Evident LogoOlympus Logo

显微镜解决方案
您的系统

Персонализируйте программный пакет

Программное обеспечение OLYMPUS Stream™ – это мощный и простой в использовании инструмент измерения, специально разработанный для микроскопов Olympus. Нет необходимости вручную регистрировать оптические параметры объективов Olympus UIS2 при использовании с обычным микроскопом. Калибровка увеличения также не требуется при импорте изображений с микроскопов DSX и LEXT™. Программное обеспечение предлагается в разных пакетах: от базовой комплектации до более усовершенствованных версий.


Пакеты ПО OLYMPUS Stream 

ПО OLYMPUS Stream доступно в четырех вариантах с разными наборами функций: Start, Basic, Essentials и Motion.
Для упрощения многоразовых процедур анализа в систему можно добавлять программные модули для конкретных материалов. Представители компании Olympus помогут вам определить наиболее подходящий для вас пакет ПО. 

Узнать больше


Полностью интегрируется с большинством оптических микроскопов Olympus 

Прямые микроскопы

Система микроскопа BX53M и программного обеспечения

Система микроскопа BX53M и программного обеспечения 

Микроскоп BX53M использует запрограммированные функции, которые интегрируют аппаратные настройки микроскопа в программное обеспечение OLYMPUS Stream. Метод наблюдения, интенсивность освещения и положение объектива записываются с помощью ПО и/или рукояток. Настройки микроскопа можно автоматически сохранять вместе с каждым изображением, чтобы позволяет воспроизводить настройки в дальнейшем и предоставляет документацию для отчетности. 

Прямые микроскопы


Инвертированные микроскопы

Система микроскопа GX53 и программного обеспечения

Система микроскопа GX53 и программного обеспечения

Наши цифровые камеры обеспечивают получение изображений высокого качества и быструю передачу изображений, в то время как наше программное обеспечение предоставляет все необходимые инструменты для выполнения сложных процедур металлографического контроля. 
Пользователям доступен выбор расширенных измерений, стандартных методов металлографических исследований, а также расширенных модулей для конкретных металлографических задач (доступно более десятка специальных приложений). Кроме того, пользователям доступно автоматическое заполнение данных и создание отчетов, соответствующих общим спецификациям ASTM и ISO. 

Инвертированные микроскопы


Микроскопы для контроля полупроводников

Интегрированный микроскоп и системное ПО

Интегрированный микроскоп и системное ПО

Мы предлагаем пользователям несколько программных платформ, которые интегрируются в раму микроскопа для управления всеми механическими функциями, включая цифровую камеру и столик с механическим приводом. Каждый интерфейс предназначен для базовых процедур контроля и управления, расширенного анализа изображений или многократного контроля рабочего места или анализа дефектов.

Микроскопы для полупроводников


Стереомикроскопы

Система микроскопа SZX16 и программного обеспечения

Система микроскопа SZX16 и программного обеспечения

Наш стереомикроскоп оснащен моторизованным приводом фокусировки, который позволяет упростить и полностью автоматизировать процесс цифрового документирования с помощью расширенной фокальной визуализации (EFI). Вы даже можете создавать псевдо 3D-изображения. В программном обеспечении представлены инструменты для простых 2D-измерений и сложных процедур фазового анализа, а также поддержка большого количества процедур контроля, включая наблюдение, создание отчетов, создание баз данных и архивирование.

Стереомикроскопы


Расширьте возможности конфокальных и цифровых микроскопов Olympus

Используйте программное обеспечение OLYMPUS Stream для постобработки (Stream Desktop) с полным спектром цифровых микроскопов серии DSX и измерительным лазерным 3D-микроскопом LEXT.

Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT

Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT

Цифровой микроскоп серии DSX

Цифровой микроскоп серии DSX

Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT
Цифровой микроскоп DSX


Поддержка большинства цифровых камер Olympus

Разрешение и точность цветопередачи

Изображения с низким уровнем шума и высоким разрешением, полученные с помощью 9-мегапиксельного датчика, позволяют при их увеличении рассмотреть структуру образца (песчаник)

Изображения с низким уровнем шума и высоким разрешением, полученные с помощью 9-мегапиксельного датчика, позволяют при их увеличении рассмотреть структуру образца (песчаник)

Превосходное пространственное разрешение, а также большое количество пикселей, используют полную разрешающую способность объективов, отображая структуры и мельчайшие детали самых мелких образцов даже с объективами малого увеличения. Благодаря высокому разрешению изображений, пользователи могут проводить наблюдения исключительно на экране, без использования окуляров.

Детальный обзор с помощью инфракрасного (ИК) освещения

Изображение в светлом поле, 5-кратное увеличение, полученное монохромной камерой DP23M. a. Светлопольное изображение 5x b.) ИК-изображение 5x (фильтр BP1100 нм), c.) Обрезанная деталь 20x ИК, d.) Обрезанная деталь 20x ИК с фильтром DCE

Изображение в светлом поле, 5-кратное увеличение, полученное монохромной камерой DP23M.
a. Светлопольное изображение 5x
b.) ИК-изображение 5x (фильтр BP1100 нм),
c.) Обрезанная деталь 20x ИК,
d.) Обрезанная деталь 20x ИК с фильтром DCE

Режим ИК-визуализации является неотъемлемым инструментом для проведения контроля качества и работы в научно-исследовательских лабораториях. ИК-режим позволяет выполнять неразрушающий контроль через слои силиконовой упаковки продукции на завершающем этапе производства.

Цифровые камеры


Специальные методы наблюдения для материаловедения

Визуализация в режиме HDR для улучшенного контраста

Изображения с расширенным динамическим диапазоном (HDR) отличаются усиленным контрастом в неблагоприятных условиях измерения (слишком высветленные зоны в сочетании с крайне затемненными). В данном режиме могут использоваться все камеры, поддерживаемые ПО OLYMPUS Stream; специализированные камеры имеют динамический режим.

Выравнивание контраста слишком высветленной и затемненной областей с помощью HDR (пример: баллон топливного инжектора)

Выравнивание контраста слишком высветленной и затемненной областей с помощью HDR (пример: баллон топливного инжектора)

Усиление контраста в режиме HDR (образец: срез магнезита)

Усиление контраста в режиме HDR (образец: срез магнезита)


Наблюдение MIX для визуализации структуры поверхности образца

Программное обеспечение поддерживает функцию наблюдения MIX

Данная техника освещения сочетает метод направленного темного поля, в котором используется светодиодная лампа круговой подсветки для освещения одного или более квадрантов в определенный момент времени; и методы светлого поля, флуоресценция или поляризация, которые позволяют выделять дефекты и различать выпуклые поверхности от вогнутых, что обычно сложно сделать при использовании традиционных микроскопов. Методика MIX уменьшает ореолообразование вокруг образца и помогает рассмотреть текстуру поверхности.

Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива.

Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива.

Усовершенствованный метод: метод MIX – это комбинация светлого поля и направленного темного поля от кольца LED лампы; направление освещения светодиодной лампы можно настроить

Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива.

Усовершенствованный метод: метод MIX – это комбинация светлого поля и направленного темного поля от кольца LED лампы; направление освещения светодиодной лампы можно настроить

 

Sorry, this page is not available in your country

Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Sorry, this page is not available in your country