概述
Prostszy przebieg inspekcji
Oprogramowanie OLYMPUS Stream zapewnia szczegółowe, inteligentne procedury, które pozwalają na akwizycję ostrych i czytelnych obrazów gotowych do pomiarów ilościowych i opracowywania profesjonalnych raportów zgodnych z najnowszymi normami. Każdy użytkownik — bez względu na poziom doświadczenia — może samodzielnie realizować kompleksowe analizy obrazów, od akwizycji po opracowywanie standardowych raportów, w każdych warunkach obrazowania.
Oprogramowanie stworzone w taki sposób, aby umożliwić elastyczną pracę, oferuje szeroką gamę funkcji niezbędnych do szybkiego prowadzenia dokładnych obserwacji różnych typów próbek przy zachowaniu wysokiego poziomu bezpieczeństwa danych i niezawodności pomiarów. Dzięki dodatkowym rozwiązaniom użytkownik może dostosować oprogramowanie OLYMPUS Stream do wykorzystania w konkretnych obszarach, takich jak analiza jakości, badania i rozwój, opracowywanie procesów technologicznych i kontrola jakości.
Wypróbuj oprogramowanie OLYMPUS Stream bezpłatnie przez 30 dni.
Kliknij przycisk „Proszę o prezentację” i prześlij prośbę o otrzymanie 30-dniowej licencji z pierwszym opakowaniem produktu.
Łatwy w użyciu interfejs i szczegółowe wskazówki
Inteligentne techniki akwizycji idealnie czytelnych obrazów
|
|
Oszczędność czasu przy wykonywaniu powtarzalnych zadań
|
|
Oprogramowanie stworzone dla sprzętu Olympus
Bezproblemowa współpraca z mikroskopami optycznymi firmy Olympus
|
|
Działa z większością kamer cyfrowych firmy Olympus
|
|
Specjalne metody obserwacji
|
|
Odpowiedź na wyzwania związane z inspekcjami
Zaawansowane rozwiązania w dziedzinie obrazowania
|
|
Rozwiązania dla metalografii (branży metalurgicznej)
|
|
Rozwiązania do obróbki maszynowej (dla przemysłu motoryzacyjnego / części obrabianych)
|
|
Rozwiązania dla przemysłu elektronicznego (branży urządzeń elektronicznych i półprzewodników)
|
|
Rozwiązania do kontroli powłok powierzchniowych i osadów cienkowarstwowych (branża lakiernicza i pokrewne)
|
|
智能技术
Szczegółowe wskazówki
Dynamiczny, czytelny interfejs użytkownika pomaga w zachowaniu porządku na pulpicie, ponieważ wyświetla tylko te narzędzia i funkcje, które są potrzebne w danym momencie. Interfejs prowadzi użytkownika krok po kroku przez każdy etap procesu — od akwizycji obrazu przez jego przetworzenie po opracowanie raportu. Oprogramowanie oferuje ponadto zestaw intuicyjnych narzędzi, za pomocą których łatwo można przeprowadzić zarówno proste, jak i złożone pomiary.
Przejrzyste układy ekranu
Układy ekranu oprogramowania są uporządkowane i zawierają tylko te funkcje, które są potrzebne do wykonania wymaganych zadań. Uproszczone układy ekranu pomagają w usprawnieniu inspekcji i skutecznie prowadzą użytkownika przez jej proces.
Akwizycja obrazów: przechwytywanie obrazów jednym kliknięciem myszki
Narzędzia do pracy z obrazami wyświetlanymi na żywo
Szacowanie wielkości porów przy użyciu kratek cyfrowych na żywo (przekrój odlewu ciśnieniowego) | Oprogramowanie jest wyposażone w funkcje pracy z obrazem na żywo, co zapewnia błyskawiczne uzyskiwanie informacji zwrotnych. Korzystając z oprogramowania, użytkownik może pracować z obrazem wyświetlanym na żywo, który jest automatycznie kalibrowany, i przeprowadzać na jego podstawie pomiary ilościowe. |
Szybka panorama i zwiększona głębia ostrości
Użytkownik może szybko tworzyć obrazy próbek sięgające poza standardową głębię ostrości lub pole widzenia. Funkcja Instant Extended Focus Image (EFI) precyzyjnie reguluje ogniskową, pozwalając połączyć wiele obrazów wykonanych na różnych poziomach osi Z w jeden ostry obraz zbiorczy. Funkcja Instant Multiple Image Alignment (MIA) ułatwia tworzenie obrazów panoramicznych poprzez proste przesuwanie stolika w osiach XY; nie jest już potrzebny stolik zmotoryzowany.
Obraz Instant EFI kryształu: tworzony jest w pełni ostry obraz, nawet jeśli w próbce obecne są obszary o niskim kontraście
Obraz Instant MIA monety
Przywoływanie ustawień akwizycji
Szybkie przywołanie używanych wcześniej ustawień kamery, tak by akwizycja obrazów odbywała się w spójnych, powtarzalnych warunkach. Gdy używany jest mikroskop zmotoryzowany, funkcja ta może automatycznie przywołać zapisane nastawy sprzętu. W przypadku korzystania z mikroskopu z serii BX, GX lub MX oprogramowanie prowadzi użytkownika krok po kroku przez proces ręcznego przywoływania ustawień.
| Krok obsługi | Operator A | Operator B |
| Różni operatorzy używają różnych ustawień |
| |
| Łatwa weryfikacja prawidłowych ustawień |
| |
| Synchronizacja ustawień obserwacji |
| |
| Ustawienia pozostają takie same, niezależnie od operatora |
| |
Rozwiązanie 3D
Trójwymiarowy pomiar profilometryczny ścieżki zużycia | Rozwiązanie to tworzy mapy wysokości na podstawie stosów obrazów uzyskanych automatycznie lub ręcznie w różnych położeniach na osi Z. Uzyskany obraz można przedstawić w formie trójwymiarowego widoku powierzchni. Łatwo można wykonywać m.in. pomiary profilu 3D lub różnic wysokości między dwoma bądź kilkoma punktami, a następnie wyeksportować wyniki do skoroszytów i arkuszy kalkulacyjnych programu Microsoft Excel. |
Asysta przy specjalistycznych analizach
Podczas analizy obrazu oprogramowanie prowadzi użytkownika krok po kroku przez każdy etap procesu. Dotyczy to również metod, które są zgodne z najczęściej stosowanymi normami międzynarodowymi. Gdy używany jest stolik zmotoryzowany, funkcja wyrównywania przyspiesza pracę z próbkami rozmieszczonymi w kilku lokalizacjach.
Automatyczna kalibracja
 | Funkcja automatycznej kalibracji używa standardowego mikrometru do kalibracji mikroskopu i automatycznie generuje raport z kalibracji. Takie rozwiązanie ułatwia eliminację zmienności procesu kalibracji, gdy realizują go różni użytkownicy, a w efekcie podnosi wiarygodność pomiarów. |
Zautomatyzowane narzędzia do inspekcji
Oprogramowanie udostępnia zautomatyzowane narzędzia, które pozwalają w kilka minut wygenerować ogromny zestaw danych. Automatyczna kalibracja powiększenia wykorzystuje skalibrowaną siatkę, co ułatwia wyświetlanie obrazów z odpowiednim paskiem skali i potwierdzenie pomiarów. Duże obszary można obrazować automatycznie przy użyciu stolików umożliwiających zmotoryzowany ruch w osiach XYZ, co pozwala na tworzenie obrazów dużych części w wysokiej rozdzielczości.
Ostry i wysokokontrastowy obraz MIA matrycy układu scalonego (obserwacja w ciemnym polu przez obiektyw 20X)
Istotne informacje ilościowe
Narzędzia oprogramowania udostępniają informacje ilościowe na temat próbki. Interaktywne pomiary na obrazach pozyskiwanych na żywo i nieruchomych obrazach zarejestrowanych dostarczają informacji o podstawowych wymiarach (długości, polu powierzchni i średnicy), a wyniki są widoczne bezpośrednio na obrazie.
Zaawansowane pomiary interaktywne to na przykład półautomatyczne mierzenie pola powierzchni za pomocą „magicznej różdżki” i złożonych, wielokątnych kształtów. Rozwiązanie Count and Measure (Zliczanie i pomiar) zapewnia z kolei dostęp do ponad setki parametrów pojedynczych cząstek, umożliwiając ilościową analizę na bazie metody progowej.
Pomiary podstawowe (nadprzewodnik) |
„Magiczna różdżka” (nadprzewodnik) |
Wykrywanie obiektu (nadprzewodnik) |
Efektywne tworzenie raportów
Opracowanie raportu niejednokrotnie trwa dłużej niż akwizycja obrazu i wykonanie pomiarów. Oprogramowanie umożliwia powtarzalne tworzenie inteligentnych, kompleksowych raportów bazujących na zdefiniowanych wcześniej szablonach. Edytowanie jest proste, a raporty można eksportować w formatach programów Microsoft Word, Excel i PowerPoint. Ponadto narzędzie do obsługi raportów w oprogramowaniu umożliwia cyfrowe przybliżanie i powiększanie uzyskanych obrazów. Pliki raportów mają „praktyczne” rozmiary, pozwalające na bezproblemową wymianę danych za pośrednictwem poczty e-mail.
Profesjonalny raport z podsumowaniem wyników zliczania cząstek
您的系统
Wybierz pakiet oprogramowania odpowiednio do potrzeb
Oprogramowanie OLYMPUS Stream jest zaawansowanym, a jednocześnie przyjaznym dla użytkownika narzędziem pomiarowym, stworzonym specjalnie pod kątem mikroskopów Olympus z pomocą doświadczonych użytkowników tych instrumentów. Oprogramowanie to jest dostępne w rozmaitych pakietach dostosowanych do potrzeb różnych użytkowników — od podstawowego oprogramowania OLYMPUS Stream Start po pakiety zaawansowane.
Pakiety oprogramowania OLYMPUS Stream
Oprogramowanie OLYMPUS Stream jest dostępne w czterech pakietach, które różnią się oferowanymi funkcjami — Start, Basic, Essentials i Motion.
W celu usprawnienia powtarzalnych zadań analitycznych można dodać moduły materiałowe przeznaczone do określonych zastosowań. Przedstawiciele firmy Olympus służą pomocą w wyborze odpowiedniego pakietu oprogramowania.
Bezproblemowa współpraca z większością mikroskopów optycznych firmy Olympus
Mikroskopy pionowe do przeprowadzania kontroli
 Mikroskop BX53M i oprogramowanie | Mikroskop BX53M jest wyposażony w kodowane funkcje, które integrują zapisane nastawy mikroskopu z oprogramowaniem OLYMPUS Stream. Informacje o metodzie obserwacji, natężeniu oświetlenia i pozycji obiektywu są rejestrowane w oprogramowaniu i/lub module sterowania. Ustawienia mikroskopu można automatycznie zapisać z każdym obrazem, co ułatwia odtwarzanie wcześniej używanych ustawień i dostarczenie dokumentacji do celów sprawozdawczych. |
Mikroskopy odwrócone do przeprowadzania kontroli
Mikroskop GX53 i oprogramowanie |
Nasze kamery cyfrowe zapewniają wysoką rozdzielczość i szybkie przesyłanie obrazu, natomiast oprogramowanie udostępnia wszystkie narzędzia, które są niezbędne, aby sprostać obecnym złożonym wymogom analizy metalurgicznej.
|
Mikroskopy do kontroli półprzewodników
Zintegrowany mikroskop i oprogramowanie | Oferujemy kilka platform oprogramowania, które można zintegrować z ramami mikroskopów do badania półprzewodników w celu sterowania wszystkimi funkcjami zmotoryzowanymi, w tym kamerą cyfrową i stolikiem zmotoryzowanym. Każdy interfejs jest przeznaczony do przeprowadzania podstawowej inspekcji i kontroli, zaawansowanej analizy obrazu lub powtarzalnej kontroli lokalnej i przeglądu wad. Zapoznaj się z gamą naszych mikroskopów do badania półprzewodników |
Mikroskopy stereoskopowe do przeprowadzania kontroli
Mikroskop SZX16 i oprogramowanie | Napęd zmotoryzowanego ogniskowania mikroskopu stereoskopowego usprawnia i w pełni automatyzuje obsługę dokumentacji cyfrowej przy użyciu funkcji Extended Focal Imaging (EFI). Funkcja ta umożliwia nawet tworzenie obrazów pseudo 3D. Oprogramowanie oferuje narzędzia umożliwiające wykonywanie różnorodnych pomiarów — od prostych pomiarów 2D aż do złożonej analizy faz — i obsługuje wiele operacji, w tym obserwację, generowanie raportów, tworzenie baz danych i archiwizację. |
Zwiększ moc konfokalnych i cyfrowych mikroskopów firmy Olympus
Wykorzystuj oprogramowanie OLYMPUS Stream do przetwarzania końcowego (Stream Desktop) danych z całej gamy mikroskopów cyfrowych DSX oraz mikroskopu laserowego LEXT do pomiarów 3D.
Mikroskop laserowy LEXT do pomiarów 3D |
Seria mikroskopów cyfrowych DSX |
Zapoznaj się z gamą mikroskopów laserowych LEXT do pomiarów 3D
Zapoznaj się z gamą mikroskopów cyfrowych DSX
Obsługa większości kamer cyfrowych firmy Olympus
Rozdzielczość i wierność reprodukcji kolorów
9-megapikselowa matryca pozwala uzyskać niezaszumione obrazy o wysokiej rozdzielczości, umożliwiając użytkownikowi przybliżenie obrazu i odkrycie głęboko ukrytych struktur próbki (piaskowiec) | Znakomita rozdzielczość przestrzenna i duża liczba pikseli pozwalają wykorzystać całą rozdzielczość optyczną obiektywów, co umożliwia obrazowanie małych struktur i szczegółów próbek nawet przy stosowaniu obiektywów o niewielkim powiększeniu. Dzięki wysokiej jakości obrazów użytkownik może przeprowadzać obserwacje tylko na ekranie i nie potrzebuje okularów. |
W podczerwieni widać więcej
Obraz tylnej strony wafla krzemowego w podczerwieni
| Tryb obrazowania w podczerwieni to główne narzędzie pracy podczas kontroli jakości i w laboratoriach badawczo-rozwojowych. Tryb pracy w podczerwieni umożliwia przeprowadzenie inspekcji przez krzemowe warstwy gotowych wyrobów na końcowym etapie produkcji bez ich niszczenia. |
Zapoznaj się z gamą naszych kamer cyfrowych
Specjalne metody obserwacji dla materiałoznawstwa
Obrazowanie przy użyciu funkcji HDR w celu zwiększenia kontrastu obrazu
Obrazowanie z włączoną funkcją szerokiego zakresu dynamicznego (HDR) pomaga w optymalizacji kontrastu podczas pracy w trudnych warunkach (bardzo jasne i bardzo ciemne obszary na tym samym obrazie). Wszystkie kamery obsługiwane przez oprogramowanie OLYMPUS Stream działają w tym trybie, a wybrane kamery mogą też działać w trybie na żywo.
Wyraźne wyeksponowanie jasnych i ciemnych obszarów przy użyciu funkcji HDR (przykład: część naboju z paliwem) |
Wzmocnienie kontrastowe techniką HDR (próbka: magnezyt pocięty na warstwy) |
Prowadzenie obserwacji MIX w celu uwidocznienia struktury powierzchni
Obsługa obserwacji MIX przez oprogramowanie
Ta technika oświetlenia stanowi połączenie kierunkowego oświetlenia pola ciemnego, która to funkcja wykorzystuje okrągły oświetlacz LED do oświetlania w danej chwili co najmniej jednego kwadrantu, oraz innej metody, takiej jak obserwacja w jasnym polu, fluorescencja lub polaryzacja. Dzięki temu użytkownik może wyróżnić defekty i rozróżnić powierzchnie wyniesione oraz wgłębienia, co jest trudne do uzyskania za pomocą konwencjonalnych mikroskopów. Obserwacja MIX ogranicza halację próbki i jest użyteczna do wizualizacji tekstury jej powierzchni.
|
|
|
|
Konwencjonalne rozwiązanie: w metodzie jasnego pola światło pada prosto na próbkę, podczas gdy w tradycyjnej metodzie ciemnego pola światło kierowane jest na próbkę z boku obiektywu, co uwydatnia zarysowania i niedoskonałości na płaskiej powierzchni | Zaawansowane rozwiązanie: obserwacja MIX to połączenie metody pola jasnego i kierunkowego oświetlenia pola ciemnego z pierścienia LED; diody LED można dostosować w taki sposób, aby wybrać kierunek oświetlenia | ||
解决方案
Odpowiedź na wyzwania związane z inspekcjami
Obowiązujące w laboratoriach przemysłowych standardowe procedury operacyjne wymagają otrzymywania powtarzalnych i odtwarzalnych wyników. Oprogramowanie OLYMPUS Stream oferuje proste i niezawodne procedury postępowania, które usprawniają inspekcje, pomiary i analizy. Oprogramowanie to oferuje rozmaite narzędzia do analiz badawczych różnych materiałów, sprzyjając wiarygodności uzyskiwanych wyników.
Mikroskopy przemysłowe firmy Olympus usprawniają analizy metalurgiczne
Rozwiązanie Count and Measure (Zliczanie i pomiar)
Rozwiązanie Count and Measure (Zliczanie i pomiar) oferowane przez oprogramowanie korzysta z zaawansowanych metod progowych do niezawodnego wyodrębniania obiektów, takich jak cząstki i rysy, z tła. Dostępnych jest ponad 50 parametrów pomiaru i klasyfikacji obiektów, w tym kształt, rozmiar, położenie i cechy pikseli.
|
|
|
|
|
Konwencjonalne oprogramowanie | Mikrostruktura stali trawionej | OLYMPUS Stream |
Wyniki klasyfikacji ziaren
Efektywna analiza
Przykład konfiguracji okna Macro Manager dla funkcji Count and Measure (Zliczanie i pomiar) | Za pomocą okna Macro Manager można wstępnie skonfigurować złożone zadania z zakresu obrazowania i pomiarów, a następnie wykonać je jednym kliknięciem. |
Zaawansowane filtry obrazów
Kontrast wzmocniony przy użyciu filtra DCE (dendryt w odlewie aluminiowym) | Oprogramowanie oferuje wiele użytecznych filtrów do wykrywania krawędzi, wygładzania i innych zastosowań. |
Pomiary trójwymiarowe i profile liniowe
Rozwiązanie OLYMPUS Stream 3D umożliwia sterowanie osią Z instrumentów kodowanych i zmotoryzowanych oraz błyskawiczną regulację ogniskowej (EFI), tworząc mapy wysokości służące do pomiarów próbek trójwymiarowych.
Widok powierzchni 3D (przykład testu chropowatości) |
Jeden widok i pomiar profilu 3D |
Rozwiązania dla metalografii (branży metalurgicznej)
| Techniki metalograficzne stosuje się przy opracowywaniu nowych materiałów, do inspekcji przyjmowanych materiałów, do kontroli produkcji i analizy pęknięć.
|
Rozwiązania do obróbki maszynowej (dla przemysłu motoryzacyjnego / części obrabianych)
| Dla zapewnienia wysokiej jakości produkowanych części niezbędne jest ścisłe monitorowanie zarysowań, pęknięć, wielkości porów i zanieczyszczeń podczas procesu produkcyjnego.
|
Rozwiązania dla przemysłu elektronicznego (branży urządzeń elektronicznych i półprzewodników)
| Na płytki drukowane nanoszone są bardzo cienkie powłoki. Weryfikacja ich jednorodności ma zasadnicze znaczenie dla zapewnienia jakości produktów.
|
Rozwiązania do kontroli powłok powierzchniowych i osadów cienkowarstwowych (branża lakiernicza i pokrewne)
| Powłoki powierzchniowe są mieszaninami substancji tworzących cienkie warstwy, zawierającymi pigmenty, rozpuszczalniki i inne dodatki, które po nałożeniu na powierzchnię i utwardzeniu lub wysuszeniu tworzą funkcjonalne, a często także ozdobne pokrycie.
|
Rozwiązania materiałowe do wszelkich zastosowań
| Rozwiązania | Opisy |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) |
Producenci stali używają tego rozwiązania do pomiaru i kontroli rozmiaru ziaren po przecięciu, wypolerowaniu lub wytrawieniu próbek stali.
Działanie funkcji polega na nakładaniu linii testowych i zliczaniu liczby przecięć tych linii z granicami ziaren. |
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) |
Producenci stali używają tego rozwiązania do pomiaru i kontroli rozmiaru ziaren po przecięciu, wypolerowaniu lub wytrawieniu próbek stali.
Metoda ta polega na rekonstrukcji granic każdego ziarna z osobna i określeniu wielkości ziarna na podstawie udziału procentowego pola powierzchni fazy wtórnej. |
| Non-Metallic Inclusions (Wtrącenia niemetaliczne) | Producenci stali używają tego rozwiązania do pomiaru i kontroli kształtów oraz rozmiarów wtrąceń niemetalicznych (tlenków, glinianów, siarczków i krzemianów) w stali. |
| Cast Iron (Żeliwo) | Z rozwiązania tego korzystają producenci odlewów, którzy muszą mierzyć i kontrolować sferoidalność grafitu oraz weryfikować właściwości mechaniczne swoich wyrobów. |
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) | Obrazy pozyskiwane na żywo lub zarejestrowane można nakładać na standardowe wzorce celem porównania. Dostępny jest podgląd funkcji. |
| Dendrite Arm Spacing (Odstęp między ramionami dendrytów) | To rozwiązanie służy do ręcznego lub automatycznego określenia średniego odstępu między ramionami dendrytów w aluminium odlewniczym. |
| Layer Thickness (Grubość warstwy) | Rozwiązanie to umożliwia pomiar jednej lub wielu warstw przekroju próbki. Automatycznie odnajduje kształty warstw i wykonuje pomiar. |
| Coating Thickness (Grubość powłoki) | To rozwiązanie umożliwia pomiar grubości powłoki na podstawie obrazów widoku z góry przy użyciu metody Calotest. |
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) | To rozwiązanie służy do wykonywania pomiarów na podstawie krawędzi wykrytych w obrazie pozyskiwanym na żywo, przy użyciu techniki wykrywania wzorców. |
| Throwing Power (Wgłębność) | To rozwiązanie mierzy rozkład grubości powłoki miedzianej w otworach przelotowych i mikroprzelotkach (micro-vias). |
| Porosity (Porowatość) | To rozwiązanie umożliwia pomiar porów w kategoriach ułamków powierzchni lub liczby, przy wykorzystaniu obszarów zainteresowania (okrągłych, trójkątnych, prostokątnych i wielokątnych) oraz progów. |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) | To rozwiązanie służy do generowania histogramów i tabel rozkładu rozmiarów cząstek na podstawie obrazów lub serii obrazów. |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) | Jest to nowe, zintegrowane rozwiązanie do analizy faz w wybranych obszarach zainteresowania o kształcie trójkątnym, okrągłym, prostokątnym lub wielokątnym. |
| Rozwiązania | Metalurgia | Przemysł motoryzacyjny | Szkło/ceramika | Powłoki | Towary konsumpcyjne | Urządzenia elektroniczne |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) | ■ | ■ | ■ | |||
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion Worst Field (Wtrącenia metodą najgorszego pola) | ■ | ■ | ■ | |||
| Cast Iron (Żeliwo) | ■ | ■ | ■ | |||
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) | ■ | ■ | ■ | |||
| Layer Thickness (Grubość warstwy) | ■ | |||||
| Coating Thickness (Grubość powłoki) | ■ | |||||
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) | ■ | ■ | ||||
| Throwing Power (Wgłębność) | ■ | ■ | ||||
| Porosity (Porowatość) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Rozwiązania |
Półprzewodniki
| Płyny i oleje |
Obrabiane
części |
Włókna węglowe/
kompozyty |
Chemikalia/
tworzywa sztuczne/ przemysł gumowy |
Naukowe
badania przemysłowe |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) | ■ | ■ | ■ | |||
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion Worst Field (Wtrącenia metodą najgorszego pola) | ■ | ■ | ■ | |||
| Cast Iron (Żeliwo) | ■ | ■ | ■ | |||
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) | ■ | ■ | ■ | |||
| Layer Thickness (Grubość warstwy) | ■ | ■ | ||||
| Coating Thickness (Grubość powłoki) | ■ | |||||
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) | ||||||
| Throwing Power (Wgłębność) | ||||||
| Porosity (Porowatość) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
技术参数
Specyfikacja oprogramowania objętego licencją główną
| ■: Standard □: Opcja | Start | Basic | Essentials | Motion | Desktop | |
| Akwizycja obrazów | Podstawowa akwizycja obrazów, w tym HDR i automatyczna kalibracja powiększenia oraz Live HDR*1, a także nawigacja do pozycji*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Programowy autofokus*2 i akwizycja filmów (w formacie avi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Film poklatkowy, Instant EFI oraz MIA w trybie Instant/ręcznym*3 | □ | ■ | ■ | |||
| Akwizycja EFI/MIA i zwiększanie głębi ostrości (Z-stack) w mikroskopie zmotoryzowanym | □ | □ | ■ | |||
| Zdalna obserwacja na żywo (NetCam) | □ | □ | □ | |||
| Narzędzia do pracy z obrazami i adaptacji | Okna narzędzi podstawowych (historia obrazu, właściwości, nawigator, widok galerii)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Adnotacje, zarządzanie warstwami, pasek skali, kursor krzyżowy, wyświetlanie stempli informacyjnych i filtry obrazów | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Cyfrowa kratka/siatka, wyświetlanie profilu liniowego, funkcja użytkownika, zarządzanie układem i Macro Manager | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| Pomiary/analizy obrazów | Podstawowe pomiary interaktywne (odległość, kąty, prostokąty, okręgi, elipsy, wielokąty, odległość okrąg-okrąg, linijka do pomiaru kątów i linijka do pomiaru długości) oraz eksport danych do programu MS Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analiza faz, „magiczna różdżka”, polilinia dowolna, wielokąt interpolowany, filtr morfologii i operacje arytmetyczne na obrazie | □ | ■ | ■ | ■ | ||
| Pomiary 3D, pomiary profilu 3D i widok powierzchni 3D | □ | □ | ■ | ■ | ||
| Raportowanie*5 | Tworzenie raportów (formaty MS Word i MS Excel) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Tworzenie prezentacji | □ | □ | □ | □ | ||
| Zarządzanie danymi | Składnica dokumentów Stream*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Baza danych grupy roboczej z ustrukturyzowanym formatem danych | □ | □ | □ | □ | ||
| Kompatybilność z urządzeniami | Mikroskopy marki Olympus*7 i kamery marki Olympus*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Kamery i konwerter obrazu źródłowego marek innych niż Olympus*9 | ■ | ■ | ■ | |||
| Sterownik stolika marki innej niż Olympus*9 | □ | □ | ■ | |||
| Wymagania dotyczące komputera PC | |
| Procesor (CPU) | Intel® Core i5, Intel® Core i7, Intel® Xeon |
| Pamięć RAM / dysk twardy / napęd DVD | Co najmniej 4 GB (zalecane 8 GB)/co najmniej 2,4 GB wolnego miejsca/zgodność z DVD+R DL |
| System operacyjny*10 | Windows 10 Pro (64-bitowy), Windows 8.1 (64-bitowy) Pro, Windows 7 (64-bitowy) Professional z dodatkiem SP1 |
| .NET Framework | Wersja 4.6.2 lub nowsza |
| Karta graficzna*11 | Monitor o rozdzielczości 1280 × 1024 z 32-bitową kartą wideo |
| Przeglądarka WWW | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 lub 11 |
*1 Wymaga kamery DP74, funkcja Live HDR wymaga 64-bitowego systemu operacyjnego.
*2 Wymaga mikroskopu Olympus ze zmotoryzowaną osią Z lub zewnętrznej zmotoryzowanej osi Z i rozwiązania OLYMPUS Stream Motion lub Automation
*3 Funkcja Instant MIA może nie działać prawidłowo z niektórymi kamerami
*4 Zapis i odczyt plików we wszystkich popularnych formatach oraz otwieranie plików w zastrzeżonych formatach firmy Olympus (DSX, LEXT i POIR)
*5 Wymaga pakietu Microsoft Office 2019, 2016, 2013 (SP1) lub 2010 (SP2)
*6 Korzysta z serwera Microsoft SQL Server Express
*7 Obsługuje modele MX61A, MX61, MX61L, MX61A, MX63L, MX63, GX53, BX3M-CB, BX3M-CBFM, BX-UCB, BX-REMCB, IX-UCB, SZX-MDCU, SZX2-MDCU, U-CBS, STM7.
*8 Obsługuje modele DP21, DP22, DP23, DP26, DP27, DP28, DP73, DP74, LC20, LC30, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10.
*9 Informacje o obsługiwanych urządzeniach można uzyskać od firmy Olympus
*10 DP74 obsługuje system Windows 10/8.1 (64-bitowy) i Windows 7 (32-bitowy/64-bitowy). Model DP73 obsługuje system Windows 8.1/7 (64-bitowy). Model SC180/UC90 obsługuje system Windows 10/8.1/7 (64-bitowy).
*11 Wymagana konfiguracja dla funkcji Live HDR w modelu DP74. Karta graficzna zgodna z architekturą CUDA firmy NVIDIA (wersja Compute Capability 2.1 lub wyższa). Sterownik karty graficznej zgodny z architekturą CUDA w wersji 9.1 lub wyższej.
Specyfikacja rozwiązań specjalnych
| Rozwiązania | Kompatybilność | Funkcje | ||
| Basic/Essentials | Motion | Desktop | Typ pomiaru | |
| 3D | □ | Uwzględniono | Częściowo uwzględniono* | Widok powierzchni 3D, pomiar 3D, pomiar profilu 3D, zwiększanie głębi ostrości (Z-stack)/EFI na instrumentach zmotoryzowanych, Instant EFI z mapą wysokości (wymaga kodowanej lub zmotoryzowanej osi Z). |
| Automation | □ | Uwzględniono | Rozwiązanie Automation (MIA w trybie zmotoryzowanym/ręcznym/Instant, EFI w trybie zmotoryzowanym/Instant bez mapy wysokości (wymaga kodowanej lub zmotoryzowanej osi XYZ), z techniką poklatkową. | |
| Weld Measurement (Pomiar spoin) | □ | □ | □ | Rozwiązanie do pomiaru spoin (pomiar zniekształceń geometrycznych wywołanych ogrzewaniem w trakcie spawania). |
| Count & Measure (Zliczanie i pomiar) | □ | □ | □ |
Dostępnych jest wiele metod wyznaczania progu (automatyczna, ręczna HSV, ręczna i adaptacyjna)
System może automatycznie mierzyć wiele parametrów wszystkich posegmentowanych obiektów (pole powierzchni, stosunek szerokości do wysokości, dwusieczna, prostokąt ograniczający, środek ciężkości, średnica wewnętrzna, środek masy, natężenia, wypukłość, średnice, wydłużenie, średnica Fereta, rozpiętość, odległość od następnego sąsiada, orientacja, obwód, promień, kształt, kulistość itd.) Arkusz kalkulacyjny i wykresy z poszczególnymi pomiarami i rozkładem. |
* Nie można korzystać z funkcji związanych z akwizycją obrazów
Specyfikacja rozwiązań materiałowych
| Rozwiązania | Kompatybilność | Forma wyników | ||||
| Basic | Essentials/Motion | Desktop | Automatyczne tworzenie raportów | Skoroszyt z poszczególnymi pomiarami | Zapisywanie wszystkich wyników we właściwościach obrazów | |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
| Non-Metallic Inclusions (Wtrącenia niemetaliczne) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Cast Iron (Żeliwo) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Layer Thickness (Grubość warstwy) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Coating Thickness (Grubość powłoki) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Dendrite Arm Spacing (Odstęp między ramionami dendrytów) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) | □ | □ | ■ | |||
| Throwing Power (Wgłębność) | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
| Porosity (Porowatość) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) | □ | Uwzględniono | Uwzględniono | ■ | ■ | |
| Rozwiązania | Funkcje | ||
| Typ pomiaru | Uwzględnione normy |
Wiele położeń stolika*1 Wyrównywanie próbki*1 | |
| Grain Intercept (Ziarna metodą siecznych) |
Wybór wzoru (okręgi, krzyże, krzyże i okręgi, linie pionowe, linie poziome, linie poziome i pionowe)
Definiowanie liczby linii testowych używanych do określania wydłużenia ziaren Wyświetla wartość G w oknie narzędzia Material Solution | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Grain Planimetric (Ziarna metodą planimetryczną) |
Automatyczne wyodrębnianie granic ziaren
Interaktywne suwaki w oprogramowaniu Stream ułatwiają korzystanie z rozwiązania Wyświetla histogram wartości G w oknie Material Solution, a także nawigację do pozycji*1, umożliwiając bezpośrednią interakcję | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Non-Metallic Inclusions (Wtrącenia niemetaliczne) |
Automatyczne wykrywanie wtrąceń niemetalicznych na podstawie kolorów, kształtu i rozmiaru
Automatyczna klasyfikacja tlenków, siarczków, krzemianów i glinianów Wyświetlanie na bieżąco wykrytych wtrąceń wraz z ich ocenami | ASTM E45-18 (metoda A), DIN 50602:1985 (metoda M), ISO 4967:2013 (metoda A), GB/T 10561-2005 (metoda A, równoważna z ISO 4967), JIS G 0555:2003 (metoda A, równoważna z ISO 4967), UNI 3244:1980 (metoda M), EN 10247:2017 (metody P i M), SEP 1571:2017 (metody M i K), EN 10247:2007 (metody P i M, możliwe jako alternatywa dla EN10247:2017) | ■ |
| Cast Iron (Żeliwo) |
Na próbkach polerowanych: automatycznie mierzy charakterystykę zawartości grafitu (rozmiar, kształt i rozkład)
Na próbkach wytrawianych: mierzy stosunek ferrytu do perlitu Zintegrowana procedura uwzględniająca status próbki (wytrawiana lub polerowana) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (tylko ocena sferoidalności) | |
| Chart Comparison (Porównanie ze wzorcem) |
Wiele form prezentacji, w tym nakładanie na żywo
Interaktywne suwaki w oprogramowaniu Stream ułatwiają korzystanie z rozwiązania Obliczanie parametrów statystycznych na podstawie wybranych wartości | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945-1:2008, ASTM E 112: 2010, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998, ISO 4505:1978 | |
| Layer Thickness (Grubość warstwy) |
Granice warstw mogą być wyznaczane automatycznie, za pomocą „magicznej różdżki” lub w trybie ręcznym (na podstawie 2 lub 3 punktów).
Można później dodawać i usuwać poszczególne pomiary Możliwy jest pomiar warstw dowolnego rodzaju (z gładkimi lub nierównymi krawędziami). Funkcja pomiaru grubości warstw wyznacza wartość średnią, maksymalną i minimalną oraz parametry statystyczne poszczególnych warstw. | ||
| Coating Thickness (Grubość powłoki) |
Nadruki mierzone są w widoku z góry
Obliczanie grubości powłoki według geometrii próbki | EN 1071-2:2002, VDI 3824: 2001, ISO 26423:2016 | |
| Automatic Measurements (Pomiary automatyczne) |
Automatyczny pomiar odległości (punkt-punkt, punkt-linia, okrąg-okrąg, punkt-okrąg, linia-okrąg)
Automatyczny pomiar średnicy okręgu (okrągłość, prostokąt ograniczający) Automatyczny pomiar kątów między dwiema liniami Definiowanie wartości tolerancji na potrzeby pomiarów i weryfikacji wzrokowej Tryb eksperta i zwykłego użytkownika dla zapewnienia większej powtarzalności pomiarów | ■ | |
| Throwing Power (Wgłębność) |
Ręczny pomiar wybranego punktu zainteresowania w próbce
Predefiniowane punkty wybierane przez operatora Wybór typu przelotek i dokumentacja analizy Raportowanie i automatyczne obliczenia na podstawie pomiarów ręcznych | ||
| Porosity (Porowatość) |
Wykrywanie porów w obszarach zainteresowania (trójkąt, koło, prostokąt, wielokąt lub definiowany „magiczną różdżką”) z możliwością nakładania się obszarów
Pomiar gęstości, liczby i pola powierzchni porów Pomiar największego pora Pomiar określonego przedziału rozmiarów | VW 50093/ P6093:2012, | ■ |
| Particle Distribution (Rozkład cząstek) |
Cząstki definiuje się przy użyciu uproszczonych ustawień progu.
Automatyczna klasyfikacja na podstawie wybranego parametru (rozmiaru, koloru lub kształtu) Pomiar obszarów zainteresowania i wielu progów Definicja weryfikacji i kodowania zgodnie ze standardami zdefiniowanymi przez użytkownika | ■ | |
| Advanced Phase Analysis (Zaawansowana analiza faz) |
Ułamki faz w każdym z obszarów zainteresowania (trójkąt, koło, prostokąt lub wielokąt)
Do dyspozycji także: „magiczna różdżka”, polilinia dowolna, wielokąt interpolowany, filtr morfologii i operacje arytmetyczne na obrazie Pomiar całkowitego udziału procentowego faz z podziałem na fazy i obszary zainteresowania Możliwość określenia minimalnego wykrywanego pola powierzchni | ■ | |
*1 Opcja dostępna w pakiecie OLYMPUS Stream Motion i innych pakietach Stream z rozwiązaniem automatyzacyjnym
*2 Możliwe jest wygenerowanie tabeli oprogramowania Stream z rozkładem
Informacje dla klientów używających produktów z serii LEXT i DSX z oprogramowaniem OLYMPUS Stream
W przypadku niektórych kombinacji wersji oprogramowania istnieją pewne ograniczenia. Kliknij tutaj, aby uzyskać więcej informacji na ten temat.
