений на 30% быстрее*
- План сканирования автоматически заполняется данными по мере их получения.
- Не тратьте время на расшифровку данных — программа сделает все за вас.
*По сравнению с OLS5000
Простая организация данных условий эксперимента
Щелкните на каждую ячейку в плане эксперимента, и программа автоматически сгенерирует имя файла, содержащего условия оценки для удобства ведения записей. Каждый файл содержит соответствующие изображения и данные.
Быстрое выявление проблем с данными
Цветовая карта помогает понять результаты эксперимента, убедиться в отсутствии ошибок и в том, что данные не были потеряны. Если есть проблема, вы можете выявить и исправить ее на более раннем этапе.
Выбор подходящего объектива
«Smart Lens Advisor» поможет вам выбрать нужный объектив для измерения шероховатости поверхности. Введите основную информацию — например, поле зрения и используемый объектив, и «Advisor» сообщит вам, насколько он подходит для данной задачи.
Легкий сбор данных
Как начинающие, так и опытные пользователи могут быстро и легко получить данные с помощью функции Smart Scan II. Поместите образец на столик и нажмите кнопку «Пуск» — микроскоп сделает все остальное.
规格
Главный модуль
Модель | OLS5100-SAF | OLS5100-SMF | OLS5100-LAF | OLS5100-EAF | ||
---|---|---|---|---|---|---|
Общий коэффициент увеличения | 54x–17,280x | |||||
Поле обзора | 16 мкм–5,120 мкм | |||||
Принцип измерения | Оптическая система |
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп отражательного типа
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп отражательного типа + ДИК Цвет Цвет-ДИК | ||||
Принцип измерения | Фотодетектор |
Лазер: Фотоумножитель (2 канала)
Цвет: Цветная CMOS-камера | ||||
Измерение высоты | Разрешение экрана | 0,5 нм | ||||
Измерение высоты | Динамический диапазон | 16 бит | ||||
Измерение высоты | Воспроизводимость σn-1*1 *2 *5 | 5X: 0,45 мкм, 10X: 0,1 мкм, 20X: 0,03 мкм, 50X: 0,012 мкм, 100X: 0,012 мкм | ||||
Измерение высоты | Погрешность *1 *3 *5 | 0,15+L/100 мкм (L: измеряемая длина [мкм]) | ||||
Измерение высоты | Погрешность сшитого изображения *1 *3 *5 | 10X: 5.0+L/100мкм, 20X или выше: 1.0+L/100мкм (L: Длина сшивки [мкм]) | ||||
Измерение высоты | Помехи при измерении (Sq) *1 *4 *5 | 1 нм (Тип) | ||||
Измерение ширины | Разрешение экрана | 1 нм | ||||
Измерение ширины | Воспроизводимость 3σn-1 *1 *2 *5 | 5X: 0,4 мкм, 10X: 0,2 мкм, 20X: 0.05 мкм, 50X: 0,04 мкм, 100X: 0,02 мкм | ||||
Измерение ширины | Погрешность *1 *3 *5 | Значение измерения +/- 1,5 % | ||||
Измерение ширины | Погрешность сшитого изображения *1 *3 *5 | 10X: 24+0,5L мкм, 20X: 15+0,5L мкм, 50X: 9+0,5L мкм, 100X: 7+0,5L мкм (L: Длина сшивки [мм]) | ||||
Макс. количество точек измерения в одном измерении | 4096 × 4096 пикселей | |||||
Макс. количество точек измерения | 36 мегапикселей | |||||
Конфигурация XY столика | Модуль измерения длины | • | NA | NA | • | |
Конфигурация XY столика | Рабочий диапазон | 100 × 100 мм Моториз. | 100 × 100 мм Ручн. | 300 × 300 мм Моториз. | 100 × 100 мм Моториз. | |
Макс. высота образца | 100 × 100 мм | 30 мм | 30 мм | 210 мм | ||
Источник лазерного излучения | Длина волны | 405 нм | ||||
Источник лазерного излучения | Макс. выходная мощность | 0,95 мВт | ||||
Источник лазерного излучения | Класс лазера | Класс 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014) | ||||
Источник цветного света | Белый светодиод | |||||
Электропитание | 240 Вт | 240 Вт | 278 Вт | 240 Вт | ||
Масса | Корпус микроскопа | Прибл. 31 кг | Прибл. 32 кг | Прибл. 50 кг | Прибл. 43 кг | |
Масса | Блок управления | Прибл. 12 кг |
*1 В условиях постоянной температуры и постоянной температуры окружающей среды (температура: 20˚C±1˚C, влажность: 50%±10%), указанной в ISO554(1976), JIS Z-8703(1983).
*2 Значение 20х или больше достигается при выполнении измерения с объективами серии MPLAPON LEXT.
*3 При выполнении измерения со специализированным объективом LEXT.
*4 Стандартное значение при выполнении измерения с объективом MPLAPON100XLEXT, может отличаться от гарантируемого значения.
*5 Гарантировано системой сертификации Olympus.
** Лицензия ОС Windows 10 сертифицирована для контроллера микроскопа, предоставленного Olympus. Таким образом, применяются условия лицензии Microsoft, и вы соглашаетесь с ними. Условия лицензии Microsoft см. ниже.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm
Объективы
Серия | Модель | Числовая апертура (NA) | Рабочее расстояние (WD) (мм) |
---|---|---|---|
Линза объектива UIS2 | MPLFLN2.5x | 0,08 | 10,7 |
MPLFLN5x | 0,15 | 20 | |
Специальный объектив LEXT (10X) | MPLFLN10xLEXT | 0,3 | 10,4 |
Специальный объектив LEXT (высокопроизводительный) | MPLAPON20xLEXT | 0,6 | 1 |
MPLAPON50xLEXT | 0,95 | 0,35 | |
MPLAPON100xLEXT | 0,95 | 0,35 | |
Специальный объектив LEXT (с длинным фокусным расстоянием) | LMPLFLN20xLEXT | 0,45 | 6,5 |
LMPLFLN50xLEXT | 0,6 | 5,2 | |
LMPLFLN100xLEXT | 0,8 | 3,4 | |
Объектив со сверхдлинным фокусным расстоянием | SLMPLN20x | 0,25 | 25 |
SLMPLN50x | 0,35 | 18 | |
SLMPLN100x | 0,6 | 7,6 | |
Длинное рабочее расстояние для ЖК-линзы | LCPLFLN20xLCD | 0,45 | 8.3-7.4 |
LCPLFLN50xLCD | 0,7 | 3.0-2.2 | |
LCPLFLN100xLCD | 0,85 | 1.2-0.9 |
Прикладное ПО
Стандартное ПО | OLS51-BSW | |||
---|---|---|---|---|
Стандартное ПО | Приложение для сбора данных | Приложение для анализа (простой анализ) | ||
Приложение для моторизованного столика*1 | OLS50-S-MSP | |||
Приложение для расширенного анализа*2 | OLS50-S-AA | |||
Приложение для измерения толщины пленки | OLS50-S-FT | |||
Приложение для автоматического измерения контуров изображения | OLS50-S-ED | |||
Приложение для анализа частиц | OLS50-S-PA | |||
Экспериментальное приложение Total Assist | OLS51-S-ETA | |||
Приложение для анализа угла скоса поверхности сферы/цилиндра | OLS50-S-SA |
*1 Включает функции сбора данных с автоматической сшивкой и сбора данных нескольких зон
*2 Включает анализ профиля, анализ различий, анализ высоты ступени, анализ поверхности, анализ площади/объема, анализ шероховатости линии, анализ шероховатости площади и анализ гистограммы.
Лазерные микроскопы Olympus
Пример установки OLS5100-SAF
OLS5100-SAF
| ||
OLS5100-EAF
| ||
OLS5100-SMF
| ||
OLS5100-LAF
|