概述
Оптимизируйте рабочий процесс
Программное обеспечение OLYMPUS Stream предлагает интеллектуальные пошаговые рабочие процессы для получения четких изображений, выполнения количественных измерений и создания профессиональных отчетов в соответствии с актуальными стандартами. С помощью данного ПО оператор любого уровня подготовки способен выполнить сложный анализ изображения — от его получения до создания отчета о результатах.
Программное обеспечение отличается гибкостью и имеет все необходимые функции для проведения серий быстрых, точных наблюдений самых разных образцов, обеспечивая безопасность и надежность полученных данных. Операторы могут использовать программное обеспечение OLYMPUS Stream для самых разных задач, включая анализ качества, научные исследования, разработку технологического процесса и контроль качества.
Испытайте OLYMPUS Stream бесплатно в течение 30 дней.
Нажмите «Запросить демо-версию» и укажите в первом окне, что вам нужна 30-дневная лицензия.
Легкий в использовании интерфейс и пошаговые инструкции
Современные технологии для получения четких изображений
|
Экономия времени на повторных задачах
|
Разработано для оборудования Olympus
Беспрепятственная интеграция с оптическими микроскопами Olympus
|
Работает с большинством цифровых камер Olympus
|
Специальные методы наблюдения
|
Эффективное решение задач в области материаловедения
Передовые решения для визуализации
|
Решения для металлографии (металлургия и литейное производство)
|
Решения для обработки металлов (автомобильная промышленность и металлообрабатывающая отрасль)
|
Решения для электронной промышленности (электронные устройства/полупроводники)
|
Решения для поверхностных покрытий и тонкопленочных нанесений (лакокрасочная промышленность)
|
智能技术
Пошаговые инструкции
Динамический пользовательский интерфейс позволяет избежать перенасыщения экрана, отображая только необходимые инструменты и функции. Интерфейс дает пошаговые инструкции для прохождения всех этапов контроля, включая захват изображений, их обработку и создание отчета. Простые и сложные измерения легко выполняются с помощью интуитивно-понятных программных инструментов.
Простые экранные схемы
Программные схемы содержат все необходимые функции для выполнения стандартных задач. Упрощенные экранные схемы с пошаговыми инструкциями обеспечивают быстрый и эффективный контроль.
Получение изображения: захват изображения одним щелчком мыши
Инструменты для работы с динамическими изображениями
Оценка размера пор с помощью цифровой масштабной сетки в реальном времени (поперечное сечение отливки) | Программное обеспечение поддерживает функции по работе с динамическими изображениями для получения немедленного отклика. ПО позволяет пользователю контролировать динамическое изображение (автоматически калибруемое) и выполнять количественные измерения. |
Быстрое создание панорамных изображений и большая глубина резкости
Формирование изображений образцов, выходящих за пределы стандартной глубины резкости или поля зрения. Функция расширенного фокального изображения (EFI) использует точную настройку фокуса для совмещения нескольких изображений, полученных на разных z-уровнях, с целью получения единого и полностью сфокусированного изображения. Функция совмещение полиэкранного изображения (MIA) позволяет создавать панорамные изображения путем перемещения столика XY; моторизованный столик больше не требуется.
Мгновенное EFI-изображение кристалла: полностью сфокусированное изображение создается даже в областях образца с низкой контрастностью
Изображение монеты, полученное с помощью функции MIA
Вызов настроек сбора данных
Можно быстро вызывать ранее использованные настройки камеры для получения воспроизводимых изображений. При использовании моторизованного микроскопа, данная функция может автоматически вызывать предыдущие настройки оборудования. При использовании микроскопов серии BX, GX, или MX программное обеспечение дает пошаговые инструкции по вызову настроек вручную.
Этап работы | Оператор A | Оператор B |
Разные операторы используют разные настройки | ||
Быстрая проверка правильности настроек | ||
Синхронизация настроек наблюдения | ||
Настройки идентичны вне зависимости от оператора |
Решение 3D
3D-профилометрия следа износа | Данное решение создает карты высот из нескольких изображений, полученных автоматически или вручную на разных позициях по оси Z. Полученное в результате изображение можно визуализировать в трех измерениях, в режиме просмотра поверхности. Можно измерить 3D-профили и разность высот между двумя или несколькими точками, и экспортировать результаты в виде рабочих журналов и таблиц Microsoft Excel. |
Пошаговые инструкции при выполнении конкретных анализов
Программное обеспечение предоставляет правильный порядок необходимых функций при выполнении анализа изображений, включая выбор методов, которые соответствуют наиболее распространенным международным стандартам. При использовании моторизованного столика, функция совмещения ускоряет измерения, выполняемые в нескольких точках образца.
Автоматическая калибровка
Функция автоматической калибровки использует стандартный микрометр для калибровки микроскопа и автоматически создает отчет о калибровке. Это позволяет исключить вариации показаний пользователя в процессе калибровки для получения более надежных результатов измерений. |
Автоматизированные инструменты контроля
С помощью автоматизированных инструментов контроля можно всего за несколько минут создать широкий набор данных. Автоматическая калибровка увеличения (изображения) с использованием растровой решетки позволяет получать изображения «в правильном масштабе» и быть уверенным в надежности измерений. С помощью моторизованных столиков XYZ можно автоматически визуализировать большие области и создавать изображения крупных объектов в высоком разрешении.
Четкое высококонтрастное MIA-изображение интегральной схемы (ИС) (наблюдение в темном поле с объективом 20X)
Количественный анализ
Программные инструменты содержат количественную информацию об образце.
Интерактивные измерения динамических и статических изображений предоставляют
основную информацию о размерах образца (длина, площадь и диаметр); результаты
отображаются мгновенно.
Усовершенствованные интерактивные средства измерения включают: «волшебную
палочку» и сложные многоугольные фигуры для измерений в полуавтоматическом
режиме; а функция подсчета и измерения предоставляет доступ к более чем 100
параметрам одиночных частиц для количественного анализа на базе пороговой
методики.
Основные измерения (сверхпроводник) | «Волшебная палочка» (сверхпроводник) | Обнаружение объекта (сверхпроводник) |
Быстрое создание отчетов
Иногда на создание отчета уходит больше времени, чем на получение снимка и выполнение соответствующих измерений. С помощью данного программного обеспечения можно многократно создавать детальные и сложные отчеты на основе предустановленных шаблонов. Такие отчеты легко редактировать, а готовый документ можно экспортировать в Microsoft Word, Excel или PowerPoint. Кроме того, функция составления отчетов в ПО позволяет выполнять цифровое масштабирование и увеличивать полученные изображения. Размер файлов отчетов позволяет без особого труда отправлять их по электронной почте.
Профессиональный отчет со сводными данными по количеству частиц
您的系统
Персонализируйте программный пакет
Программное обеспечение OLYMPUS Stream™ – это мощный и простой в использовании инструмент измерения, специально разработанный для микроскопов Olympus. Нет необходимости вручную регистрировать оптические параметры объективов Olympus UIS2 при использовании с обычным микроскопом. Калибровка увеличения также не требуется при импорте изображений с микроскопов DSX и LEXT™. Программное обеспечение предлагается в разных пакетах: от базовой комплектации до более усовершенствованных версий.
Пакеты ПО OLYMPUS Stream
ПО OLYMPUS Stream доступно в четырех вариантах с разными наборами функций: Start, Basic, Essentials и Motion.
Для упрощения многоразовых процедур анализа в систему можно добавлять
программные модули для конкретных материалов. Представители компании Olympus помогут
вам определить наиболее подходящий для вас пакет ПО.
Полностью интегрируется с большинством оптических микроскопов Olympus
Прямые микроскопы
Система микроскопа BX53M и программного обеспечения | Микроскоп BX53M использует запрограммированные функции, которые интегрируют аппаратные настройки микроскопа в программное обеспечение OLYMPUS Stream. Метод наблюдения, интенсивность освещения и положение объектива записываются с помощью ПО и/или рукояток. Настройки микроскопа можно автоматически сохранять вместе с каждым изображением, чтобы позволяет воспроизводить настройки в дальнейшем и предоставляет документацию для отчетности. |
Инвертированные микроскопы
Система микроскопа GX53 и программного обеспечения |
Наши цифровые камеры обеспечивают получение изображений высокого качества и
быструю передачу изображений, в то время как наше программное обеспечение
предоставляет все необходимые инструменты для выполнения сложных процедур
металлографического контроля.
|
Микроскопы для контроля полупроводников
Интегрированный микроскоп и системное ПО | Мы предлагаем пользователям несколько программных платформ, которые интегрируются в раму микроскопа для управления всеми механическими функциями, включая цифровую камеру и столик с механическим приводом. Каждый интерфейс предназначен для базовых процедур контроля и управления, расширенного анализа изображений или многократного контроля рабочего места или анализа дефектов. |
Стереомикроскопы
Система микроскопа SZX16 и программного обеспечения | Наш стереомикроскоп оснащен моторизованным приводом фокусировки, который позволяет упростить и полностью автоматизировать процесс цифрового документирования с помощью расширенной фокальной визуализации (EFI). Вы даже можете создавать псевдо 3D-изображения. В программном обеспечении представлены инструменты для простых 2D-измерений и сложных процедур фазового анализа, а также поддержка большого количества процедур контроля, включая наблюдение, создание отчетов, создание баз данных и архивирование. |
Расширьте возможности конфокальных и цифровых микроскопов Olympus
Используйте программное обеспечение OLYMPUS Stream для постобработки (Stream Desktop) с полным спектром цифровых микроскопов серии DSX и измерительным лазерным 3D-микроскопом LEXT.
Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT | Цифровой микроскоп серии DSX |
Измерительный лазерный 3D-микроскоп LEXT
Цифровой микроскоп DSX
Поддержка большинства цифровых камер Olympus
Разрешение и точность цветопередачи
Изображения с низким уровнем шума и высоким разрешением, полученные с помощью 9-мегапиксельного датчика, позволяют при их увеличении рассмотреть структуру образца (песчаник) | Превосходное пространственное разрешение, а также большое количество пикселей, используют полную разрешающую способность объективов, отображая структуры и мельчайшие детали самых мелких образцов даже с объективами малого увеличения. Благодаря высокому разрешению изображений, пользователи могут проводить наблюдения исключительно на экране, без использования окуляров. |
Детальный обзор с помощью инфракрасного (ИК) освещения
Изображение в светлом поле, 5-кратное увеличение, полученное монохромной
камерой DP23M.
| Режим ИК-визуализации является неотъемлемым инструментом для проведения контроля качества и работы в научно-исследовательских лабораториях. ИК-режим позволяет выполнять неразрушающий контроль через слои силиконовой упаковки продукции на завершающем этапе производства. |
Специальные методы наблюдения для материаловедения
Визуализация в режиме HDR для улучшенного контраста
Изображения с расширенным динамическим диапазоном (HDR) отличаются усиленным контрастом в неблагоприятных условиях измерения (слишком высветленные зоны в сочетании с крайне затемненными). В данном режиме могут использоваться все камеры, поддерживаемые ПО OLYMPUS Stream; специализированные камеры имеют динамический режим.
Выравнивание контраста слишком высветленной и затемненной областей с помощью HDR (пример: баллон топливного инжектора) | Усиление контраста в режиме HDR (образец: срез магнезита) |
Наблюдение MIX для визуализации структуры поверхности образца
Программное обеспечение поддерживает функцию наблюдения MIX
Данная техника освещения сочетает метод направленного темного поля, в котором используется светодиодная лампа круговой подсветки для освещения одного или более квадрантов в определенный момент времени; и методы светлого поля, флуоресценция или поляризация, которые позволяют выделять дефекты и различать выпуклые поверхности от вогнутых, что обычно сложно сделать при использовании традиционных микроскопов. Методика MIX уменьшает ореолообразование вокруг образца и помогает рассмотреть текстуру поверхности.
Стандартный метод: светлое поле направляет свет прямо на образец, тогда как темное поле выделяет царапины и несовершенства на плоской поверхности путем освещения образца со стороны объектива. |
Усовершенствованный метод: метод MIX – это комбинация светлого поля и
направленного темного поля от кольца LED лампы; направление освещения
светодиодной лампы можно настроить
|
解决方案
Эффективное решение задач в области материаловедения
Часто к промышленным лабораториям предъявляются очень высокие требования — повторяемость и воспроизводимость результатов измерений. Программное обеспечение OLYMPUS Stream облегчает выполнение контроля и анализа с помощью простого и надежного рабочего процесса. Программное обеспечение предоставляет широкий спектр инструментов для анализа разного типа материалов, поэтому вы можете быть уверены в достоверности полученных результаты.
Промышленные микроскопы Olympus поддерживают анализ металлургических образцов
Подсчет и измерение
Функция подсчета и измерения в программном обеспечении использует пороговые методы для надежного отделения объектов (частиц, царапин) от фона. Оператору доступны более 50 различных параметров измерения и классификации объектов, включая форму, размер, положение и свойства пикселей.
Стандартное ПО | Микроструктура стали после травления | OLYMPUS Stream |
Результаты классификации зерен
Эффективный анализ
Пример настройки Macro Manager для подсчета и измерения | Пользователь может предварительно настроить параметры визуализации и измерения с помощью функции Macro Manager, а затем выполнить задачу одним щелчком мыши. |
Мощные фильтры изображений
Усиление контрастности с помощью фильтра DCE (дендрит в алюминиевой отливке) | Программное обеспечение оснащено множеством фильтров для распознавания контура, сглаживания и прочих целей. |
Технология глубокого обучения TruAI™
Сегментация изображения с использованием стандартных методов пороговой обработки, зависящих от яркости или цвета, может упустить важную информацию относительно образцов. Решение OLYMPUS Stream TruAI предоставляет более точный подход к сегментации с использованием технологии глубокого обучения для эффективного и надежного анализа.
- Интуитивно понятный пользовательский интерфейс для маркировки изображений и обучения надежных моделей с превосходными характеристиками
- Предварительно обученная сеть может быть применена к последующим анализам в аналогичных приложениях
- Сегментация изображений с глубоким обучением эффективна для ряда приложений в материаловедении, включая анализ металлов, контроль качества полупроводников и минералогию
Узнать больше о глубоком обучении TruAI
奥林巴斯Stream/PRECiV中褐煤灰飞灰原始图像(左),使用传统阈值处理方法进行图像分割(右)。
奥林巴斯Stream/PRECiV中褐煤灰飞灰原始图像(左),深度学习图像分割(右)。
Трехмерные измерения и линейные профили
Решение OLYMPUS Stream 3D дает возможность кодированного и моторизованного контроля положения камеры по оси Z и возможность мгновенного выполнения EFI с построением карты высот для измерения трехмерного объекта.
3D-вид поверхности (образец шероховатости поверхности) | Отдельный вид и измерение 3D профиля |
Решения для металлографии
Металлография используется в разработке новых сплавов, при входном контроле материалов, в ходе производственно-технологического контроля и анализа отказов.
|
Решения для обработки металлов (автомобильная промышленность и металлообрабатывающая отрасль)
Для производства деталей высокого качества в ходе процесса производства необходимо вести строгий контроль на предмет царапин, трещин, размеров пор и загрязнений.
|
Решения для электронной промышленности (электронные устройства/полупроводники)
Печатные платы требуют очень тонких покрытий. Проверка однородности таких покрытий — ключевой элемент качества изделия.
|
Решения для поверхностных покрытий и тонкопленочных нанесений (лакокрасочная промышленность)
Поверхностные покрытия представляют собой любые смеси пленкообразующих материалов, в состав которых входят пигменты, растворители и другие добавки, которые, после нанесения на поверхность и отверждения/высыхания, образуют тонкую пленку функционального, а зачастую и декоративного назначения.
|
Индивидуальные решения для рабочих процессов
Команда разработчиков Olympus разрабатывает персонализированные рабочие процессы в ПО OLYMPUS Stream для конкретных приложений. Работа ПО настраивается в соответствии с вашими требованиями, позволяя вам быстро решать задачи и достигать целей. Узнать больше об индивидуальных решениях для рабочих процессов |
Решения для любых задач материаловедения
Решения | Описание |
Пересечение межзеренных границ |
Сталелитейные предприятия используют данный метод для определения размера
зерна на поперечном сечении образца после шлифования и травления.
Данный метод основан на наложении «тестовых линий» и подсчете количества пересечений с границами зерен. |
Планиметрическая оценка зерен |
Сталелитейные предприятия используют данный метод для определения размера
зерна на поперечном сечении образца после шлифования и травления.
Данная функция позволяет воссоздать границы каждого зерна и измерить размер зерна с процентом площади второй фазы. |
Оценка неметаллических включений | На сталелитейных предприятиях этот метод используется для измерения и контроля формы и размера неметаллических включений (оксидов, глинозема, сульфидов или силикатов) в образцах стали. |
Анализ чугуна | Данное решение предназначено для производителей литых изделий, которые регулярно измеряют и контролируют степень шаровидности включений графита с целью проверки механических свойств отливок. |
Метод сравнения с эталонными шкалами | Динамическое или статическое изображение накладывается на эталонные шкалы для сравнения. Доступна функция предварительного просмотра. |
Измерение расстояния между осями дендритов | Данное решение используется для ручного или автоматического определения среднего расстояния между осями дендритов в литом алюминии. |
Толщина слоя | Данное решение позволяет измерить толщину одного или нескольких слоев образца в поперечном сечении. Определяется форма и автоматически измеряются слои. |
Толщина покрытия | Данное решение позволяет измерить толщину покрытия на базе изображений «вид сверху» по методу Calotest. |
Автоматические измерения | Данное решение используется для создания измерений путем обнаружения контуров на динамическом изображении с распознаванием образов. |
Рассеивающая способность | Определяет равномерность толщины медного покрытия в сквозных или переходных отверстиях. |
Пористость | Данное решение позволяет измерить пористость — долю площади поверхности занятой порами и количество пор — с использованием ROI (круглая, треугольная, прямоугольная, полигональная) и пороговых значений. |
Распределение частиц | Метод, основанный на построении гистограмм распределения размеров зерен на базе множественных изображений или серии изображений. |
Расширенный фазовый анализ | Данная функция представляет собой новое комплексное решение для фазового анализа различных областей интереса (ROI), включая треугольники, круги, прямоугольники и многогранники. |
Решения | Металлы/литье | Автомобилестроение | Стекло/керамика | Покрытие | Потребительские товары | Электронные устройства |
Пересечение межзеренных границ | ■ | ■ | ■ | |||
Планиметрическая оценка зерен | ■ | ■ | ■ | |||
Определение включений по наихудшему полю | ■ | ■ | ■ | |||
Анализ чугуна | ■ | ■ | ■ | |||
Метод сравнения с эталонными шкалами | ■ | ■ | ■ | |||
Толщина слоя | ■ | |||||
Толщина покрытия | ■ | |||||
Автоматические измерения | ■ | ■ | ||||
Рассеивающая способность | ■ | ■ | ||||
Пористость | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Распределение частиц | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Расширенный фазовый анализ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Решения |
Полу
проводники | Масла и жидкости |
Обработанные
детали |
Углерод/
Композиционные материалы |
Химия/
пластик/ резина |
Промышленные
научные исследования |
Пересечение межзеренных границ | ■ | ■ | ■ | |||
Планиметрическая оценка зерен | ■ | ■ | ■ | |||
Определение включений по наихудшему полю | ■ | ■ | ■ | |||
Анализ чугуна | ■ | ■ | ■ | |||
Метод сравнения с эталонными шкалами | ■ | ■ | ■ | |||
Толщина слоя | ■ | ■ | ||||
Толщина покрытия | ■ | |||||
Автоматические измерения | ||||||
Рассеивающая способность | ||||||
Пористость | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Распределение частиц | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Расширенный фазовый анализ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
技术参数
Характеристики лицензионных пакетов
■: Стандарт. □: Опцион. | Start | Basic | Essentials | Motion | Desktop | |
Получение изображений | Базовая функция получения изображения, включая HDR и автокалибровку увеличения, HDR в реальном времени* и навигацию положения*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Программный автофокус*2 и запись видео (в формате Avi) | ■ | ■ | ■ | |||
Замедленная съемка, мгновенный EFI и мгновенный/ручной MIA*3 | □ | ■ | ■ | |||
Моторизованный EFI/MIA и получение карты серии срезов по оси Z | □ | □ | ■ | |||
Инструменты изображения и настройки | Окна основных инструментов (история изображений, свойства, навигатор, обзор галереи)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Аннотации, управление слоями, масштабная линейка, перекрестие, информационная метка и фильтры изображения | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Цифровой растр/сетка, отображение профиля линии, Мои функции, управление экранными схемами и Диспетчер макросов | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
Измерения /Анализ изображений | Базовые интерактивные измерения (расстояние, углы, прямоугольники, круги, овалы, многогранники, расстояние от круга до круга, угломер и линейка) и экспорт данных в MS Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Фазовый анализ, волшебная палочка, рисование произвольной ломаной линии, интерполированные многоугольники, морфологический фильтр и арифметические расчеты изображения | □ | ■ | ■ | ■ | ||
3D измерения, измерения 3D профиля и 3D-вид поверхности | □ | □ | ■ | ■ | ||
Отчетность*5 | Создание отчетов (в форматах MS Word и MS Excel) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Создание презентаций | □ | □ | □ | □ | ||
Управление данными | Хранение документов Stream*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
База данных рабочей группы со структурированным форматом данных | □ | □ | □ | □ | ||
Поддержка устройств | Микроскопы Olympus*7 и камеры Olympus*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Камеры и конвертеры изображений сторонних производителей*9 | ■ | ■ | ■ | |||
Контроллеры столика сторонних производителей*9 | □ | □ | ■ |
Требования к ПК | |
ЦП | Intel® Core i5, Intel® core i7, Intel® Xeon |
RAM / Жесткий диск / DVD-дисковод | 4 ГБ или больше (рекомендуется 8 ГБ)/2,4 ГБ или больше свободного места на диске/совместимость с DVD+R DL |
ОС*10 | Windows 10 Pro (64-bit) , Windows 8.1 (64-bit) Pro |
.NET Framework | Версия 4.6.2 или более позд. |
Видеокарта*11 | Разрешение монитора 1280 x 1024 с видеокартой на 32 бита |
Веб-браузер | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 или 11 |
*1 требует использования камеры DP74, функция Live HDR требует использования 64-разрядной ОС.
*2 Требуется микроскоп Olympus с моторизованной осью Z или внешней моторизованной осью Z с OLYMPUS Stream Motion или решением автоматизации.
*3 Мгновенный MIA может не работать должным образом с некоторыми камерами.
*4 Запись и считывание основных форматов файлов и открытие собственных форматов Olympus (DSX, LEXT и POIR).
*5 Требуется предварительная установка Microsoft Word 2010, 2013, 2016, 2019 или Office 365 (не входит в комплект).
*6 Использование Microsoft SQL Server Express.
*7 Поддержка BX53M, BX2, IX2, GX, GX53, SZX, SZX2, SZX-ZE, MX, MX63, MX63L, MVX, STM7-CB, CBS, BX3M-CB, BX3M-CBFM, BX-REMCB.
*8 Поддержка LC20, LC30, LC35, DP22, DP23, DP27, DP28, DP73, DP74, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10, DP23M.
*9 Для получения дополнительной информации о поддерживаемых устройствах обращайтесь в компанию Olympus.
*10 Камеры Olympus работают со всеми поддерживаемыми операционными системами.
*11 Рекомендуемые конфигурации для Live HDR в DP74. Видеокарта NVIDIA, применимая для CUDA (версии 2.1 или выше). Драйвер видеокарты, применимый для версии CUDA 9.1 или более поздней.
Характеристики специализированных решений
Решения | Совместимость | Функции | |||
Basic | Essentials | Motion | Desktop | Тип измерения | |
3D | □ | □ | Включ. | Частично включ.* | 3D-вид поверхности, 3D измерение, измерение 3D профиля, серия срезов по оси Z/EFI, мгновенный EFI с картой высоты (требуется кодированная или моторизованная Z-ось). |
Автоматизация | □ | □ | Включ. | Решение автоматизации (моторизованный/ручной/мгновенный MIA, моторизованный/мгновенный EFI без составления карты высот (требуется кодированная и моторизованная ось XYZ) и с временным интервалом). | |
Измерение сварных швов | □ | □ | □ | □ | Решения для измерения сварных швов (измерения геометрических искажений, вызванных нагревом во время сварки). |
Подсчет и измерение | □ | □ | □ | □ |
Доступны множественные методики порога (автоматическая, ручной режим
цвета-насыщенности-значения HSV, ручной и адаптивный)
Система способна автоматически измерять многочисленные параметры всех сегментированных объектов (площадь, пропорции, бисектр, граничная рамка, центр тяжести, ИД, центр масс, значения интенсивности, выпуклость, диаметры, удлинение, диаметр Фере, протяженность, расстояние до следующего соседнего объекта, ориентация, периметр, радиус, форма, сферичность и т.п.) Сводные таблицы и карты с отдельными измерениями и измерениями распределения. |
Технология глубокого обучения TruAI™ | □ | □ | □ | Точная и автоматизированная сегментация изображений, включая сегментацию экземпляров |
* Невозможно использовать функции захвата изображений.
Решения, применяемые в материаловедении
Решения | Совместимость | Выход. | ||||
Basic | Essentials/ Motion | Desktop | Автоматическое создание отчетов | Рабочий журнал с отдельными измерениями | Сохранение всех результатов в свойствах изображения | |
Пересечение межзеренных границ | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Планиметрическая оценка зерен | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
Оценка неметаллических включений | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Анализ чугуна | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Метод сравнения с эталонными шкалами | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
Толщина слоя | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
Толщина покрытия | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Измерение расстояния между осями дендритов | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Автоматические измерения | □ | □ | ■ | |||
Рассеивающая способность | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
Пористость | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Распределение частиц | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Расширенный фазовый анализ | □ | Включ. | Включ. | ■ | ■ |
Решения | Функции | ||
Тип измерения | Поддерживаемые стандарты |
Различные положения столика*1 Выравнивание образца*1 | |
Пересечение межзеренных границ |
Выбор схемы (круги, перекрестие, перекрестие и круги, вертикальные линии,
горизонтальные линии, горизонтальные и вертикальные линии)
Определение числа тестовых линий для установления удлинения зерна Отображение G-величины в окне инструментов Material Solution | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
Планиметрическая оценка зерен |
Автоматическое выделение границ зерен
Ползунки Stream для удобства работы пользователя Отображение гистограммы G-величины в окне инструментов Material Solution и навигации положения*1 для непосредственного взаимодействия | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
Неметаллические включения |
Автоматическое обнаружение неметаллического включения с использованием
цвета, формы и размера
Автоматическая классификация оксидов, сульфидов, силикатов и алюминатов Худшее поле: По каждому полю будет измеряться худшее включение Отображение в реальном времени выбранного включения с его коэффициентом Среднее содержание: С помощью моторизованного столика сканируется весь образец По каждому полю проводится рейтинг включения Результат представлен в виде таблицы «количество полей для каждого уровня серьезности» | ASTM E45-18 (метод A), DIN 50602:1985 (метод M), ISO 4967:2013 (метод A), GB/T 10561-2005 (метод A, эквивалент. ISO 4967), JIS G 0555:2003 (метод A, эквивалент. ISO 4967), UNI 3244:1980 (метод M), EN 10247:2017 (методы P и M), SEP 1571:2017 (методы M и K), ASTM E45-18 (метод D), ISO 4967:2013 (метод B), EN10247:2017 (метод K). | ■ |
Анализ чугуна |
На шлифованных образцах: автоматически измеряет характеристики содержания
графита (размер, форму и распределение)
На протравленных образцах: измеряет соотношение феррита к перлиту Интегрированный рабочий процесс с учетом состояния образца (протравленный или шлифованный) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (только для определения степени шаровидности) | |
Метод сравнения с эталонными шкалами |
Различные схемы отображения, включая динамическое наложение
Ползунки Stream для удобства работы пользователя Вычисление статистики по выбранным значениям | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945-1:2008, ASTM E 112: 2010, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998, ISO 4505:1978 | |
Толщина слоя |
Границы слоев могут быть определены автоматически, с помощью «волшебной
палочки» или в ручном режиме (с использованием 2 или 3 точек).
Позднее можно добавить или удалить отдельные измерения Возможно измерение любого типа слоя (с четкими и нечеткими границами). Функция измерения толщины слоя вычисляет среднее, максимальное и минимальное значения, а также статистические данные для каждого отдельного слоя. | ||
Толщина покрытия |
Отпечатки измеряются с положения «вид сверху»
Расчет толщины покрытия в соответствии с геометрией образца | EN 1071-2:2002, VDI 3824: 2001, ISO 26423:2016 | |
Измерение расстояния между осями дендритов | Определение среднего расстояния между осями дендритов в отлитых алюминиевых сплавах | ||
Автоматические измерения |
Автоматическое измерение расстояний (от точки до точки, от точки до линии, от
круга до круга, от точки до круга, от линии до круга)
Автоматическое измерение диаметра круга (округленность, граничная рамка) Автоматическое измерение углов между двумя линиями Определение предельных значений для измерения и визуального подтверждения Режим Эксперт и режим пользователя для воспроизводимости измерений | ■ | |
Рассеивающая способность |
Ручное измерение в выбранной точке образца
Предустановленные точки, активируемые оператором Выбор типа отверстий и документации анализа Отчет и автоматические расчеты на основе ручных измерений | ||
Пористость |
Выявление пор по областям интереса (треугольник, круг, прямоугольник,
многоугольник или волшебная палочка) с возможностью наложения
Измерение плотности, количества и удельной площади пор Измерение самой большой поры Измерение указанного диапазона размеров | VW 50093/ P6093:2012, | ■ |
Распределение частиц |
Частицы определяются с использованием упрощенных пороговых настроек.
Автоматическая классификация согласно выбранному параметру (размер, цвет или форма) Измерение областей интереса и многочисленных пороговых значений Определение подтверждения и кодирования в соответствии с установленными пользователем стандартами | ■ | |
Расширенный фазовый анализ |
Фазовое разделение по областям интереса (треугольник, круг, прямоугольник или
многоугольник)
Волшебная палочка, рисование произвольной ломаной линии, интерполированные многоугольники, морфологический фильтр и арифметические расчеты изображения Измерение процентного отношения полной фазы для фазы и области интереса Выбираемая минимальная площадь обнаружения | ■ |
*1 Возможно с OLYMPUS Stream Motion и другими пакетами Stream с функцией автоматизации.
*2 Может быть выведена схема Stream с распределением.
Информация для пользователей, использующих LEXT и DSX с OLYMPUS Stream
Подтвердите здесь, если имеются ограничения в использовании комбинации версий ПО.