高性价比的Vanta Element手持式XRF系列迎来了新成员:S型号分析仪
马萨诸塞州,沃尔瑟姆 (2020年5月26日)— 高性价比的初级Vanta Element XRF分析仪家族迎来了新成员:Vanta Element-S手持式X射线荧光(XRF)分析仪。这款价格实惠的分析仪,可以快速探测出轻元素。S型号分析仪配备有硅漂移探测器(SDD),可以分析合金中的镁(Mg)、铝(铝)、硅(Si)、硫(S)和磷(P)等轻元素。
Vanta Element-S分析仪可以有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量,是完成废料回收、基本PMI(材料成分辨别)、金属制造和贵金属识别等应用的理想工具。分析仪在对样品检测了几秒钟之后,就可以在屏幕上提供清晰的牌号ID,以及镁、铝和硅等轻元素的比较信息。分析仪的SDD探测器可以区分相似的合金牌号,如:303和304不锈钢,6061和1100铝,以及6063和1100铝。
这款分析仪符合IP54评级标准,具有防尘和防潮的特性,而且通过了从1.2米(4英尺)高处坠落的测试(MIL-STD-810G),不会因偶尔掉落或推挤而损坏,因此非常坚固可靠,可以正常工作很长时间。其他保护性功能包括不锈钢面板和带有Kapton(聚酰亚胺)网格背衬的Prolene(聚丙烯纺织纤维)窗口,在野外更换窗口时,无需使用工具即可轻松揭下旧窗口,贴上新窗口。分析仪可以在–10 °C到45 °C的温度范围内持续运行。
Vanta Element-S型号分析仪具有使Vanta系列分析仪声名远扬的基本特性:检测迅速,结果可靠,坚固耐用,连通性好,而且其操作便捷性堪比智能手机。这款分析仪轻盈小巧,仅重1.32公斤,可以迎接对合金和金属进行全天持续检测的挑战。Vanta Element-S型号分析仪由奥林巴斯成熟的Axon技术驱动,具有与Vanta系列其他分析仪相同的高计数率和稳定性,可使用户迅速获得检测结果和投资回报。
可选配的无线连通性能有助于分析仪面向未来,适应工业4.0的变革。 这个连通性能可使分析仪连接奥林巴斯科学云系统,进行无线数据共享,并访问便捷的多设备管理工具、奥林巴斯链接移动应用程序或用户的网络。 分析仪还提供1个用于存储检测结果的1 GB容量的microSD卡,以及两个便于导出数据的USB端口。为了提高操作的灵活性,Vanta Element-S分析仪可与多种配件相兼容,其中包括Vanta野外台座、土壤支架、探头护罩和机套。
要了解有关Vanta Element-S XRF分析仪或者奥林巴斯其他工业解决方案的更详细信息,请访问我们的网站:Olympus-IMS.com。
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