Evident LogoOlympus Logo

Микроскопы
Производство печатных плат

Изготовление подложки печатной платы

Подложка изготавливается из стекла и эпоксидной смолы, а затем покрывается медной фольгой. Шероховатость поверхности медной фольги должна тщательно измеряться, поскольку она влияет на качество готовой печатной платы.

Анализ поверхности медной подложки

Мельчайшие дефекты на поверхности отразятся на качестве подложки. Контролеры должны обнаружить и измерить мельчайшие дефекты (микро-уровня)на поверхности медной подложки.

Наше решение

Наш цифровой микроскоп DSX1000 формирует 3D изображения, позволяя с легкостью анализировать состояние поверхности подложки. Также этот микроскоп способен измерять ширину и глубину мельчайших дефектов.

Цифровой микроскоп серии DSX

Цифровой микроскоп серии DSX

Анализ поверхности подложки

Анализ поверхности подложки

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопа
Использование лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000 для измерения шероховатости поверхности печатных плат Подробнее
Измерение шероховатости поверхности коллекторов электродов литий-ионных аккумуляторов
Измерение шероховатости поверхности коллекторов электродов литий-ионных аккумуляторов Подробнее

Анализ поверхности медной подложки

Шероховатая поверхность медной подложки отрицательно скажется на качестве ламинирования, поэтому измерение шероховатости поверхности медной подложки является критически важным этапом контроля качества печатных плат. При этом использовать измерительные приборы контактного типа нельзя, поскольку они повредят медную подложку.

Наше решение

Наш лазерный сканирующий микроскоп серии OLS позволяет выполнять бесконтактное измерение шероховатости поверхности медной подложки. Измерение выполняется без повреждения поверхности и предоставляет более точные данные, чем при использовании интерферометра, за счет высокого поперечного разрешения.

Лазерный сканирующий микроскоп серии OLS

Лазерный сканирующий микроскоп серии OLS

Анализ поверхности подложки

Анализ поверхности подложки

Указания по применению

Подробнее об областях применения:

Контроль проволочных выводов с помощью цифрового микроскопа
Использование лазерного конфокального микроскопа Olympus OLS5000 для измерения шероховатости поверхности печатных плат Подробнее
Измерение шероховатости поверхности коллекторов электродов литий-ионных аккумуляторов
Измерение шероховатости поверхности коллекторов электродов литий-ионных аккумуляторов Подробнее
Оценка шероховатости поверхности карт памяти
Оценка шероховатости поверхности карт памяти Подробнее
Not available in your country.
Not available in your country.
Sorry, this page is not available in your country